Имитатор для настройки дефектоскопов Советский патент 1982 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU926585A1

I

Изобрет-ение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение при дефектоскопии материалов и изделий методом вихревых токов.

Известен имитатор для настройки дефектоскопов, состоящий из элект.ропроводного основания и искусственного дефекта в виде углубления в тело основания ГП.

Этот имитатор труден в изготовлении, имеет плохую воспроизводимость и пра(тически не позволяет имитировать подповерхностные дефекты. J Наиболее близким по технической сущности .к изобретению является имитатор для настройки дефектоскопов, содержащий цилиндрическое основание с искусственным дефектом и электропроводный экран, установленный на основании. Экран выполнен в виде цилиндрической втулки t2.

Имитатор,сложен при изготовлении искусственных дефектов с переменной

глубиной залегания, поскольку основание необходимо изготавливать из большого числа слоев с искусственным дефектом постоянных размеров в каждом слое, что снижает точность и увеличивает трудоемкость изготовления имитатора.

Цель изобретения - повышение точности изготовления подповерхностных дефектов с переменной глубиной залегания, а также упрощение технологии изготовления.

Указанная цель достигается тем, что в имитаторе для настройки дефектоскопов, содержащем цилиндрическое основание -с искусственными.дефек тами и электропроводный экран, установленный на основании, экран выполнен в виде эксцентричной втулки, установленной с возможностью фиксированного поворота вокруг своей оси, а имитатор снабжен указателем угла поворота экрана относительно основания. 3 Основание может быть выполнено из непроводящего материала, а искусственный дефект - в виде твердого тела из электропроводящего и/или магнитного материала и жестко скреп лен с основанием. На фиг.1 -показан имитатор, в котором основание выполнено в виде .. стержня и размещено внутри экрана (основание и экран выполнены из материала с равной электропроводностью), на фиг. 2 - имитатор, в кото ром основание выполнено с виде трубы из электропроводного материала, охватывающей экран на фиг. 3 - ими татор, в котором основание выполнено в виде стержня из непроводящего материала, а дефект - в виде тела из электропроводного и/или магнитно го материала. . Имитатор содержит основание 1 с искусственным дефектом 2, электропроводящий экран 3, установленный на основании, шкалу толщины экрана, указатель 5 фиксатор 6, торцовые ограничительные элементы 7, при крепленные к основанию. Изготавливают имитатор следующим образом. В основании 1 изготавливают искусственные дефекты 2 в виде углуб.лений требуемых размеров и формы, или в виде тела из электропроводного и/или магнитного материала. На одном основании может быть выполнено несколько различных дефектов, расстояние между которыми должно быть больше зоны чувствительности электромагнитного преобразователя, используемого в дефектоскопе. Измерительным п)ибором, например микр скопом, измеряют размеры дефектов, затем измеряют толщину стенки экрана 3 в различных точках и градуируют шкалу k, которую крепят к основа нию 1. Устанавливают основание 1 и экран 3 одно в другое и крепят их с помощью торцовых элементов 7. обе печивая при этом вращение экрана 3 вокруг своей оси. На экране 3 по числу дефектов устанавливают указате ли 5 которые по шкале Ц показывают глубину залегания дефекта. Фиксатор обеспечивает жесткое крепление экрана 3 к основанию 1 в требуемом по жении. С имитатором работают следующим образом. Выполнение в имитаторе экрана в виде поворачиваемой эксцентричной втулки позволяет при вращении ее вокруг оси изменять глубину залегания искусственного дефекта, выполненного в основании. При вращении экрана 3 по шкале i| с помощью указателя 5 устанавливается требуемая толщина стенки экрана 3 над искусствентным дефектом 2, и фиксатором 6 жестко фиксируется положение экрана 3 относительно основания 1. При настройке дефектоскопа его электромагнитный преобразователь 8 устанавливается над искусственным дефектом 2. Предлагаемый имитатор прост в изготовлении, обладает хорошей воспроизводимостью, позволяет имитировать дефекты с переменной глубиной залегания на наружной и внутренней поверхности труб, прутков, листов и др. формула изобретения 1.Имитатор для. настройки дефектоскопов, содержащий цилиндрическое основание с искусственным дефектом и электропроводный Э1$ран, установленный на основании, отличающ и и с- я тем, что, с целью повыения точности изготовления подповерхностных дефектов с переменной глубиной залегания, экран выполнен в виде эксцентричной втулки, установленной с возможностью фиксированного поворота вокруг двоей оси, а имитатор снабжен указателем угла поворота экрана относительно основания. 2.Имитатор по п. 1, отличающий с я тем, что, с целью упрощения технологии изготовления, основание выполнено из непроводящего материала, а искусственный дефект в виде твердого тела из электропроводного и/или магнитного материала и жестко скреплен с основанием. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 18292 1, кл. G 01 N 27/82, 19б5. 2.Авторское свидетельство СССР № 739391, кл. G Ot N 27/86, 1978 (прототип).

Похожие патенты SU926585A1

название год авторы номер документа
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926584A1
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926586A1
Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты) 1981
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU1006992A1
УНИВЕРСАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2004
  • Толмачев Игорь Иванович
  • Прошутина Ростислава Вячеславовна
RU2273848C1
Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Давыдов Николай Владимирович
SU1578626A1
Способ изготовления эталонных образцов для дефектоскопии 1989
  • Кудрявцев Сергей Иванович
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Троицкий Владимир Александрович
  • Кривасов Александр Константинович
  • Терещенко Николай Федорович
SU1705730A1
Имитатор дефектов 1984
  • Демидов Михаил Владимирович
SU1191813A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем 1974
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
SU530239A1
Образец с имитатором подповерхностного дефекта для вихретокового дефектоскопа с накладным преобразователем 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Шишкарев Александр Анатольевич
SU1439480A1

Иллюстрации к изобретению SU 926 585 A1

Реферат патента 1982 года Имитатор для настройки дефектоскопов

Формула изобретения SU 926 585 A1

SU 926 585 A1

Авторы

Вяхорев Виктор Григорьевич

Никульшин Виктор Сергеевич

Олейников Петр Петрович

Даты

1982-05-07Публикация

1980-09-15Подача