Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра Советский патент 1988 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1402874A1

I Изобретение относится к рентгено- бтруктурному анал1-5зу и может быть использовано для исследования структуры биологических объектов с боль- йшми периодами идентичностиj в том числе монокристаллов.

Цель изобретения - обеспечение (согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устрой- Ьтвами для регистрации дифракционной |картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения, I На фиг. 1 изображена система моноИсточник 11 рентгеновского излучения генерирует первичный пучок рентгеновского излучения, ось которого лежит в горизонтальной плоскости. Первичньй пучок падает на первый фокусирующий кристалл-монохрома- тор блока 5. Блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота его держателя 6 вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, устанавливается так, что между осью первичного пучка рентгеновского излучения и касательной, про

Похожие патенты SU1402874A1

название год авторы номер документа
Установка для дифрактометрического исследования реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения 1985
  • Алешко-Ожевский О.П.
  • Головинов В.Н.
  • Шишков В.А.
  • Коряшкин В.И.
SU1334924A1
Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр 1983
  • Петьков Валерий Васильевич
  • Харитонов Арнольд Викторович
  • Мантуло Анатолий Павлович
  • Новоставский Ярослав Васильевич
  • Ильинский Александр Георгиевич
  • Минина Людмила Викторовна
  • Черепин Валентин Тихонович
  • Щербединский Геннадий Васильевич
SU1151874A1
Рентгеновский дифрактометр 1981
  • Хейкер Даниэль Моисеевич
  • Попов Александр Николаевич
  • Заневский Юрий Вацлавович
  • Пешехонов Владимир Дмитриевич
  • Черненко Сергей Павлович
  • Андрианова Мария Егоровна
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Гусев Владимир Иванович
SU1004834A1
Устройство для рентгеновского дифракционного исследования объектов и способ установки зеркала полного внешнего отражения в пучке рентгеновского излучения 1980
  • Корнеев Владимир Николаевич
  • Герасимов Владимир Сергеевич
SU883726A1
Способ трехкристальной рентгеновской дифрактометрии 1988
  • Лидер Валентин Викторович
SU1617344A1
Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения 1980
  • Чуховский Феликс Николаевич
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Гильварг Александр Борисович
  • Габриелян Карен Терханович
  • Петрашень Павел Васильевич
SU873281A1
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов 1980
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Суходольский Владимир Васильевич
  • Шилин Юрий Николаевич
SU894502A1
СИСТЕМА ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНОГО НАБОРА ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИН 1990
  • Корнев А.Н.
  • Михайлов А.М.
  • Никонов С.В.
RU2025720C1
Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла 1980
  • Афанасьев Александр Михайлович
  • Александров Петр Анатольевич
  • Имамов Рафик Мамед-Оглы
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Лобанович Эдуард Францевич
  • Фалеев Николай Николаевич
  • Болдырев Владимир Петрович
SU894500A1
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов 1986
  • Казимиров Александр Юрьевич
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Чуховский Феликс Николаевич
SU1402873A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 402 874 A1

Реферат патента 1988 года Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов. Цель изобретения состоит в обеспечении согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистрации дифракционной картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения. Рентгенов- ский дифрактометр содержит источник 11 рентгеновского излучения, устройство 12 для регистрации дифракционной картины и устройство для моно- хроматизации и фокусировки рентгеновского излучения, которое включает основание 1, в вертикальных полках которого смонтированы цапфы и подшипники, в которых установлена с возможностью поворота платформа, несущая корпуса монохроматоров со средствами юстировки, при этом ось поворота платформы в подшипниках совпадает с направлением первичного пучка рентгеновского излучения. На платформе смонтирована промежуточная плита, несущая держатель второго монохро- матора и средства его поворота. 3 ип. Q S (/) 4 1 (ригЗ

Формула изобретения SU 1 402 874 A1

|хроматизации рентгеновского дифракто-}5 веденной к центру первого фокусирую|метрар общий вид; на фиг. 2 - то як, вид сверху; на фиг. 3 - рентгеновс- :кий дифрактометр с фокусирующей систе- мой, аксонометрия.

20

: Система монохроматизации рентге- jHOBcKoro дифрактометра содержит кор- jnyc 1 с цапфами 2, оси которых сов- |падают с осью первичного пучка рент |геновского излучения, платформу 3, 25 I имеющую подшипники 4 и установленную ;в корпусе с возможностью поворота вокруг осей цапф 2, блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора с держателем 6, установленным на . 30 платформе 3 с возможностью поворо- I та вокруг оси, перпендикулярной ;плоскости платоюрмы 3, промежуточную I плиту 7, установленную на платформе i 3 с возможностью поворота вокруг jj оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, блок 8 .второго фокусирующего кристалла-монохроматора, установ- ленньй с возможностью поворота вокруг оси, параллельной плоскости платфор- дО мы 3 в кронштейне 9, которьй установлен на промежуточной плите 7 с возможностью поступательного перемещения по промежуточной плите 7, в на- правлении блока 5 первого фокусирую- 45 щего кристалла-монохроматора, а также средства 10 юст1|ровки платформы 3, установленные на корпусе 1.

