Интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения Советский патент 1984 года по МПК G01B9/02 G01B11/24 

Описание патента на изобретение SU1084597A1

00

ел

со

ч1 Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь зовано для контроля качества оптических систем, в частности тэогнутых эллипсоидов вращения. Известен интерферометр для контроля оптических поверхностей, содержащий телескопическую осветитель ную систему, плоскопараллельный све тоделитель, микрообъектив и апланат ческий мениск, одна из поверхностей которого служит для образования фронта сравнения, и микрообъектив в ветви наблюдения 13Недостатками данного интерферрме ра являются высокие требования и трудоемкость юстировки, а также бол шое число паразитных бликов, снижаю щих контраст интерференционной картины, а следовательно, и точность измерений. Кроме того, для контроля сферических поверхностей требуется дополнительное специальное дорогостоящее оборудование. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, содержащий мо нохроматический источник света, оптическую систему, формирующую точечное изображение источника света, и светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную сиетему 2. Известный интерферометр может применяться для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, однако при больших эксцентриситетах эллипсоидов требуется образцовая сферическая поверхность очень большого диаметра Кроме того, контрольная схема получается больших габаритов. Оба указанных, недостатка и отсутствие диафрагмы в плоскости точечного изображения источника света значительно понижают точность контроля, так как система получается очень, сложной и крупногабаритной, а точка недостаточно высокого .качества. Цель изобретения - повышение точности контроля. Поставленная цель достигается тем, что интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения, содержащий монохроматический источник света, оптическую систему, формирующую точечное изображение источника света, и светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную систему, снабжен последовательно расположенньв и за оп ической системой диафрагмой, установленной в плоскости точечного изображения источника света,и выпуклым сферическим зеркалом с центральным отверстием, сферическое зеркало установлено так, что центр его кривизны и диафрагма находятся с одной стороны относительно выпуклой поверхности этого зеркала. На чертеже изображена принципиальная схема интерферометра для контроля вогнутых эллипсоидов вращения. Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, оптическую систему 2, формирующую точечное изображение источника света, светоделитель 3, делящий световой пучок на две ветви, зеркало 4 с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, последовательно расположенные за оптической системой диафрагму 5, установленную в плоскости точечного изображения источника света, выпуклое сферическое зеркало 6 с центральным отверстием и наблюдательную систему 1{. Сферическое зеркало 6 установлено так, что центр его кривизны и диафрагма 5 находятся с одной стороны относительно выпуклой поверхности этого зеркалаi Интерферометр работает следующи образом. Пучок света от монохроматического источника 1 света собирается в точку оптической системой 2 (предварительно разделенный на две ветви - рабочую и эталонную - светоделителем 3). Пучок света в эталонной ветви отражается от эталонной поверхности зеркала 4 и проходит через светоделитель 3. Пучок света в рабочей ветви собирается в точку в плоскости диафрагмы 5. Точечным изображением монохроматического источника 1 света засвечивается контролируемый эллипсоид 8. Фокальная плоскость более короткого фокуса эллипсоида 8 совмещена с точечным изображением монохроматического источника 1 света, т.е. с

Похожие патенты SU1084597A1

название год авторы номер документа
Интерферометр для контроля оптических поверхностей 1982
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Ган Михаил Абрамович
  • Кузнецов Алексей Иванович
  • Робачевская Виолетта Ильинична
  • Флейшер Александр Григорьевич
SU1065684A1
Интерферометр для контроля качества оптических деталей 1978
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU684296A1
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей 1983
  • Вячин Валерий Васильевич
  • Мамонов Станислав Кириллович
SU1104362A1
Интерферометр 1976
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU603840A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА 2009
  • Ларионов Николай Петрович
RU2396513C1
Интерферометр для контроля качества по-ВЕРХНОСТи ОпТичЕСКиХ дЕТАлЕй 1979
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU794362A1
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей оптических деталей 1985
  • Тарханов Владимир Иванович
SU1249322A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВЫПУКЛЫХ, ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ И ПЛОСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ 2004
  • Симонова Г.В.
RU2255307C1
Интерферометр для исследования оптических неоднородностей стекла в оптических деталях 1980
  • Вячин Валерий Васильевич
  • Понин Олег Викторович
  • Шандин Николай Сергеевич
SU911145A1
НЕРАВНОПЛЕЧИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2001
  • Иванов Ю.М.
  • Скоробогатов В.В.
  • Нестеров С.Ю.
  • Чунин Б.А.
RU2215988C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 084 597 A1

Реферат патента 1984 года Интерферометр для контроля вогнутых эллипсоидов вращения

ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВОГНУТЫХ ЭЛЛИПСОДЦОВ ВРАЩЕНИЯ., содер жащий монохроматический источник , света, оптическую систему, формируютщую точечное изображение источника света, светоделитель, делящий световой пучок на две ветви, зеркало с эталонной поверхностью, установленное в одной ветви, и наблюдательную систему, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен последовательно расположенными за оптической системой диафрагмой, установленной в плоскости точечного изображения источника света, и выпуклым сферическим зеркалом с центральным отверстием, сферическое зеркало установлено так, что центр его кривизны и диафрагма находятся с одной стороны относительно выпук(О лой поверхности этого зеркала. с

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1084597A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Духопел И.И., Качкин С.С., Чунин Б.А
Изготовление и методы контроля асферических поверхностей
Л., Машиностроение, 1975, с.61-63 (прототип).

SU 1 084 597 A1

Авторы

Бубис Исак Яковлевич

Кузнецов Алексей Иванович

Плошкин Владимир Христофорович

Хорошкеев Владимир Борисович

Даты

1984-04-07Публикация

1982-07-12Подача