Устройство для определения ориентации монокристаллического слитка Советский патент 1986 года по МПК G01N23/20 

иость этой планкиJ к которой примыкает боковая поверхность подвижной планки 7j совпадает с базовой плоскостью приставки-держателя. Вращая слиток вокруг собственной оси в приставке-держателе и вокруг оси гониометра вместе с приставкой-держателем и регистрируя максимум интенсивности отражения, с помощью первой системы ,разметчиков 8 и 17 определяют следы плоскости на обеих ТС, в которой лежит нормаль к ЗКП (на фиг.1 горизонтальная плоскость). Вторая система через неподвижную планку 1А, кронштейн 13, кольцо 12, соосное с гониометром, и переходник 11 закрепляетс на Kqpnyce гониометра так, чтобы боковая поверхность неподвижной планки

i

Изобретение относится к приборостроению, -к оборудованию для рентге- ноструктурного анализа и может быть использовано при калибровке и изготовлении ориентированного базового среза монокристаллических слитков.

Цель изобретения - увеличение информативности при определении ориентации слитка произвольной формы благодаря определению на обоих торцовых поверхностях точек выхода нормали к заданной кристаллографической плоскости или следов пересечения с кристаллографической плоскостью.

На фиг.1 схематически изображено предлагаемое устройство, вид сверху; на фиг.2 - вид. А на фиг.1.

Устройство содержит источник 1 рентгеновского излучения или источник видимого света, гониометр с корпусом 2, на котором установлена приставка-держатель 3 с базовой плоскостью 4, проходящей главную .ось вращения гониометра. Сверху на ставкё-держателе жестко закреплена неподвижная планка 5 и направляющая 6, на которой установлена с возможностью перемещения планка 7. Размеу- чик 8 следов пересечения плоскости-, проходящей через слиток 9, с плоскими его торцами, устанавливается попе переменно на подвижной и неподвижной

16 была параллельна оси гониометра. Эта система вращением по кольцу 12 вокруг гониометра устанавливается перпендикулярно базовой плоскости приставки-держателя, когда последняя находится в рассчитанном угловом положении, соответствующем максимуму отражения от ЗКП. -С помощью второй системы и разметчиков 8 и 17 при регистрации максимума отражения от слитка определяют следы второй плоскости на обеих ТС, в которой лежит нормаль к ЗКП (на фиг.1 вертикальная плоскость). Точки пересечения двух следов на каждом ТС определяют Точки выхода одной и той же нормали к ЗКП, проходящей через весь слиток. 2 ил.

планках с возможностью перемещения по ним перпендикулярно направляющей. Серединная плоскость системы планок 5 и 7 и направляющей 6 (первая систе- ма) параллельна плоскости дифракции, т.е. перпендикулярна главной оси вращения гониометра. Боковая поверхность 10 неподвижной планки, к кото- рой примыкает боковая поверхность

подвижной планки, совпадает с базо- вой плоскостью 4 приставки держателя 3.

К корпусу 2 гониометра с помощью переходника 11, кольца 12, через

центр которого проходит главная ось вращения гониометра, и кронштейна 13 неподвижно закреплена планка 14 и направляющая 15, на которой установлена с возможностью перемещения подвижная планка 16. Разметчик 17 следов пересечения плоскостиj проходящей через слитокj с плоскими его торцами, устанавливается попеременно на подвижной и неподвижной планйах с возможностью перемещения по ним перпендикулярно направляющей.

Серединная плоскость системы планок 14 и 16 и направляющей 16 (вто- -рая система) перпендикулярна плоскости дифракции, т.е. параллельна глав ной оси вращения гониометра. Вторая система планок и направляющих может

312

поворачиваться вокруг главной оси вращения.независимо от приставки держателя слитка с помощью кольца 12 и хомутика 18. Положение хомутика фиксируется на кольце с помощью сто- порного винта 19. Боковая поверхност 20 неподвижной планки 14, к которой примыкает боковая поверхность подвижной планки 16, проходит через главну ось вращения гониометра. Положение подвижных планок 7 и 14 фиксируется на направляющих 6 и 15 с помощью стопорных винтов 21 и 22 соответственно Рентгеновский пучок, отраженный монокристаллическим слитком, регистри- руется детектором рентгеновского излучения 23,

Устройство работает следующим образом.

Монокристаллический слиток 9 поме щают на приставку-держатель 3 и поджимают к базовой плоскости держателя с помощью подвижной планки 7, закрепляя последнюю на направляющей 6 стопорным винтом 21.

