Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Советский патент 1982 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU926584A1

(5k} ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ

Похожие патенты SU926584A1

название год авторы номер документа
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926586A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926585A1
Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты) 1981
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU1006992A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
Имитатор дефектов 1980
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Жукова Галина Андреевна
  • Абрамов Валентин Валентинович
  • Щербинин Виталий Евгеньевич
  • Рябочко Иосиф Михайлович
SU911309A1
Имитатор дефектов 1984
  • Демидов Михаил Владимирович
SU1191813A1
Калибровочный вибростенд 1991
  • Метелев Леонид Дмитриевич
  • Квашин Михаил Федорович
  • Цыбулько Вадим Иосифович
  • Афанасьев Виктор Сергеевич
  • Литовка Лидия Михайловна
SU1825959A1
Испытательный образец для вихретокового дефектоскопа с дифференциальным первичным преобразователем 1974
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
SU530239A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ НАСТОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ 2012
  • Иванов Эдуард Петрович
  • Источинский Данила Андреевич
  • Охотин Игорь Петрович
RU2538053C2
Способ изготовления эталонных образцов для дефектоскопии 1989
  • Кудрявцев Сергей Иванович
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Троицкий Владимир Александрович
  • Кривасов Александр Константинович
  • Терещенко Николай Федорович
SU1705730A1

