Изобретение относится к области электронной микроскопии, в частности к системам формирования электронного зонда в растровых электронных мик- / роскопах (РЭМ).
Целью изобретения является уменьшение времени анализа в РЭМ при упрощении конструкции системы, что достигается за счет компенсации,флуктуации энергетических параметров зонда.
На чертеже представлена схема зондоформирующей системы РЭМ.
Источник 1 электронов соединен с высоковольтным блоком 2 питания, выход переменной составляющей напряжения которого электрически соединен с магнитопроводом 3 фокусирующей магнитной линзы и объектодержателем А. Объект 5 установлен на объектодержателе 4 через изолирукицую прокладку 6, а магнитопровод 3 фокусирующей линзы размещен на изоляторе 7.
Сущность изобретения заключается в том, что при флуктуациях высокого напряжения его переменная составляющая подается на проводящий магнитопровод 3 фокусирующей Линзы и объектодержатель 4. При этом обеспечивается постоянство энергии электронов
зонда относительно эквипотенциальной области, ограниченной фокусирующей линзой и объектодержателем, и , следовательно, постоянство фокусного расстояния линзы независимо от колебаний энергии электронов. В результате повьшается стабильность вторично-эмиссионного сигнала и уровень тока зонда, что позволяет сократить время . Введение предложенных обратных связей достаточно просто может быть реализовано для серийно вьтускаемых РЭМ.
Формула изобретения
Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа, содержащая источник электронов, соединенньтй с высоковольтным блоком питания, фокусирующую магнитную линзу с магнитопроводом и объектодержатель, о тличающаяся тем, что, с целью уменьшения времени анализа при упрощении конструкции системы, выход переменной составляющей напряжения высоковольтного блока питания электрически соединен с магнитопроводом и объектодержателем.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Растровый электронный микроскоп | 1983 |
|
SU1275586A1 |
Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора | 1986 |
|
SU1465922A1 |
Способ наблюдения ЦМД-структур | 1986 |
|
SU1396025A1 |
Анализатор энергий электронов | 1988 |
|
SU1661869A1 |
Сканирующее устройство для кристаллографических исследований | 1980 |
|
SU920895A1 |
Устройство для контроля поверхностных микропотенциалов | 1985 |
|
SU1582226A1 |
Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы | 1983 |
|
SU1157589A1 |
Способ восстанавливающего контроля микроструктур | 1989 |
|
SU1711259A1 |
Устройство автоматической фокусировки изображения в растровом электронном микроскопе | 1980 |
|
SU942189A1 |
Растровый электронный микроскоп | 1974 |
|
SU517080A1 |
Изобретение относится к системам формирования электронного зойда в растровых электронных микроскопах. Цель изобретения - уменьшение времени анализа и упрощение конструкции. .При флуктуациях высокого напряжения его переменная составляющая подается на провод5пцнй магнитопровод 3 фокусирующей линзы и объектодержатель 4. При этом обеспечивается постоянство энергии электронов зондов относительно эквипотенциальной области, ограниченной фокусирующей линзой и объгктодержателем 4. Таким образом, постоянство фокусного расстояния линзы независимо от колебаний энергии электронов. В результате повышается стабильность вторично-эмисс S сионного сигнала и уровень тока зонда, что сокращает время анализа. (Л I ил.
СПОСОБ ОЧИСТКИ СТОЧНЫХ ВОД НЕФТЕПЕРЕРАБАТЫВАЮЩИХ И НЕФТЕХИМИЧЕСКИХ ПРОИЗВОДСТВ ОТ ТОЛУОЛА | 2016 |
|
RU2640260C1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Чугунный экономайзер с вертикально-расположенными трубами с поперечными ребрами | 1911 |
|
SU1978A1 |
Импульсный корпускулярный микроскоп | 1981 |
|
SU983822A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1986-12-07—Публикация
1983-10-27—Подача