щего кристалла-монохроматора блока 5, образуется угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образуняцей. При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражения) Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливается так, что угол между осью отраженного от первого фокусирукядего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучения и горизонтальной плоскостью составляет 2б. В этом случае после отражения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучения будет лежать в горизонтальной плоскости.

Промежуточная плита 7, на которой расположен кронштейн 9, в котором установлен блок 8 второго фокусирую Рентгеновский дифрактометр, вклю- . щего кристалла-монохроматора путем поворота вокруг оси, перпендикулярчающий предлагаемую фокусируюшую систему, содержит источник 11 рентгеновского излучения и устройство 12 для регистрации дифракционной картины в котором расположены исследуемый объект 13 и приемник 14.

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра работает следующим образом.

55

ной плоскости платформы 3, устанавливается так, что пучок рентгеновского излучения, отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллельщего кристалла-монохроматора блока 5 образуется угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образуняцей. При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражения Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливается так, что угол между осью отраженного от первого фокусирукядего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучения и горизонтальной плоскостью составляет 2б. В этом случае после отражения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучения будет лежать в горизонтальной плоскости.

ной плоскости платформы 3, устанавливается так, что пучок рентгеновского излучения, отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллель- 1

ной плоскости платформы 3, блок 8 второго фокусирзтощего кристалла-моно хроматора устанавливается так, что угол между осью пучка рентгеновского излучения, попадающего на второй- фокусирукщий кристалл-монохроматор блока 8 и касательной, проведенной к его центру, составляет 2 б . При отражении пучка рентгеновского излу- чения от второго фокусирующего крис- талла-монохроматора блока 8 происходит его вторичная монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпенди

кулярной его образующей. Сформирован-15 рации дифракционной картины, и управный пучок попадает на исследуемьй объект 13, установленньй в устройстве 12 для регистрации дифракционной картины. TaKitM образом осуществляется согласование стационарных источников 11 рентгеновского излучения с устройствами 12 для регистрации дифракционной картины. Для обеспечения фокусировки пучка рентгеновского излучения в плоскость приемника 14 блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора с кронштейном 9 перемещается по промежуточной плите 7 по направлению к блоку 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора и устанавливается так, что изображение фокального пятна источника 11 рентгеновского излучения попадает в центр приемника 14. Таким образом осуществляется управление фокусировкой рентгеновского излучения

рмула изобретения

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра, включакщая корпус, платформу, установленную с возможностью поворота вокруг оси первичного пучка рентгеновского излучения с помощью средств юстировки, и блок первого кристалла-монохроматора, о т- личающая ся тем, что, с целью обеспечения согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистения фокусировкой рентгеновского излучения, она снабжена плитой, установленной на платформе с возможностью поворота вокруг оси блока первого кристалла-монохроматора, повоотным кронштейном и блоком второго кристалла-монохроматора, установленным на кронштейне с возможностью поворота вокруг оси, параллельной

плоскости платформы, и с возможностью поступательного перемещения вдоль плиты по направлению к блоку первого кристалла-монохроматора, при этом кристалл-монохроматоры вьшолнены фокусирующими, а блок первого кри- сталла-монохроматора снабжен держателем, установленным на платформе с возможностью поворота вокруг оси, перпендикулярной оси рентгеновского

ПУ Сриг.1

Фи.г

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1402874A1

ТРАНСПОРТНОЕ СРЕДСТВО 2018
  • Войнаш Александр Станиславович
RU2688094C2
Катодное реле 1921
  • Коваленков В.И.
SU250A1
Бирке Л.С
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда
М.: Металлургия, 1966, с.71
Рентгеновский излучатель 1984
  • Андрущенко Лев Гаврилович
  • Баженова Ольга Борисовна
  • Бахтиарова Мария Викторовна
  • Минина Людмила Викторовна
  • Смирнов Иван Николаевич
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Харитонов Арнольд Викторович
  • Щербединский Геннадий Васильевич
  • Щукин Геннадий Анатольевич
SU1213508A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 402 874 A1

Авторы

Корнев Алексей Николаевич

Голуб Юрий Валентинович

Михайлов Альберт Михайлович

Даты

1988-06-15Публикация

1986-07-07Подача