Устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука Советский патент 1985 года по МПК H01J37/20 

1 11

Изобретение относится к технике электронной микроскопии и может быть использовано при исследовании физических свойств металлов в условиях сочетания ультразвукового и статического воздействия на кристаллы металлов и непосредственного излучения тех структур в кристаллической ре шетке, которые вызываются ультразвуковь)м воздействием совместно со статическим нагружением.

Известны устройства для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии статического нагружения, содержащие механизм нагружения и Ъбъектодержатель СП.

Однако такие устройства не могут быть использованы для исследований в случае воздействия на образец ультразвуковых колебаний.

Наиболее близким к изобретению - .

по технической сущности является устройство для электронно-микроскопического исследования образцов при воз-, действии ультразвука, содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель Ез}.

Известное устройство обладает ограниченными функциональными возможностями. Оно не позволяет налагать на образец дополнительные нагрузки, проводить исследования при повышенных температурах, регулировать параметры ультразвуковых колебаний, исплльзовать стандартные пленочные образцы. Кроме того, в устройстве затруднен контроль колебаний образца и его температуры в процессе исследований.

Целью Изобретения является расширение функциональных возможностей устройства.

Указанная цель достигается тем, ЧтЬ в устройстве для электронно-микроскопического исследования образцов при воздействии ультразвука, содержащем, источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержа- Тель, концентратор вьтолнен в виде Н-образной пластины, образованной, вумя стойками и перекладиной, при этом объектодержатель установлен на двухсмежных торцах стоек, а источник ультразвуковых: колебаний закреплён на внешней боковой поверхности одной из стоек у противоположного торца.

33691

Кроме того, перекладина пластины может быть выполнена с полостью, внутри которой размещен нагревательный элемент.

5 На Фиг.1 показан концентратор, общий ВИД} на Лиг.2 и 3 - то же, вид сбоку и сверху, соответственно.

Концентратор устройства выполнен в виде Н-образной пластины, включающей вертикальные стойки 1 и 2 полу.волновой длины {фиг.| и горизонтальную перекладину 3. На внешней боковой поверхности вертикальной стойки 1 закреплен источник 4 ультразвуковых колебаний. На противоположных смежных торцах вертикальных стоек и 2 с помощью пластин 5 и винтов 6 закреплен объектодержатель 7 с окном 8 для установки объекта в виде пленки или

0 фольги, прозрачных для электронного луча микроскопа.В горизонтальной перекладине 3 расположен нагревательный элемент 9, например константано- вая спираль в термостойкой изоляции.

5 В средней части пластины ( в узле колебаний ) установлена разрезная упругая конусная шайба 10, которая с помощью стандартного приспособления может быть установлена в соответствую-

0 шее конусное отв-ерстие гониометрического столика электронного микроскопа. Гониометрический столик устанавливается под углом (фиг.2 ) относительно оси электронного луча так, что луч 5 проходит мимо горизонтальной перекладины 3, воздействует на образец в окне 8 и дает его микроскопическое изображение или дифракционную картину.

Работа устройства осуществляется следующим образом.

На конце внещней поверхности вертикальной стойки 1 Н-образной пластины.закрепляют источник 4 ультразвуковых колебаний, а между противоположными торцами вертикальных стоек 1 и 2 закрепляют объектодержатель 7 с образцом тонкой фольги. При включе0 НИИ источника 4 ультразвуковых колебаний в Н-образной пластине возникает стоячая ультразвуковая волна с пучностью колебаний в месте расположения образца. Включение нагревательного элемента 9 вызывает деформацию образца в результате теплового расширения горизонтальной перекладины 3 пластины, вызывающей соответствующее

I. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЖКТРОННО-МИКРОСКОГЩЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ УЛЬТРАЗВУКА содержащее источник ультразвуковых колебаний, концентратор и объектодержатель, о .т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, концентратор вьтолнен в виде И-образной пластины, образованной двумя. стойками и перекладиной, при зтом объектодержатель установлен на, двух смежных торцах стоек, а источник ультразвуковых колебаний закреплен на внешней боковой поверхности одной из стовк у противоположного торца. 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что перекла(О дина пластины выполнена с полостью, с внутри которой размещен нагревательный элемент. .