Автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр Советский патент 1985 года по МПК G01N23/201 

Описание патента на изобретение SU1157422A1

I . Изобретение относится к автомати ческим рентгеновским дифрактометрам для проведения исследований методом малоуглового рассеяния одним из самых информативных физико-химических методов исследования веществ, характеризующихся наличием микронеоднородностей строения, например би логических микромолекул, полимеров и т.д. Наиболее близким к изобретению техническим решением является автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр ДРАМ-2,0, содержащий неподвижную платформу, на которой расположены источник излучения, коллиматор первичного пучка и поворотная платформа, детектор и коллиматор рассеянного пучка, расположенные на поворотной платформе, снабженной приводом и жестко закрепленным на ее оси держателем образца. Точность угловой установки поворотной платформы,а, следователь но, и детектора равна ±10 1J . Недостатком известного дифрактометра являются ограничение исследования неоднородное тей размером более 1000 А из-за недостаточной точности угловой установки детектора, а также невозможность использования методик, основанных на одновременном вращении образца и детектора (мето;() 620. Цель изобретения - повышение разрешающей способности устройства и расширения его функциональных возможностей. Поставленная цель достигается тем что автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр, содержащий неподвижную платформу, на которой расположены источник излучения, коллиматор первичного пучка и поворотная платформа, детектор и коллиматор рассеянного пучка, расположенные на поворотной платформе, снабженной при водом и жестко закрепленным на его оси держателем образца, снабжен второй поворотной платформой, имеющей , ось вращения, совпадающую с осью вра щения первой поворотной платформыi рычажный привод и муфту сцегшения с первой повордтной платформой, причем держатель образца снабжен кронштейном для соединения его с второй поворотной платформой. Введени$ второй поворотной платформы с червячным приводом позволяет 222 повысить разрешающую способность устройства за счет повышения точности угловой установки детектора, а жесткое соединение держателя об разца с второй платформой с помощью кронштейна позволяет автоматически вращать образец вокруг вертикальной оси с одновременным поворотом детектора вокруг той же оси, что расширяет функциональные возможности прибора. На чертеже представлен предлагаемый дифрактометр. Дифрактометр включает источник 1 излучения,коллиматор 2 первичного пучка, неподвижную платформу 3, первичную 4 и вторую 5 поворотные платформы, ось 6 вращения поворотных платформ на неподвижной платформе 3, держатель 7 образца, кронштейн 8, соединяющий держатель 7 образца с второй поворотной платформой 5, коллиматор 9 рассеянного пучка, детектор 10, червячный привод I1 для вращения второй поворотной платформы 5, рычажный привод 12 для вращения первой поворотной платформы 4 и муфту 13 сцепления поворотных платформ. Дифрактометр работает следующим образом. Рентгеновское излучение источника 1 излучения (рентгеновской трубки) , сформированное коллиматором 2 первичного пучка, падает на исследуемый образец, который жестко укреплен на держателе 7. Рассеянное нсследуемым образцом излучение, проходя через элементы коллиматора 9, регистрируются детек тором 10. При использовании метода с неподг вижным образцом коллиматора 9 и детектор 10 устанавливают на угол рассеяния в начале процесса с помощью платформы 5 и червячного привода 11 (муфта 13 сцепления лри этом включена, подвижные платформы жестко соединены) с точностью t 10 , а затем с помощью платформы 4 и рычажного привода 12 (муфта сцепления выключена и платформы разъединены) - с точностью t2 . При использовании метода исследования с одновременным вращаюшимся образцом и детектором (метрд O/2v) держатель 7 образца жестко соединяют с помощью кронштейна 8 с второй поворотной платформой 5.

При одновременной работе привода 1 И и 12 поворотных платформ 4 и 5, вращающихся с одинаковой угловой скоростью (муфта сцепления при этом выключена поворотные платформы разъединены), держатель 7 с исследуе мым образцом поворачиваются на угол диффракциид, а детектор 10 - на двойной угол 2 6 относительно неподвижной платформы.

