Способ настройки ультразвукового дефектоскопа Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

(54) СПОСОБ НАСТРОЙКИ УЛЬТРАЗВУКОВОГО ДЕФЕКТОСКОПА

Изобретение относится к контрольно измерительной технике и может быть Использовано при ультразвуковом контроле тонкостенных труб. Известен способ настройки ультразвукового дефектоскопа по испытательному образцу, заключанлцийся в том, что на образец наносят нормированные протяженные дефекты (как на наружную так и на внутреннюю его поверхность), определяют чувствительность дефектоскопа путем раздельного сканирования поверхности образца и определения мак симальной амплитуды отраженных сигналов 1 . Дефекты наносят в виде рисок прямоугольной или треугольной формы и . ориентируют их параллельно и перпендикулярно оси испытательного образца (например, трубы). Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ настройки ультразвукового дефекто скопа по испытательному образцу, заключакядийся в том, что на наружную и внутреннюю поверхности образца наносят дефекты, раздельно сканируют наружную и внутреннюю поверхности образца, выявляют максимальные амплитуды отраженных сигналов от дефектов и по ним определяют чувствительность дефектоскопа 2. При Э.ТОМ необходимым условием настройки является максимальное совпадение амплитуд отраженных сигналов от дефектов на внутренней и наружной поверхностях, что обеспечивается подбором соотношений размеров этих дефектов. Недостатками этих способов является большая трудоемкость настройки, обусловленная сложностью нанесения нормированныхj равномерных по протяженности дефектов на поверхности образца (особенно на внутренней поверхности труб малого диаметра) , а также низкая точность настройки из-за сложногти индификации размеров дефектов. Целью изобретения является увеличение точности и снижение трудоемкости настройки. Эта цель достигается за счет того, что дефект на наружной поверхности из готавливают нормированным, наружную поверхность сканируют симметричными So нормальными волнами, определяют чувствительность дефектоскопа поповерхностным дефектам, не изменяя этой чувствительности внутреннюю поверхность сканируют асимметричной о волной и определяют чувствительность по внутренним дефектам. Способ заключается в следукмцем. Наносят нормированный дефект на наружную поверхность испытательного образца, а на внутреннюю поверхность ненормированный дефект. В качестве дефекта может быть применена капля вязкой жидкости, например машинного масла. При иммерсионном варианте устанавливают образец в ванну с жидкостью. С помощью искателя ультразвука возбужда ют симметричную нулевую So волну и сканируют наружную поверхность образца до появления максимального отражен ного сигнала от поверхности дефекта. Фиксируют положение зтого искателя и устанавливают требуемое усилие на эле тронном блоке дефектоскопа. Затем, не изменяя чувствительности дефектоскопа внутреннюю поверхность сканируют асим метричной Эо волной. Это ..можно получить путем изменения угла ввода ультр звуковых колебаний искателя до образо вания волны типа Эо и определяют чувствительность дефектоскопа по внутрен НИМ дефектам при фиксировании максимальной амплитуды. Таким образом, применение изобретения повьшает точность настройки, так как за 3талон при определении чувствительности использован один и тот же нормированный дефект на наружной поверхности испытательного образца. Кроме того, изобретение менее трудоемко, так как отпала необходимость в нанесении нормированного дефекта на внутреннюю поверхность образца. Формула изобретения Способ настройки ультразвукового дефектоскопа по испытательному образцу, заключакнцийся в том, что на наружную и внутреннюю поверхности образца наносят дефекты, раздельно сканируют наружную и внутреннюю поверхности образца, выявляют максимальные амплитуды отраженных сигналов от дефектов и по ним определяют чувствительность дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности и снижения трудоемкости настройки, дефект на наружной поверхности изготавливают нормированным, наружную поверхность сканируют симметричными So нормальными волнами, определяют чувствительность дефектоскопа по поверхностным дефектам, не изменяя этой чувствительности внутреннюю поверхность сканируют асимметричной Зо волной и определяют чувствительность по внутренним дефектам. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.ГОСТ 174Ш-72, стр. 3. 2.Технологическая инструкция ТИ/ВНИТИ 354-17-10-74 (прототип).