Детектор излучения устанавливают на рассчитанный двойной брэгговский узел - 2в, а базовую плоскость 4 держателя. - на рассчитанный угол путем поворота держателя вокруг главной оси гониометра. Затем, вращая вторую систему планок 14 и 5 и направляющей 16 по кольцу 12 также в округ главной оси гониометра, добиваются установки направляющей 16 под углом 90 С к базовой плоскости держателя. Направляют рентгеновский пучок на торец слитка, прижатый к базовой плоскости держателя.

При определении точек выхода нормали к заданной кристаллографической плоскости на плоских торцах слитка произвольной формы производят вращение слитка вокруг оси, перпендикулярной базовой плоскости держателя, и вокруг главной оси гониометра, выводят заданную кристаллографическую плоскость в брэгговское положение, о чем свидетельствует максимальная интенсивность отраженного пучка, ре гистчьиадгемая датчиком излучения 23.

:,

С помощью разметчика Ь, перемещая ;его по неподвижной планке 5, а потом по подвижной планке 7, в направлении,55 перпендикулярном направляющей 6, проводят следы плоскости, перпендикулярной заданной kpиcтaллoгpaфичecкoй пло

5 ь ю)0 . ts-2025

40

45

50

55 844

скости и главной оси вращения го нио- метра, на обоих торцах слитка.

С помощью разметчика 17, перемещая его по неподвижной планке 14, а потом по подвижной планке 16 в направлении, перпендикулярном направляющей 15, проводят следы плоскости, которая также перпендикулярна заданной „кристаллографической плоскости, но параллель- на главной оси вращения гониометра.

Пересечения на торцах слитка следов двух плоскостей, перпендикулярных заданной кристаллографической плоскости, являются точками выхода нормали к заданной кристаллографической плоскости на обоих плоских торцах слитка.

При определении следов пересечения заданной кристаллографической плоскости, проходящей через весь .слиток, с плоскими его торцами, находят точки выхода на торцы слитка нормали к одной кристаллографической плоскости, перпендикулярной заданной, потом находят точки выхода на торцы слитка нормали к другой кристаллографической плоскости, также перпенди- кулярной з аданной, в соответствии с изложенным, а потом на каждом торце точки выходов двух нормалей соединяют прямой линией. Полученные таким образом прямые линии на обоих торцах слитка являются следами пересечения заданной кристаллографической плоскости с плоскими торцами слитка. . ,

Формула изобретения

о

Устройство для определения ориентации монокристаллического слитка, содержащее источник гчлектромагнитно- го излучения, гониометр, приставку- держатель слитка с базовой плоскостью, установленную на гониометре, при этом ось гониометра лежит в базовой плоскости, и разметчик, о т- личающееся тем, что, с целью увеличения информативности при определении ориентации слитка произвольной формы, устройство содержит две взаимно перпендикулярные систе- мы направляющих, неподвижных и подвижных планок, установленных на приставке-держателе и на корпусе гониометра с возможностью перемещения подвижных планок по направля10П1;им параллельно неподвижным планкам с последующей irx фиксацией в каждой системе, при этом одна система через неподвижную плян-

ку закреплена на приставке-держателе с возможностью вращения вместе с ней вокруг оси гониометра, ее серединная плоскость перпендикулярна этой оси, вторая Система установлена на корпусе гониометра с возможностью вращения вокруг оси гониометра независимо от приставки держателя, ее серединная плоскость параллельна этой оси; боковая поверхность неподвижной планки, к которой примыкает боковая поверхность подвижной планки, сов- 5 падает с базовой плоскостью приставки-держателя в первой системе и параллельна оси гониометра во второй системе.

Buff А

Фие. 2

Изобретение относится к оборудованию для рентгеноструктурного анализа и может быть использовано, при калибровке и изготовлении ориентированного базового среза монокристаллических слитков. Изобретение позво ляет увеличить информативность при определении кристаллографической ориентации монокристаллического слитка произвольной формы за счет определения кристаллографической связи между торцами слитка (ТС). Для этого на ТС определяют точки выхода одной и той же нормали к заданной кристаллографической плоскости (ЗКП) и шш) следы пересечения ЗКП. Устройство содержит источник злектромагнитного излучения гониометр, приставку-держатель слитка с базовой плоскостью, установленную на гониометре, разметчик и две взаимно перпендикулярные системь, состоящие из направля рщих, неподвижнвпс и подвижных планок. Ось гониометра лежит в базовой плоскости держателя. Первая система через неподвижную планку 5 жестко закрепляется на приставке- держателе 3 так, что боковая поверкПг сл tc а о sl 00 4h 23

Редактор И.Сегляник

Составитель Е.Сидохин Техред М.Ходанич

Подписное

Заказ 5220/41Тираж 778

ВНИИПИ Государственного Комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

™ - - -«--- .я

Производстненно-пешиграфическое предприятие,г.Ужгород, ул.Проекгная,4

Корректор В.Бутяга

Подписное