Способ перенесения материала пробы на подставной электрод Советский патент 1960 года по МПК G01N27/62 H01J49/00 

Изобретение относится к области спектрального анализа .

Применяемые способы локального спектрального анализа с линейно-рассредоточенной искрой не обладают достаточной кондентрацнонной чувствительностью одновременно по всей, обычно весьма широкой, области изменения концентрации и не устраняют влияния третьих элементов, сильно искажающих количественные определения прн исследовании неоднородных образцов.

Описываемый способ отбора (перенесения) материала образца на подставной электрод электроконтактным методом устраняет влияние третьих элементов и повышает и стабилизирует концентрационную чувствительность метода локального спектрального анализа с линейнорассредоточенной искрой.

Достигается это посредством предварительного линейно-рассредоточенного отбора небольшого количества материала образца на новый подставной электрод из иодходяшего чисто1о мета,|ла, достаточно разномерного по всей длине ребра отбирающего электрода и достаточна точно переносящего картину распределения элементов в образце.

Для этого образец предварительно полируют или шлифуют с целью создания у него плоской и гладкой поверхности, с которой и отбирают пробу путем контактирования под напряжением с подставным электродом, выполненным в виде прямолинейного лезвня или призмы с прямолинейным ребром. При этом соприкосновение образца с электродом должно производиться именно прямолинейной острой его частью и одновременно всеми точками лезвия или ребра призмы. При повторных контактированиях соприкосновение образца и электрода должно происходить строго теми же точками, что и при первом соприкосновении.

Для обеспечения локальности действия электрического разряда при контактировании образца с подставным электродом должны быть пра.V 127061V

ВИЛЬНО выбраны наиряженш я емкости конденса1ора. Hciio.abayejMoix ;, отбираницрм.устройстве, причем напряжение и емкость ло„1Жны быт., относительнон(велик11.

На,чертаж - ндказана схема иключения конденсатс)1)а.

В схему шлифовальный образец /1, электрод б, конденсатор И e.MKocTbfr) ото До 20 .и/а/, источник тока Г напряжением 20-30 «. K.fifOM цепи зарядки К и коммутирующий ключ К лия изменения полярности разряда. Образец соприкасается с электродом по линии . выбранной для исследования. Отбор производится с помощью вибр тора. обеспечивающего лри повторных контактах соприкосновение образца и электрода всегда строго одними и теми же точка.ми, для чег( конструкн.ия вибратора исключать возможность электрода в направлениях, не совпа.,их с направлением раб(его движения электрода.

В качестве э.лектр }да. в зависимости от характера анализируемого образца, могут применят1 ся лезвия безопасной брнтвы, фольга или иризмы из чистых элементов.

После переноса на локально-иодобны.х проб-наплавок ег) устанавливают в лаяке-держателс локально-спектральной установк; против другого электрода, выполненного в виде плоского шлифа из того уке чистого элемента, из которого сделан подставной электрод для отбо f)a пробы. Д1ежду обоими электродами создают высокочастотную ли нейно-рассредоточенную искру, спектр которой фотографирует. Режим разряда и время экспозиции при фотографировании должны обесне чивать обязательное no/iHoe сжигание г)тобранн(Н1 пробы.

Г1 ре л м 1 II Л о б р е т ( II II V.

Способ отбора, (перенесения) мате)иала образца на подставной электрод электроконтактным методом, t) тл и ч а ю щ и и с я тем, что, с целью устранения влияния третьих элементов и иовыщения и стабили зации концентрационной чувствительности метода локального спектрального анализа с линейно-рассредоточенной искрой, отбор пробы осуществляют с плоской полированной илн шлифованной поверхности образца электродом, вынолненным в виде прямолинейного лезвия или призмы с прямолинейным ребром, причем соприкосновение электрода с образцом производят одновременно всеми точками лезвия или ребра призмы, обеспечивая при повторных контактированиях соприкосновен .электрода н образца строто темн же точками, что и при первом соприкосновении.