Для ИСследОвания тепловых процессов применяют криостаты, состоящие из заполненного хладоагентом сосуда Дьюара, присоединенного к вакуум-насосу, и нагревательного устройства.
Предлагаемый криостат более совершенен по сравнению с известными приборами, так как он дает возможность проводить исследованне образцов в широком диапазоне температур, порядка от 30 до 300°.К. Это достигается тем, что камера для исследуемого образца размещена под днищем сосуда Дьюара, боковая цилиидрическая стенка которой снабжена обмотками нагревателя и термометра сопр отивления.
На фиг. 1 изображена принципиальная схема предлагаемого криостата; «а фиг. 2 - схема расположения его нагревательной и измерительной обмоток.
Криостат лредстаеляет собою разборный сосуд . Нижняя его отъемиая часть / и верхняя часть 2 и.меют притертые фланцы 3, обеспечивающие вакуумное соединение. Внутренняя полость крИОстата эвакуируется диффузионным насосом, который не выключается и зо время проведения эксперимента. Под сосудом Дьюара расположена камера, -выполнеиная в виде м едного стакана 4, в которую по трубке 5 Подается газообразный телий 6, служащий теплообменной средой между хладоа нтом 7 И исследуемым 1образцом 8, установленньгм внутри медного стакана 4 с помощью цанги 9. Вакуумное уплотнение между крыи:кой цанги 9 и медным стаканом 4 обеспечивается путем свинцовой Прокладки 10.
На цилиндрической часпи медного стакана 4 расположены нагревательздая обмотка // и обмотка 12 платинового термометра сопротивления. Выводы от этих обмоток проходят по трубке, котора1Я служит для откачки внутренней полости сосзда Дьюара, и выводятся наружу через воронки, которые затем уплотняются пицеином. Изменяя величину тока в нагревательной обмотке 11, можно регуЛИровать темлературу исследуемого образца 8 при определенном давлении гелия внутри стакана 4.
11 р с д м е т и зоб J) е т с и и я
Криостат, состоящий из 3ano;H-ieiiHoio хладоагенто. сосуда Дьюара, Присоедииенного к вакуум-насосу, и нагревате,чьното устройства, отличающийся тем, что, с целью возможности про-ведеиия исследюва«ий образцов в шщюком диатшзояе температур, порядка от 30 до 300° К, камера для исследуемого образца размещена под днищем сосуда Дьюара, бокозая цилиндрическая стенка снабжена обмотками иа превателя и термометра сопротивления.
Фиг./
Фиг 2
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Криостат для исследования электрофизических свойств полупроводниковых материалов | 1989 |
|
SU1686280A1 |
КРИОСТАТ | 2000 |
|
RU2198356C2 |
Криостат | 1987 |
|
SU1537949A1 |
Криостат для охлаждения детекторов | 1978 |
|
SU763651A1 |
Криостат для рентгеновского дифрактометра | 1978 |
|
SU693804A1 |
Криостат | 1990 |
|
SU1747825A1 |
Устройство для исследования кристаллизации молекулярных жидкостей | 1983 |
|
SU1116833A1 |
КРИОСТАТ | 2005 |
|
RU2304745C1 |
КРИОСТАТ ДЛЯ СТРУКТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ | 1972 |
|
SU335508A1 |
УСТРОЙСТВО для снятия ТЕРМОМЕХАНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИМЕРНЬ]Х МАТЕРИАЛОВ | 1968 |
|
SU220619A1 |
Авторы
Даты
1960-01-01—Публикация
1959-08-15—Подача