Оптический микрометр Советский патент 1956 года по МПК G01B11/02 G01B11/08 

Описание патента на изобретение SU104421A1

Оптические микрометры для измерения диаметров и то.тщин деталей, снабженные двойным М1 кроскопом, известны. Недостатком этих микрометров является то, чтс они не обеспечивают высокой точности измерения и ими невозможно производить измерения на движущ:;хся деталях, например измерения диаметра враи1ающейся детали в процессе ее обработки или полосы при прокатке.

Предлагаемый оптический микрометр свободен от этих недостатков.

В нем применены два двойных микроскопа с независимыми источниками света, дающими доа изображения светящейся щели в одном поле зрения.

Микрометр, оптическая схема которого показана на чертеже, имеет два двойных микроскопа, известных как микроскопы Лпнника, с двумя независимыми источи .и1 света / и /, свет от которых, проходя через конденсорные линии 2 и 2, диафрагмы и 5 со щелями, перпеидикулярными плоскости чертежа, и объективы 4 и 4 коллиматора, отражается от плоских зеркал 5 и 5, проходит через объективы 6 и 6 с защитными стеклами 7 и 7 и падает в точках А и А иа противоположные стороны измеряемой детали 6. Отраженные деталью лучи света проходят через объективы 9 и 9 и отклоняющие призмы 10 и 10 в первом двойном пиcpocкoпe. отражаются плоским зеркалом 11 на полупрозрачную пластинку 12 второго двойного микроскопа, а в последнем - отражаются этой пластинкой.

Оба пучка лучей идут от полупрозрачной пластинки через призму 13 и объектив 14 к матовому стеклу 15, иа котором дают изображения щелей, paccмaтpивae ;ыe при помощи .тупы 16.

Наклоном зеркала // и пластинки 12 прибор регулируется так, чтобы при иаводке обоих двойных микроскопов на поверхность измеряемой детали два изображения щели на матовом стекле совпадали.

Если после этого диаметр (толщина) дета,1и изменится на величину AZ), то изображения щелей на матовом cTeK-iie разойдутся на расстояние а |/Т-3. AD, где 3- отношение фокусных расстояний объективов 14 и 9. Пользуясь этим уравнением.

можно определять изменение диаметра детали, измеряя расетояния между изображениями пделей по шкале, нанесенной на матовом стекле.

Измеренне диаметра (толщины) детали удобно производить, пользуясь М1п рометренным винтом, поворот которого перемещает в противоположных направлениях каретки, несущие первый и второй двойные микроског ы. С помощью винта можно совместить два изображения щели, сде.тав при этом грубый отсчет по щкале иа матовом стекле и дополнительный точпый отсчет по шкале на барабане винта. Это позволяет измерять диаметры (толщины) в щироких пределах (например от О до 1GO мм) с большой точностью (например до 0,005 мм).

Так же, как и при ранее известных конструкциях оптических измерителей диаметров цилиндров (например по авт. св. 61932), на результаты измерения предлагаемым микрометром не влияют небольщие перемещения детали вдоль измеряемого диаметра (нз-за биения шпинделя при обработке и т. п.), вызывающие одинаковые сыеп1, обоих изображений щели. Наличие же в предполагаемом устройстве двух независимых 1сточн1Н ов света позволяет увеличить в иесколько раз, по сравнению е ранее известными конструкциями с одним источником света, освещенноеть изображений щели и благодаря этому измерять детали из мате)иалов с низким коэффициентом отражения или с поверхиостями низких классов чистоты обработки и облегчить автоматизацию измерений с помощью фотоэлектрических устрой.ств, а примеие1п-1е двух двойных микроскопов повьниает вдвое точность измерения.

Предмет и з о б р е т е н 11 я

Оптический микрометр для измерения диаметров и толщин деталей с двойным микроекопом, о т л и ч а ющ и и с я тем, что, с целью повышения освещенности изображения щели и повыщеиня точности измерения независимо от чистоты обработки поверхностей, в нем применены два двойных микроскопа с иезависимыми источниками света, дающими два изображения светящейся щели в одном поле зреиия, с отсчетом измеряемых величин по щкале прибора после совмещения двух изображений щели с помоцдью микрометреиноговинта.

Похожие патенты SU104421A1

название год авторы номер документа
Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции 1946
  • Коломийцев Ю.В.
SU78518A1
Способ интерференционного контроля 1960
  • Коломийцев Ю.В.
SU144999A1
Способ и прибор для испытания правильности формы поверхности шарика или цилиндра 1941
  • Коломийцев Ю.В.
SU61938A1
Интерферометр 1955
  • Духопел И.И.
  • Коломийцев Ю.В.
SU130209A1
Способ измерения эллиптичности шариков 1941
  • Коломийцев Ю.В.
SU63059A1
Осветительное устройство для исследования по теневому методу Фуко 1940
  • Максутов Д.Д.
SU61544A1
БИБЛИОТЕКА 1973
SU390351A1
ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЙ ОТ НОМИНАЛА 1966
SU177634A1
ПАТКНТНО- ^ '^ TfXKHMrCiv'AV: ' БИ'^ЛКОТ!:1{Л 1966
SU181311A1
Способ контроля вершинной рефракции неастигматических очковых линз и прибор для осуществления этого способа 1956
  • Инюшин А.И.
  • Коломийцев Ю.В.
  • Фролов Д.М.
SU122628A1

Иллюстрации к изобретению SU 104 421 A1

Реферат патента 1956 года Оптический микрометр

Формула изобретения SU 104 421 A1

SU 104 421 A1

Авторы

Байбазаров А.А.

Коломийцев Ю.В.

Даты

1956-01-01Публикация

1954-11-05Подача