Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу с фотографической регистрацией спектров и может найти применение при проведении визуального спектрального анализа.
Цель изобретения - повьппение точности и производительности визуального анализа за счет одновременного рассмотрения спектрограмм исследуемой и эталонной фотопластинок на экране однолучевого спектропроекто- ра и четкой фиксации положения спектров эталонной фотопластинки, что позволяет автоматизировать процесс выдачи результатов анализа,
На фиг.1 изображено устройство, общий ВИД) на фиг. 2 - вид А на фиг.1 на фиг.З - вид Б на фиг.1; на фиг. 4 держатель эталонной фотопластинки, вид снизу.
Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе содержит станину 1, осветительную 2 и проекционную оптическую системы, проекционный экран 3 и предметный столик 4 механизм 5 перемещения предметного столика с исследуемой фотопластинкой 6. На станине 4 расположен второй предметный столик, состоящий из направляющей 7 с ползуном 8 и ручкой 9, установленной шарнирно с осью вращения 10 в горизонтальной плоскости, причем один конец ручки 9 шарнирно связан с ползуном 8, а другой конец ручки 9 является стрелкой и расположен над шкалой градуировки 11. На исследуемой фотопластинке 6 под объективом 12 проекционной оптической системы установлена эмульсией вниз эталонная фотопластинка 13 с держателем 14 в виде бруска со сквозным отверстием 15, через которое проходит световой поток и через которое можно спроектировать на экран 3 спектры. На нижней поверхности держателя 14 выполнено ребро 16, высота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17. Между ребром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.
Устройство работает -следующим образом.
O
5
0
Для проведения анализа спектры исследуемых проб и эталонов фотографируются на фотопластинках на расстоянии друг от друга несколько большим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительно меньше исследуемой фотопластинки 6 и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых при расшифровке спектров. На предметный столик 4 закрепляется исследуемая фотопластинка вверх эмульсионным слоем, а в держатель 14 вставляется вниз эмульсионньпч слоем эталонная фотопластинка 13 между ребром 16 и плоской пружиной 17, под действием которой держатель 14 прижимает эталонную фотопластинку 13 к исследуемой- фотопластинке 6, сближая их эмульсионные слои. Устройство настраивается на резкое изображение спектрограмм обеих фотопластинок, это оказывается возможным за счет близкого расположения (соприкосновения) эмульсионных слоев исследуемой и эталонной фотопластинок. При этом на экране 3 видны одновременно спектры обеих пластинок.
В силу того, что спектрограммы
эталонной и исследуемой фотопластинок снимаются на одном и том же спектрографе и в одинаковых условиях, для совмещения,их спектров достаточно совместить края фотопластинок (концы
5 спектрограмм) или производить.совмещение спектрограмм по наиболее ясно вьщеляющимся характерным линиям cfieK- тров Fe, Mg и т.п., рассматривая одновременно все cneKTporpaMNai исследу0 емой и эталонной фотопластинок. Затем с помощью ручки 9, шарнирно связанной с ползуном 8, перемещают держатель 14 с эталонной фотопластинкой 13 и подводят к спектру исследуемой
5 фотопластинки 6. При этом спектры эталонной фотопластинки 13 необходимо располагать по обе стороны от исследуемого спектра так, чтобы почернение аналитической линии в одном из
0 эталонов было меньше, чем в исследуемом спектре, а в другом больше. Та-, кой метод оценки почернения аналитической линии позволяет по положению ручки 9 над шкалой градуировки 11 нозначно определить какой спектр эталонной фотопластинки 13 подведен к исследуемому спектру и оценить содержание того или иного элемента в исследуемой пробе.
31317289
ормула изобретен1т я
ше ви по ны
Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе, содержащее станину, осветительную систему и расположенные по ходу излучения предметный столик, на котором помещена исследуемая фотопластинка, проекционную оптическую систему, проекционный экран, причем исследуемая фотопластинка расположена чувствительным слоем в сторону проекционной системы, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности визуального анализа, устройство дополнительно содержит второй предметный столик с эталонной фотопластинкой, расположенный между первым предметным столиком и проекционной системой, с возможностью перемещения параллельно плоскости первого столика, и шкалу отсчета перемещений, жестко
связанную со станиной, причем эталонная фотопластинка расположена таким образом, что ее чувствительный слой соприкасается с чувствительным слоем исследуемой фотопластинки.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА | 1990 |
|
RU2029257C1 |
Устройство для спектрального анализа | 1980 |
|
SU911177A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА | 1991 |
|
RU2031375C1 |
СПОСОБ АНАЛИЗА ФАЗОВОГО СОСТАВА ПОРОШКОВЫХ ПРОБ МИНЕРАЛОВ | 1992 |
|
RU2057323C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА | 1991 |
|
RU2011966C1 |
Микрофотометр | 1975 |
|
SU826201A1 |
Устройство для обработки спектросенситограмм | 1982 |
|
SU1116328A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АБРАЗИВНОЙ ИЗНОСОСТОЙКОСТИ ГЕТЕРОГЕННЫХ МАТЕРИАЛОВ | 1991 |
|
RU2029943C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ МАССОВЫХ ДОЛЕЙ ЭЛЕМЕНТОВ В МАТЕРИАЛАХ И СПЛАВАХ | 1990 |
|
RU2035718C1 |
Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра | 1985 |
|
SU1318801A1 |
Изобретение относится к области эмиссионного спектрального анализа ,с фотографической регистрацией спектров. Целью изобретения является по- вьшение точности и производительности визуального анализа за счет одновременного рассмотрения спектрограмм исследуемой и эталонной фотопластинок на экране однолучевого спектро- проектора. С помощью ручки 9 дополнительно введенный предметный столик с закрепленной на нем эталонной пластиной 13 перемещается относительно предметного столика 4 для совмещения исследуемых и эталонных спектрограмм. Соприкосновение чувствительных слоев эталонной фотопластинки 13 и исследуемой фотопластинки 6 позволяет настраивать спектропроектор на резкое изображение спектров как на эталонной, так и на исследуемой фотопластинках, что позволяет одновременно исследовать эталонный и исследуемый спектры и в свою очередь, приводит к повышению скорости обработки спектров. 4 ил. i (Я SuffS 1S о) ® Ф Ф VJ срие.З
дзиг.1
фиг2
75
17
Редактор В.Ковтун
Составитель С«Заводов Техред А.Кра вчук
Заказ 2412/36 Тираж 776Подписное
ВНИИШ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
„ „ --- - --- -
Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная,4
Корректор .Демчик
Основы качественного спектрального анализа руд и минералов, 1978, с.84-91 | |||
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов | 1917 |
|
SU2A1 |
(Проспект фирмы Карл Цейсе ЙЕНа, 1973). |
Авторы
Даты
1987-06-15—Публикация
1985-06-13—Подача