Способ настройки ультразвукового дефектоскопа Советский патент 1986 года по МПК G01N29/04 

1

Изобретение относится к неразру- шагощему контролю изделий с помощью ультразвука н может быть использовано при контроле особотонкостенньтх труб, имеющих, в частности, малый внутренний диаметр.

Цель изобретения - упрогдетчие на-- стройки ультразвукового дефектоскопа при контроле тонкостенньо: труб с малым внутренним диаметром.

Способ настройки ультразвукового дефектоскопа осуществляется следующим образом.

В зоне пьезоэлектрического преобразователя, подсоединенного к ультразвуковому дефектоскопу, помещают исШ)Т а тельный образец из материала с недопустимым баллом зерна и с выполненным в нем нормированным отражателем.. Возбуждают в образце нормальные симметричные волны S и сканируют испытательньш .образец до получения на экране де- фектоскопа максимальной амплитуды .эхо-сигнала от нормировазпюго отражателя. При этом максимальный сигнал можно получить при углах ввода ультразвуковых колебаний в образец равных 19-21°. Именно при этих углах ввода в образце возбу;адается нормальная симметричная волна й . Затем рнределяют чувствительность ультразвукового дефектоскопа к наружным дефектам по максимальной амплитуде эхо- сигнала,, полученного от нормнрованного отражателя. После этого, не изменяя чувствительности дефектоскопа, отводят из зоны контроля наруж- Hbrii нормированньй отражатель, возбуждают в испытательном образце нормальные антисимметричные волны q и сканируют образец путем изменения угла ввода ультразвуковь х колебаний, в,диапазоне 30-45 до получения максимальной ве.пичины эхо-сигналов от структурных неоднородностей (зерен)

материала образца. Затем по получен- 1ГЫМ производят настройку дефектоскопа. При установленной чувствительности к наружным дефектам автоматически обеспечивается необходи- 1мая чувствительность, к внутренним

ВНИШИ Заказ

Тираж 778

Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

2,54373г

дефектам контролируемого изделия.

При этом материал испытательного образца должен иметь недопустимый балл зерна, т.е. величина структур5 ных неоднородностей (зерен) материала образца 7должпа быть такой, чтобы величина эхо-сигналов от них была равна величине эхо-сигнала от недопустимого внутреннего дефекта. При

10 настройке используются эхо-сигналы,, , отраженные от зерен материала образца, попавших в растр луча ультразвуковых колеб,аний и, как правило, используется максимальное отражение

15 от нескольких зерен материала испытательного образца.

Таким образом, данньп способ по сравнению с известными значительно упрощает процесс астройки дефекто20 с,копа,вследствие исключения трудоемкого и дорогостоящего процесса изготовления испытательных образцов с дефектами на внутренней поверхности труб и, следовательно, облегчает контроль

25 труб малого диа.етра, включай капиллярные трубы.

-Ф о р м у л а изобретения

0 Способ настройки ультразвукового дефектоскопа по испытательному образцу с нормировапньа- и ненормированным отражателями, заключающийся в том, что возбуждают в образце сим. метричные нор,мальные волны S ,

сканируют образец до получения максимальной амплитуды эхо-сигнала от нормированного отражателя, затем, не меняя чувствительности, возбуждаQ ют антисимметричные нормальные волны а , сканируют образец до получения максимальной амплитуды эхо- сигнала от ненормированного отражателя н по полученным параметрам проj изводят настройку дефектоскопа, о тли ч а ю щ и и с я тем, что, с целью упрощения настройки, в ка- ;-честве ненормированного отражателя, используют структурные неоднородности материала испытательного образца, величина зхо-сигналов от которых равна велиг ине зхо-сигнала от недопустимого дефекта.

Тираж 778

Подписное

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий с помощью ультразвука и может быть использовано при контроле особотонкостенных труб, имеющих, в частности, малый внутренний диаметр. Цель изобретения - упрощение настройки ультразвукового дефектоскопа при контроле тонкостенных труб с малым внутренним диаметром. При настройке ультразвукового дефектоскопа по исдата- тельному образцу с нормированным и ненормированным отраукателям1 в честве ненормированного отражателя используют структурные неоднородности материала испытательного образца величина, эхо-сигналов от которых равна величине эхо-сигнала от нeдoпycти oгo дефекта. с & С к ел .1Й со 00