Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты) Советский патент 1983 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU1006992A1

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при дефектоскопии материалов и изделий вихретоковым методом. Известны имитаторы для вихретоковых дефектоскопов, выполненные из основания в виде сыпучей массы из электропроводного материала и размещенного в нем искусственного дефекта из непроводящего материала t Эти материалы позволяют получат подповерхностные дефекты различного типа, однако они сложны в изготовле нии, особенно дефекты постоянных размеров с переменной глубиной залэгания. Известны имитаторы для вихретоковых дефектоскопов, содержащие электропроводное основание из сплава Вуда и размещенный в нем искусственный дефект в виде пластины из непроводящего материала 2. . Однако они имеют большую трудоемкость изготовления дефектов с переменной глубиной залегания, поскол ку на каждую глубину залегания требуется отдельный имитатор. Кроме того, имитатор имеет при этом низкую точность, поскольку труднр выполнить искусственные дефекты постоянных размеров (особенно малых) на различных глубинах залегания. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и дрстигаемому результату является настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов , содержащий многослойное электропроводное основание с ис кусственными дефектами в среднем слое 3 . Этот имитатор также сложен при изготовлении дефектов с переменной глубиной залегания, поскольку основание необходимо изготавливать из большого числа слоев с искусственны дефектом постоянных размеров в каждом. Кроме того, имитатор не позволяет изготавливать дефекты с плавно изменяющейся глубиной залегания. Имитатор имеет большую трудоемкость изготовления, поскольку на каждый типоразмер дефекта требуется отдельный имитатор. Цель изобретения - упрощение тех нологии изготовления в листовых материалах дефектов с переменной глубиной залегания, снижение трудоемкости изготовления искусственных дефектов типа трещин переменной глу бины и получение трещин с постоянным углом раскрытия. Указанная цель достигается тем, что в. настроечном имитаторе для вихретоковых дефектоскопов, содержащем многослойное электропроводное основание с искусственными дефектами в среднем слое, наружные слои выполнены с переменной толщиной в виде клиньев, имеющих одинаковый угол подъема, и установлены наружными плоскостями параллельно между собой, средний слой выполнен в виде плоской пластины. По второму варианту в настроечном имитаторе для вихретоковых дефектоскопов, содержащем многослойное электропроводное основание с искусственными дефектами в среднем слое, последний выполнен в виде колец различного диаметра, установленных соосно одно в другом так, что плоское ти торцов колец совпадают между собой, и по крайней мере одна из них образует с осью колец угол 85-90°. Причем боковая поверхность одного из колец, обргиценная к другому коль-цу, выполнена конусной. На фиг.1 показан предлагаемый ими;татор, общий вид; на фиг.2 - сечение А-А на фиг.1; на фиг.З - имита тор трещин с плавно изменяющейся глубиной залегания. Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов содержит многослойное электропроводное основа.ние с искусственными дефектами 1 в среднем слое, наружные слои 2 и 3 выполнены с переменной толщиной в виде клиньев, имеющих одинаковый угол подъема ot, и установлены наг ружными плоскостями параллельно между собой, средний слой 4 выполнен в виде плоской пластины. Вихретоковый преобразователь 5 расположен вблизи дефекта с возможностью перемещения. Средний слой 4 соединен с наружными слоями 2 и 3 с помощью пайки. Имитатор по второму варианту содержит многослойное электропроводное основание с искусственным дефектом типа трещины б переменной глубины, средний слой выполнен в виде колец 7 и-8 различного диаметра, установленных соосно одно в другом так, что плоскости торцов колец 7 и 8 совпадают между собой, и по крайней мере одна из них образует с осью Z колец угол (Ъ 85-90°, а боковая поверхность одного из колец 8 выполнена конусной. Кольца 7 и 8 соединяются с внешними слоями 9 и 10 электропроводного основания с помощью пайки. При работе с имитатором (фиг.1 и 2) перемещают вихретоковый преобразователь зоне дефекта 1. При работе с имитатором по второму варианту вихретоковый преобразователь 11 для изменения глубины трещины 6 от максимального до минимального значений перемещают по окружности относительно оси колец 7.

Имитатор для вихретоковых дефектоскопов (фгиг.) позволяет упростить технологию изготовления дефектов с переменной глубиной залегания, прост в изготовлении и имеет широкие функциональные возможности.

Имитатор по второму варианту позволяет снизить трудоемкость изготовления дефектов типа трещин с плавно изменяющейся глубиной и постоянным углом раскрытия, прост в изготовлении, заменяетцелый комплект имитаторов известиой конструкции.

Похожие патенты SU1006992A1

название год авторы номер документа
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926584A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926585A1
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926586A1
Имитатор настроечный для вихретоковых приборов 1974
  • Косовский Давид Израильевич
  • Курозаев Виктор Павлович
  • Шкарлет Юрий Михайлович
SU526817A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем 1974
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
SU530239A1
Образец с имитатором подповерхностного дефекта для вихретокового дефектоскопа с накладным преобразователем 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Шишкарев Александр Анатольевич
SU1439480A1
УНИВЕРСАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2004
  • Толмачев Игорь Иванович
  • Прошутина Ростислава Вячеславовна
RU2273848C1
Имитатор воздействия подповерхностных дефектов для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями 1988
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шишкарев Александр Анатольевич
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Палеес Евгений Эммануилович
SU1619151A1
Устройство для вихретоковой де-фЕКТОСКОпии 1979
  • Никульшин Виктор Сергеевич
SU824021A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 006 992 A1

Реферат патента 1983 года Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты)

1. Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов, содержащий многослойное электропроводное основание с искусст&енньми дефектами в среднем слое, отличающийся тем, что, с целью улучшения технологии изготовления в материалах дефектов с У 4f переменной глубинойзалегания, наружные слои выполнены с переменной толщиной в виде клиньев, имеющих одина1$овый угол подъема, и установлены наружными плоскостями параллельно между собой, средний слой выполнен в виде плоской пластины. 2.Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов, содержащий многослойное электропроводное основание с искусственными дефектами в среднем слое, отличающ и и с я тем. Что, с целью снижения трудоемкости изготовления искусственных дефектов типа трещин переменной глубины, средний.слой выполнен в виде колец различного диаметра. Установленных соосно одно в (Л С другом так, что плоскости торцов колец совпадают между собой и по крайней мере одна из них образует с осью колец угол 85-90. 3.Имитатор по п.2, о тл ичаю щ и и с я тем, что, с целью получения трещин с постоянным углом раскрытия, боковая поверхность одного из колец, обращенная к другому кольцу, выполнена конусной. а со со to 4- 4

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1983 года SU1006992A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Моделирующее устройство для исследования электромагнитных полей 1974
  • Денискин Валентин Петрович
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
SU541181A1
кл
Приспособление для точного наложения листов бумаги при снятии оттисков 1922
  • Асафов Н.И.
SU6A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Нераэрушающий контроль материалов и изделий Справочник
Под
Самойлов ича Г
С., М., Машиностроение , 1976, с.252
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 006 992 A1

Авторы

Вяхорев Виктор Григорьевич

Никульшин Виктор Сергеевич

Олейников Петр Петрович

Даты

1983-03-23Публикация

1981-05-08Подача