I Изобретение относится к рентгено- бтруктурному анал1-5зу и может быть использовано для исследования структуры биологических объектов с боль- йшми периодами идентичностиj в том числе монокристаллов.
Цель изобретения - обеспечение (согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устрой- Ьтвами для регистрации дифракционной |картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения, I На фиг. 1 изображена система моноИсточник 11 рентгеновского излучения генерирует первичный пучок рентгеновского излучения, ось которого лежит в горизонтальной плоскости. Первичньй пучок падает на первый фокусирующий кристалл-монохрома- тор блока 5. Блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота его держателя 6 вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, устанавливается так, что между осью первичного пучка рентгеновского излучения и касательной, про
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Установка для дифрактометрического исследования реальной структуры кристаллов с использованием синхротронного излучения | 1985 |
|
SU1334924A1 |
Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр | 1983 |
|
SU1151874A1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1981 |
|
SU1004834A1 |
Устройство для рентгеновского дифракционного исследования объектов и способ установки зеркала полного внешнего отражения в пучке рентгеновского излучения | 1980 |
|
SU883726A1 |
Способ трехкристальной рентгеновской дифрактометрии | 1988 |
|
SU1617344A1 |
Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения | 1980 |
|
SU873281A1 |
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов | 1980 |
|
SU894502A1 |
СИСТЕМА ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТРЕХМЕРНОГО НАБОРА ДИФРАКЦИОННЫХ КАРТИН | 1990 |
|
RU2025720C1 |
Способ исследования структурного совершенства поверхностного слоя монокристалла | 1980 |
|
SU894500A1 |
Способ исследования структурного совершенства монокристаллов | 1986 |
|
SU1402873A1 |
Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использования для исследования структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов. Цель изобретения состоит в обеспечении согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистрации дифракционной картины и управления фокусировкой рентгеновского излучения. Рентгенов- ский дифрактометр содержит источник 11 рентгеновского излучения, устройство 12 для регистрации дифракционной картины и устройство для моно- хроматизации и фокусировки рентгеновского излучения, которое включает основание 1, в вертикальных полках которого смонтированы цапфы и подшипники, в которых установлена с возможностью поворота платформа, несущая корпуса монохроматоров со средствами юстировки, при этом ось поворота платформы в подшипниках совпадает с направлением первичного пучка рентгеновского излучения. На платформе смонтирована промежуточная плита, несущая держатель второго монохро- матора и средства его поворота. 3 ип. Q S (/) 4 1 (ригЗ
|хроматизации рентгеновского дифракто-}5 веденной к центру первого фокусирую|метрар общий вид; на фиг. 2 - то як, вид сверху; на фиг. 3 - рентгеновс- :кий дифрактометр с фокусирующей систе- мой, аксонометрия.
20
: Система монохроматизации рентге- jHOBcKoro дифрактометра содержит кор- jnyc 1 с цапфами 2, оси которых сов- |падают с осью первичного пучка рент |геновского излучения, платформу 3, 25 I имеющую подшипники 4 и установленную ;в корпусе с возможностью поворота вокруг осей цапф 2, блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора с держателем 6, установленным на . 30 платформе 3 с возможностью поворо- I та вокруг оси, перпендикулярной ;плоскости платоюрмы 3, промежуточную I плиту 7, установленную на платформе i 3 с возможностью поворота вокруг jj оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, блок 8 .второго фокусирующего кристалла-монохроматора, установ- ленньй с возможностью поворота вокруг оси, параллельной плоскости платфор- дО мы 3 в кронштейне 9, которьй установлен на промежуточной плите 7 с возможностью поступательного перемещения по промежуточной плите 7, в на- правлении блока 5 первого фокусирую- 45 щего кристалла-монохроматора, а также средства 10 юст1|ровки платформы 3, установленные на корпусе 1.
щего кристалла-монохроматора блока 5, образуется угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образуняцей. При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражения) Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливается так, что угол между осью отраженного от первого фокусирукядего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучения и горизонтальной плоскостью составляет 2б. В этом случае после отражения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучения будет лежать в горизонтальной плоскости.
Промежуточная плита 7, на которой расположен кронштейн 9, в котором установлен блок 8 второго фокусирую Рентгеновский дифрактометр, вклю- . щего кристалла-монохроматора путем поворота вокруг оси, перпендикулярчающий предлагаемую фокусируюшую систему, содержит источник 11 рентгеновского излучения и устройство 12 для регистрации дифракционной картины в котором расположены исследуемый объект 13 и приемник 14.
Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра работает следующим образом.
55
ной плоскости платформы 3, устанавливается так, что пучок рентгеновского излучения, отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллельщего кристалла-монохроматора блока 5 образуется угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпендикулярной его образуняцей. При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражения Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливается так, что угол между осью отраженного от первого фокусирукядего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучения и горизонтальной плоскостью составляет 2б. В этом случае после отражения от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучения будет лежать в горизонтальной плоскости.
ной плоскости платформы 3, устанавливается так, что пучок рентгеновского излучения, отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллель- 1
ной плоскости платформы 3, блок 8 второго фокусирзтощего кристалла-моно хроматора устанавливается так, что угол между осью пучка рентгеновского излучения, попадающего на второй- фокусирукщий кристалл-монохроматор блока 8 и касательной, проведенной к его центру, составляет 2 б . При отражении пучка рентгеновского излу- чения от второго фокусирующего крис- талла-монохроматора блока 8 происходит его вторичная монохроматизация и фокусировка в плоскости, перпенди
кулярной его образующей. Сформирован-15 рации дифракционной картины, и управный пучок попадает на исследуемьй объект 13, установленньй в устройстве 12 для регистрации дифракционной картины. TaKitM образом осуществляется согласование стационарных источников 11 рентгеновского излучения с устройствами 12 для регистрации дифракционной картины. Для обеспечения фокусировки пучка рентгеновского излучения в плоскость приемника 14 блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора с кронштейном 9 перемещается по промежуточной плите 7 по направлению к блоку 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора и устанавливается так, что изображение фокального пятна источника 11 рентгеновского излучения попадает в центр приемника 14. Таким образом осуществляется управление фокусировкой рентгеновского излучения
рмула изобретения
Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра, включакщая корпус, платформу, установленную с возможностью поворота вокруг оси первичного пучка рентгеновского излучения с помощью средств юстировки, и блок первого кристалла-монохроматора, о т- личающая ся тем, что, с целью обеспечения согласования стационарных источников рентгеновского излучения с устройствами для регистения фокусировкой рентгеновского излучения, она снабжена плитой, установленной на платформе с возможностью поворота вокруг оси блока первого кристалла-монохроматора, повоотным кронштейном и блоком второго кристалла-монохроматора, установленным на кронштейне с возможностью поворота вокруг оси, параллельной
плоскости платформы, и с возможностью поступательного перемещения вдоль плиты по направлению к блоку первого кристалла-монохроматора, при этом кристалл-монохроматоры вьшолнены фокусирующими, а блок первого кри- сталла-монохроматора снабжен держателем, установленным на платформе с возможностью поворота вокруг оси, перпендикулярной оси рентгеновского
ПУ Сриг.1
Фи.г
ТРАНСПОРТНОЕ СРЕДСТВО | 2018 |
|
RU2688094C2 |
Катодное реле | 1921 |
|
SU250A1 |
Бирке Л.С | |||
Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда | |||
М.: Металлургия, 1966, с.71 | |||
Рентгеновский излучатель | 1984 |
|
SU1213508A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1988-06-15—Публикация
1986-07-07—Подача