Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем Советский патент 1976 года по МПК G01N27/82 

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при дефектоскопии материалов и изделий вихретоковым методом.

Известны испытательные образцы для на- 5 стройки вахретоковых дефектоскопов, содержа аше бездесректкое злектропроводящее изделие (или его имитатор), в котором выполнен искусственный дефект в виде углубления заданных размеров и формы в теле изделия. Q

Известные образцы сложны в изготовлении и имеют плохую воспроизводимость, поскольку трудно выполнить в теле изделия угл бление заданных малых размеров и фор- |5 мы.

Известен также образец, состоящий из элзктропровояящего основания и механически соединенного с ним имитатора дефекта, вьгполненкого в виде твердого тела из элек- 20 тропровоцящего к/кпк магнитного материала.

Этот образец также сложен в изготовления, поскольку предъявляются высокие требо-. ваккй к: постояксгву удельной электркческоЁ проводЕмостй, размерам к форме основания 25

и к отсутстл«:,ию В нем естественных дефектов (раковин, трещин, пор, включений).

Последний аналог является ближайшим по техническому существу к данному изобретению.

Упрощение технологии изготовления испытательного образца для дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразжателем достигается тем, чго основание выполнено из немагнитного диэлектрика.

На чертеже показана конструкция испытательного образца для дефектос;копа с проходным дифференциальным первичным преобразователем.

Испытате-льный образец содержит основание, выполненное из стержней 1 и 2, имеющих между собой резьбовое соединение, и имитатор 3 дефекта, расположенный между стержнями. Основание выполнено из механически прочного немагнитного диэлектрика, например текстолита. Форма и размеры оснсжанйя выбираются такими, чтобы осуществлялось сканирование по его поверх- нсх:тн первичным пре эбрааова-телем дефектоскопа. Имитатор дефекта может быть вы-

а

полней в виде твердого тела из различных материалов, взаимодействующих с элекгромагнитным полем: меди, латуни, феррита и др. Механическое соединение имитатора 3 дефекта с основанием может осуществляться различным образом: с помощыо клея, резьбового соединения и т.д.

Изготавливают предлагаемый испытательный образец следующим образом.

Из механически прочного немагнитного диэлектрика изготавливают основание, свободно проходящее через проходное отверстж первичного преобразователя. Затем выбирают материал, форму и размеры имитатора дефекта, прикрепляют его к основанию и снимают изменение выходного напряжения преобразователя дефектоскопа при прохохщении через него испытательного образца. Послез этого, изменяя материал, размеры и форму имитатора дефекта, добиваются того, чтобы изменение выходного нaпpяжeнvIя преобразователя дефектоскопа было бы идентичным при прохождении через него предлагаемого испытательного образца и образца с дефектом в зкде углубления в теле изделия. Затем уточняют размеры кмигаторе дефекта выполненного в в-щ1е твердого тела, и изготавливают всю партню испытательных обpaauoBj при этом легко ДЭстигается иденTiTiHOcrb всей партии,

Поедлагаемый испытательный образец прост в изготовлении, имеет хорошу:о воспроизводимость к повышенную механическую стойкость, особенно по срз:внаЕШо с образцами, изготовленными кз твердых и хрупких мел-ериалов, например карбидов.

Формула изобретения

Испь5та1-ельный образец для вихретоковсго дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем, содерухашйй основание и соединенный с Hi-nvf имитатор дефекта, выполненный в виде твердого тела из эпектропооводящего и/или магнитного материала, отличающийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления, основание выпапнено из немагнитного диэлектрика.