Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука Советский патент 1986 года по МПК H01J37/20 

Описание патента на изобретение SU1238173A2

Изобретение относится к технике электронной микроскопии и может быть использовано при исследовании физических свойств металлов в условиях сочетания ультразвукового и статического воздействия на кристаллы и непосредственного изучения тех структур в кристаллической решетке, которые вызываются ультразвуковым воздействием совместно со статическим нагру- жением.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения исследований при изгиб- ных и изгибно-продольных ультразвуковых колебаниях образца.

На фиг. 1 показано устройство, обш,ий вид; на фиг. 2 - то же, вид сбоку.

Концентратор устройства выполнен в виде Н-образной пластины, включаюшей вертикальные стойки 1 и 2 полуволновой длины (фиг. 1) и горизонтальную перекладину 3. На внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 закреплен источник 4 ультразвуковых колебаний. На противоположных смежных торцах вертикальных стоек 1 и 2 с помошью пластин 5 и винтов 6 закреплен образец 7 в виде пленки или фольги, прозрачных для электронного луча микроскопа. Пластины 5 закреплены на торцах вертикальных стоек 1 и 2 так, что между ними имеется окно 8 для прохождения электронного луча микроскопа. В горизонтальной перекладине 3 расположен нагревательный элемент 9, например, константано- вая спираль в термостойкой изоляции. На торце-вертикальной стойки 2 закреплен дополнительный источник 10 ультразвуковых колебаний. В средней части стойки 2 (в узле колебаний) установлена разрезная упругая конусная шайба 11, которая с помощью стандартного приспособления может быть установлена в соответствующее конусное отверстие гониометрического- столика электронного микроскопа. Гониометрический столик устанавливается под углом а относительно оси 12 электронного луча (фиг. 2) так, что луч проходит мимо горизонтальной перекладины 3, воздействует на образец в окне 8 и дает его микроскопическое изображение или дифракционную картину.

Согласно фиг. 1 13 - эпюра колебаний стойки I и продольных колебаний образца 7; 14 - эпюра продольных колебаний стойки 2 и изгибных колебаний образца 7.

Работа устройства осуш.ествляется следующим образом.

На конце внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 Н-образной пластины закрепляют источник 4 ультразвуковых колебаний, а между противоположными торцами вертикальных стоек 1 и 2 закрепляют объектодержатель с образцом 7 тонкой

фольги. К свободному торцу вертикальной стойки 2 Н-образной пластины прикрепляют дополнительный источник 10 ультразвуковых колебаний. При включении источника 4 ультразвуковых колебаний в вертикальной стойке 1 Н-образной пластины возникает стоячая изгибная ультразвуковая волна с пучностью колебаний в месте расположения образца, что вызывает деформацию растяжения образца 7. Включение нагревательного элемента 9 вызывает деформацию образца 7 в результате теплового расширения горизонтальной перекладины 3 Н-образной пластины, вызывающей соответствующее изменение расстояния между ее вертикальными стойками.

Для обеспечения изгибной деформации образца 7 выключают источник 4 ультразвуковых колебаний и включают дополни- тельный источник 10 ультразвуковых колебаний. При включении этого источника в

Q вертикальной стойке 2 Н-образной пластины возникает стоячая продольная ультразвуковая волна с пучностью колебаний в месте расположения образца, что вызывает деформацию изгиба образца 7. Включение нагревательного элемента 9 вызывает деформацию

5 образца 7 в результате теплового расширения горизонтальной перекладины 3 Н-образной пластины, вызывающей соответствующее изменение расстояния между вертикальными стойками. Следовательно, при включении дополнительного источника 10 ульт развуковых колебаний образец 7 испытывает деформацию изгиба, а при включении нагревательного элемента 9 образец 7 дополнительно наряду с деформацией изгиба испытывает с изменением температуры статическую деформацию растяжения.

Для обеспечения изгибно-продольной деформации образца 7 включают оба источника 4 и 10 ультразвуковых колебаний. При этом от источника 4 ультразвуковых

0 колебаний образец 7 испытывает деформацию растяжения, а от источника 10 ультразвуковых колебаний образец 7 испытывает деформацию изгиба. При включении же нагревательного элемента 9 образец 7 испытывает еще дополнительно статическую

5 деформацию растяжения.

Амплитуда колебаний размеров образца измеряется по электронному изображению при малых увеличениях. Настройка в резо- 0 нанс осуществляется плавным изменением частоты ультразвукового генератора.

