Способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля Советский патент 1983 года по МПК G01N27/90 G01R33/00 

Описание патента на изобретение SU1029070A1

Изобретение относится к неразруша ющему контролю и может быть использовайо для метрологического обеспечения средств импульсного магнитног контроля. Известен способ калибровки , дефектоскопа, заключающийся в том, что модулируют частоту автогенератора и по соотношению фаз огибающей и модули рующего сигнала определ5Йот состояни дефектоскопа. Недостатком известного способа является невозможность калибровки и поверки всего дефектоскопа, включа первичный блок намагничивания и считьюания. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является спо соб калибровки и поверки импульсньгх устройств для магнитного контроля, заключающийся в том, что измеряют амплитуду и длительность намагничивающих импульсов устройства, имитируют поле остаточной намагниченност магнитных меток на контролируемом объекте с помощью меры градиента ма нитного поля с однородным градиентом и измеряют воздействие этого поля на первичный измерительный преобразователь устройства. Однако этот способ не обладает не обходимой точностью калибровки и поверки, так как не позволяет воспроиз водить форму магнитного пятна, наносимого на контролируемый объект и учесть влияние скорости сканирования поверхности этого объекта. Цель изобретения -i повьшение точности калибровки и поверки. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля, заключающемуся в том, что измеряют амплитуду и дли.тельность намагничивающих импульсов устройства, имитируют поле остаточной намагниченности магнитных меток на контролируемом объекте полем меры и измеряют воздействие этого поля на первичньй измерительный преобразователь устройства, в качестве поля меры используют два импульсных магнитных поля, направленных . вдоль общей оси симметрии навстречу друг другу и калиброванных по амплитуде и длительности, частоту этих импульсных полей выбирают равной час тоте намагничивающих импульсов, а .выбирают из услоих длительность где & - протяженность магнитного пятна при намагничивании в статикескорость контролируемого объ/длительность намагничивающих импульсов. Кроме того, измеряют амплитуду калиброванных импульсов магнитного поля и повторяют процесс калибровки. На чертеже изображена функциональная схема устройства, реагшзующая предлагаемый способ. Устройство для калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля содержит калиброванную индукционную катушку 1, импульсный вольтметр 2, измеритель 3 длительности импульсов, расположенный вдоль общей оси симметрии, две меры 4 и 5 градиента магнитного поля, подключенных к генератору 6 калиброванньгх по амплитуде и длительности импульсов. Выход индукционной 1 подсоединен к входу ш пульсного вольтметра 2, измерителя 3 длительности импульсов и входу генератора 6 калиброванных импульсов, вьгход которого подключен к мерам 4 и 5 градиента магнитного поля. Способ осуществляют следующим образом. Вставляют одну из намагниченных катушек средства импульсного магнитного контроля в калиброванную индукционную катушку 1 и измеряют амплитуду намагничивающих импульсов I-JMпульсным вольтметром 2, а их длительность определяют измерителем 3 длительности импульсов. Обе измеренные величины должны соответствовать записанным в паспорте поверяемого средства контроля, так как Зти параметры влияют на величину и форму магнитных меток, наносимых на контролируемый материал. Устанавливают магниточзшствительные элементы средства контроля, обеспечивая их взаимодействие с двумя мерами 4 -и 5 градиента магнитного поля. Генератор 6 калиброванных импульсов формирует импульсы установленной амплитуды и длительности с частотой.

Похожие патенты SU1029070A1

название год авторы номер документа
Способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля 1991
  • Матюк Владимир Федорович
  • Цукерман Валерий Лазаревич
SU1778672A1
Устройство для измерения параметровфЕРРОМАгНиТНыХ МАТЕРиАлОВ 1979
  • Плахотнюк Александр Николаевич
  • Возмитель Вячеслав Михайлович
  • Курилов Владимир Павлович
SU822099A1
Способ селективного контроля глубины и качества поверхностного упрочнения изделий из ферромагнитных материалов 2022
  • Костин Владимир Николаевич
  • Василенко Ольга Николаевна
  • Бызов Александр Викторович
  • Ксенофонтов Данила Григорьевич
RU2782884C1
СПОСОБ ИМПУЛЬСНОГО МАГНИТНОГО КОНТРОЛЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ОТПУСКА ИЗДЕЛИЙ ИЗ СРЕДНЕУГЛЕРОДИСТЫХ СТАЛЕЙ 2008
  • Матюк Владимир Федорович
  • Бурак Вероника Анатольевна
  • Делендик Михаил Николаевич
RU2376592C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2017
  • Марков Анатолий Аркадиевич
RU2661312C1
СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2014
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Николаев Юрий Львович
  • Чернова Александра Валентиновна
  • Юрченко Павел Владимирович
RU2566418C1
Имитатор градиента магнитного поля для поверки средств магнитного контроля листовых ферромагнитных материалов 1991
  • Матюк Владимир Федорович
  • Цукерман Валерий Лазаревич
SU1824601A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТНО-УПРОЧНЕННОГО СЛОЯ ИЗДЕЛИЙ ИЗ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ 2006
  • Матюк Владимир Федорович
  • Мельгуй Михаил Александрович
  • Пинчуков Дмитрий Анатольевич
RU2330275C1
Устройство для контроля механических свойств ферромагнитных изделий 1986
  • Вальд Александр Александрович
SU1401364A2
МАГНИТОМЕТР ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИЙ 2000
  • Бакунов А.С.
  • Курозаев В.П.
  • Мужицкий В.Ф.
  • Самокрутов А.А.
RU2193190C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 029 070 A1

Реферат патента 1983 года Способ калибровки и поверки импульсных устройств для магнитного контроля

СПОСОБ ШШБРОВКИ И ПОВЕРКИ ИМПУЛЬСНЫХ УСТРОЙСТВ ДЛЯ МАГНИТНОГО КОНТРОЛЯ,заключающийся в том,что измеряют амплитуду и длительность намаг ничивакщих импульсов ус тройств а, имитируют поле остаточной намагниченности магнитных меток на контролируемом объекте полем меры и измеряют воздействие этого поля на первичный измерительный преобразователь уст.ройства, отличающийся тем, что, с целью повышения точности калибровки и поверки, в качестве поля меры используют два импульсных агнитных поля, направленных вдоль общей оси симметрии навстречу друг другу и калиброванных по амплитуде и длительности, частоту этих импульсных полей выбирают равной частоте намагничивающих импульсов, а их длительность 1/ выбирают из условия -|U где Е протяженность магнитного пятна при намагничивании в статикеi V - скорость контролируемого объекта; i: - длительность намагничивающих импульсов. 2. Способ по п. 1,отличающ и и с я тем, что изменяют амплитуду калиброванных импульсов магнитного поля и повторяют процесс калибровки ю и поверки.. ;о

SU 1 029 070 A1

Авторы

Мельгуй Михаил Александрович

Матюк Владимир Федорович

Леонов Илья Геннадьевич

Даты

1983-07-15Публикация

1981-08-26Подача