Предлагаемый дифр актометр по сравнению с известным расширяет свои функхиюнальные возможности, позволяет проводить исследования с более BucoKoii разрешающей способностыо в малых углах (до 15), что позволяет .

расширить исследуемых объекто например исследовать неоднородности крупных размеров в различных органических и неорганических средах, исследовать полимерные материалы с большим периодом и исследовать структуру крупных вирусов, размерами порядка нескольких тысяч ангстрем

Предлагаемый дифрактометр также позволяет проводить измерения не только на просвет, но и на отражение;, что cytiecTBeHHO для изучения прочтя дифракционных рефлексов, расположенных в,, интервале углов дифракции is-10 (излучение

Похожие патенты SU1157422A1

название год авторы номер документа
Малоугловой рентгеновский дифрактометр 1988
  • Дембо Александр Теодорович
  • Фейгин Лев Абрамович
  • Могилевский Леонид Юрьевич
  • Шилин Юрий Николаевич
  • Бондаренко Константин Петрович
SU1582097A1
Малоугловой рентгеновский дифрактометр 1987
  • Тузиков Федор Васильевич
  • Онищенко Владимир Михайлович
  • Вавилин Александр Ильич
SU1562808A1
Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра 1986
  • Корнев Алексей Николаевич
  • Голуб Юрий Валентинович
  • Михайлов Альберт Михайлович
SU1402874A1
Способ исследования биологических объектов методом малоугловой энергетической дифрактометрии и рентгеновская камера для его осуществления 1983
  • Корнеев Владимир Николаевич
  • Матюшин Александр Максимович
  • Шамаров Альвиан Матвеевич
SU1167484A1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР 2002
  • Варламов А.В.
RU2216010C2
Рентгеновский дифрактометр 1981
  • Хейкер Даниэль Моисеевич
  • Попов Александр Николаевич
  • Заневский Юрий Вацлавович
  • Пешехонов Владимир Дмитриевич
  • Черненко Сергей Павлович
  • Андрианова Мария Егоровна
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Гусев Владимир Иванович
SU1004834A1
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU894502A1
Рентгеновский дифрактометр 1986
  • Горбачева Нина Алексеевна
  • Петьков Валерий Васильевич
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Щербединский Геннадий Васильевич
  • Поленур Александр Вольфович
SU1427263A1
Способ трехкристальной рентгеновской дифрактометрии 1988
  • Лидер Валентин Викторович
SU1617344A1
Рентгеновский спектрометр 1980
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Имамов Рафик Мамед
  • Шилин Юрий Николаевич
  • Миренский Анатолий Вениаминович
SU881592A2

Реферат патента 1985 года Автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр

АВТОМАТИЧЕСКИЙ МАЛОУГЛОВОЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ даФРАКТдаВТР,содержащий неподвижную платформу,на которой расположены источник излучения, коллиматор первичного пучка и поворотная платформа, детектор и коллиматор рассеянного пучка, расположенные на поворотной платформе, снабженной приводом и жестко закрепленным на. ее оси держателем образца, отличающийся тем; что, с целью повышения разрешающей способности и расширения функциональньос возможностей он снабжен второй поворотной платформой, имеющей ось вращения, совпадающую с осью вращения первой поворотной платформы, рычажный привод и муфту сцепления с первой поворотной пдатформой, причем держатель об-разца снабжен кронштейном для соедит нения его со второй поворотной платформой .

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1157422A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Рентгенотехника
Справочник
Машиностроение,1980, кн.2, с.125126 (прототип)

SU 1 157 422 A1

Авторы

Асадчиков Виктор Евгеньевич

Бухардинов Нур Киямович

Дембо Александр Теодорович

Козелихин Юрий Михайлович

Могилевский Леонид Юрьевич

Слепаков Александр Львович

Фейгин Лев Абрамович

Шилин Юрий Николаевич

Даты

1985-05-23Публикация

1983-09-26Подача