Пример. Дислокационную структуру изучали на образцах из фольги алюминия и меди методом просвечивающей микроскопии на 5 электронном микроскопе ЭММА-2 при нормальной и повышенной до 120°С температуре со статической нагрузкой до 0,1 Н. Частота дополнительного источника 10 ультразвуковых колебаний составляла 35,3 кГц, а амплитуда 3 мкм при толщине фольги 810 А.

Установлено, что при нормальной температуре с наложением на образец изгиб- ных ультразвуковых колебаний происходит рождение новых дислокаций в зоне изгиба, активизируется их перемещение.

При повышенной температуре и дополнительной статической нагрузке более интенсивно протекает процесс перемещения дислокаций.

4

Формула изобретения

Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука по авт. св. № 1153369, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, оно содержит дополнительный источник ультразвуковых колебаний, установленный на противоположном объектодержателю торце второй свободной стойки пластины.

Похожие патенты SU1238173A2

название год авторы номер документа
Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука 1983
  • Басенок Геннадий Сергеевич
  • Вагапов Ильдар Камильевич
  • Мокеев Альберт Алексеевич
SU1153369A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ И МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ 2012
  • Гоголинский Кирилл Валерьевич
  • Мещеряков Вячеслав Викторович
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Мелекесов Эдуард Владимирович
  • Усеинов Алексей Серверович
RU2510009C1
СПОСОБ УСТАЛОСТНЫХ ИСПЫТАНИЙ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ 2010
  • Смыслов Анатолий Михайлович
  • Смыслова Марина Константиновна
  • Бердин Валерий Кузьмич
  • Дубин Алексей Иванович
  • Рамазанов Альберт Нуруллаевич
  • Мингажев Аскар Джамилевич
RU2443993C1
СПОСОБ ПРЕПАРИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ИЗ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2001
  • Реутов В.Ф.
  • Реутов И.В.
RU2216720C2
Электромеханическая вибрационная машина резонансного типа 1957
  • Панов С.Ф.
SU112459A1
Шариковая предохранительная муфта 1991
  • Гевко Богдан Матвеевич
  • Гевко Роман Богданович
  • Новак Орест Богданович
SU1779833A1
Установка для реологических исследований жестких полимерных материалов 1977
  • Бородай Игорь Александрович
  • Братусь Светлана Федоровна
  • Никотинев Валерий Кондратьевич
SU714235A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ШВЕЙНЫХ МАТЕРИАЛОВ И УСТАНОВКА ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2012
  • Сучилин Владимир Алексеевич
  • Архипова Татьяна Николаевна
RU2538725C2
Устройство для испытания на усталость плоских образцов при знакопеременном изгибе 1985
  • Максимович Георгий Григорьевич
  • Сердюков Валентин Павлович
  • Кудлак Степан Михайлович
SU1281978A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ УСКОРЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРЕДЕЛА УСТАЛОСТИ ПЛАСТИНЧАТЫХ ОБРАЗЦОВ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ 1956
  • Лозинский М.Г.
SU110021A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 238 173 A2

Реферат патента 1986 года Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука

Изобретение относится к технике микроскопии и может быть использовано при исследовании физических свойств металлов в условиях сочетания ультразвукового и статического воздействий на кристаллы и непосредственного изучения этих структур в ,.. тт S 687 фиг. кристаллической решетке, которые вызываются ультразвуковым воздействием совместно со статическим нагружением. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения исследования при изгибных и изгибно- продольных ультразвуковых (УЗК) колебаниях образца. Последовательное включение источников 4 и 10 (УЗК) вызывает деформацию изгиба образца 7. Под действием нагревательного элемента 9 образец 7 испытывает дополнительную деформацию - статическую деформацию растяжения. Для обеспечения изгибно-продольной деформации образца 7 включают оба источника 4 и 10 (УЗК). При этом от источника 4 (УЗК) образец 7 испытывает деформацию растяжения, а от источника 10 УЗК - деформацию изгиба. Нагревательный элемент 9 обеспечивает дополнительную статическую деформацию растяжения. Илл. 2. S (Л 13 ND 00 00 1 оо 1Ч

Формула изобретения SU 1 238 173 A2

Г2

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1238173A2

Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука 1983
  • Басенок Геннадий Сергеевич
  • Вагапов Ильдар Камильевич
  • Мокеев Альберт Алексеевич
SU1153369A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 238 173 A2

Авторы

Басенок Геннадий Сергеевич

Мокеев Альберт Алексеевич

Даты

1986-06-15Публикация

1984-09-11Подача