Иллюстрации к изобретению SU 926 584 A1

Реферат патента 1982 года Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

Формула изобретения SU 926 584 A1

Изобретение относится к контрольн измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии мате Iриалов и изделий методом вихревых токов. Известен имитатор для настройки дефектоскопов, состоящий из электропроводного основания и искусственного дефекта в виде твердого тела из электропроводного материала, прикреп ленного к поверхности основания 11. Функциональные возможности имитатора ограничены, поскольку он практически не позволяет имитировать под поверхностные трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов,. состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и кус ста ей но го дефекта, выполненного по коайней мере в одном из слоев в виде сквоз- v ной, прорези Г2. Недостатком имитатора является то, что при изготовлении трещин переменной глубины необходимо изготавливать искусственную трещину в нескольких слоях и жестко фиксировать слои одни относительно других, образуя одну трещину. Цель изобретения. - снижение трудо-f емкости изготовления искусственных дефектов типа трещин переменной глубины и ширины раскрытия. Поставленная цель достигается за счет того, что в имитаторе для настройки электромагнитных дефектоскопов, состоящем из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок. Для получения трещин переменной глубины втулки выполняются эксцентричными, а искусственный дефект выполняется в виде шайбы из непровод щего материала, размещенной между торцами втулок. При этом для получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из торцов втулки может быть выполне в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси втулки, или в виде внутренн1его конуса с вершиной, лёжа щей на оси наружного цилиндра втулки Для получения трещин с переменно шириной раскрытия вт.улки выполнены цилиндрическими и соприкасающимися в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к друг втулке, образует с осью втулки равный 88-89,8. Основание и втулки в имитаторе могут быть выполнены из материалов с различной электропроводностью. . Имитатор может быть выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта. На фиг. 1 показан имитатор, в ко тором основание выполнено в виде электропроводного стержня, размещен ного внутри эксцентричных втулок; на фиг. 2 сечение А-А на фиг. 1; на фиг 3 имитатор, в котором основание выполнено в виде трубы) кото|: ая охватывает эксцентричные вт ки- на фиг. и 5 - то же, основания выполнены в. виде двух слоев, между которыми.размещены эксцентрич ные втулкиV на фиг, 6 и 7 то же, торцы эксцентричных втулок выполнен в виде внешних конусов с вершинами, лежащими на осях отверстий втулок; на фиг. 8 и 9 то же, торцы эксцен ричных втулок выполнены в виде внут ренних конусов с вершинами, лежащими на осях наружных поверхностей втулок на фиг. 10 - то же, основание выполнено в виде стержня из непроводящего материала и размещено внутри цилиндрических втулок-; на фиг. 11 - то же, .основание выполнено в виде стержня из электропроводного материала и размещено внутри цилиндрических втулою, на фиг. 12то же, основание выполнено в виде трубы из электропроводного материала и размещено внутри цилиндрических втулок ,- на фиг. 13 - то же, осн вание выполнено в виде трубы из про водящего материала, охватывающей цилиндрические втулки; на фиг. It то же, основание выполнено в виде трубы Из непроводящего материала, охватывающей цилиндрические втулки. Имитатор содержит электропроводные втулки 1 и 2 основание 3.искусственный дефект Ц, шкалу 5 параметра дефекта (глубина или ширина трещины) ,элементы 6 крепления втулок и бинты 7. В вариантах имитатора, представленных на фиг. и 5, основание 3 имитатора выполнено из двух слоев. Имитатор дефектов типа трещин переменной глубины изготавливают следующим образом. Измерительным прибором, например микроскопом, измеряют толщину стенок втулок 1 и 2 в различных точках по окружности и градуируют шк%лу 5- После этого между втулками 1 и 2 устанавливают искусственный дефект-шайбу , и собирают имитатор, для чего втулки с помощью элементов 6 и винтов 7 крепят к основанию 3 при этом втулки поджимают одну к другой. Имитатор дефектоб типа трещин с переменной шириной раскрытия изготавливают следующим образом. Втулки 1 и 2 поджимают одну к другой с помощью элементов 6 и винтов 7. Затем измерительным прибором, например микроскопом, измеряют ширину трещины в различных точках и градуируют шкалу 5. С имитатором работают следующим образом. Электромагнитный преобразователь 8 дефектоскопа устанавливают над трещиной. Снимают показания дефектоскопа и сравнивают их с его градуировкой. Затем осуществляют настройку дефектоскопа, добиваясь показания его индикатора, соответствующего делению. шкалы 5 параметра дефекта имитатора. Аналогичным образом проводится поверка дефектоскопа по всем величинам исследуемого параметра дефекта. Предлагаемый имитатор прост визготовлении, обладает хорошей воспроизводимостью, позволяет имитировать трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия различного типа (поверхностные, подповерхностные, внутренние) . Целесообразно;использовать имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, предназначенных для контроля труб, прутков, листов и др. Формула изобретения 1.Имитатор для настройки электр : магнитных дефектоскопов, состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, о тличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости изготов ления искусственных дефектов типа трещин, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок. 2.Имитатор поп,1, отлича ющийся тем, что, с целью получения трещины переменной глубины, втулки выполнены эксцентричными, а искусственный дефект выполнен в вид шайбы из непроводящего материала, ра мещенной между торцами втулок. 3.Имитатор по пп. 1 и 2, о тличающийся тем, что, с целью получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из тОрцов втулки выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси отверстия втулки. it. Имитатор по пп. 1 и 2, отличающийся тем, что один из торцбв втулки выполнен в виде внутреннего конуса с вершиной, лежащей на оси наружного цилиндра втулки. 5.Имитатор по П.1, отличающийся тем, что, с целью получения трещин с переменной шириной раскрытия, втулки выполнены цилиндрическими и соприкасающимися в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-891в ., 6.Имитатор по пп.1-5 от л ичающийся тем, что основание и втулки выполнены из материалов с различной электропроводностью. 7- Имитатор по пп. 1-6, о т л ичающийся тем, что он выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство № 526652, кл. G 01 N 27/86, 197. 2.Авторское свидетельство СССР № 739391, кл. G 01 N 27/86, 1978 (прототип).

tf.J

.

Фиг.5

Фиг. 7

92658

,/

f

в

//7/Z/A

Фиг.9

s г

3

Й

vOC

Фиг. to

-V

Фиг. //

ui

SU 926 584 A1

Авторы

Вяхорев Виктор Григорьевич

Никульшин Виктор Сергеевич

Олейников Петр Петрович

Даты

1982-05-07Публикация

1980-09-15Подача