Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра Советский патент 1987 года по МПК G01J1/02 G01J3/30 

Изобретение от носится к области эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектров.

Целью изобретения является повышение П1 оизводительности за счет ускорения процесса выведения аналитической линии на .щель микрофотометра, повьшение точности и чувствительности (снижение нижнего предела определения элементов) эмиссионного спектрального анализа.

Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра заключается в том, что вначале изготавливают шаблон, для создания которого необходимо спроектировать на экран микрофотометра исследуемый участок спектра рабочего стандартного образца или пробы, положить на экран плот- 20 спектрального определения лантана

ную бумагу (шаблон) и отметить положение реперных линий. Аналитическая спектральная линия определяемого элемента должна находиться в центре

(La) обычно используется аналитиче кая спектральная линия Д 324,51 Расположение наиболее характерных спектральных линий,нм: Fe 323,93;

шаблона и отмечена, например, стрел- 25 324,42; 324,60; 324,74; 324,82;,. Ti

кой. После изготовления шаблона его располагают у щели в плоскости экрана микрофотометра, а на предметном столе микрофотометра устанавливают фотопластинку со спектрами исследуемых проб, затем проектируют на экране микрофотометра участок спектра рабочего стандартного образца и ориентируют шаблон совмещением его реперных линий со спектральными линиями рабочего стандартного образца. Установленный таким образом шаблон должен оставаться в одном и том же положении в течение всего фотометри- рования исследуемой линии. Затем осуществляется фотометрирование спек- - тральных линий исследуемых проб путем выведения участка спектра, где расположена спектральная линия определяемого элемента, на щель микрофотометра. Перемещая спектр с помощью микровинта микрофотометра, совмещают спектральные линии выведенного участка спектра исследуемой пробы с ре- перными линиями шаблона. При совмещении этих линий на щели микрофотометра окажется аналитическая спектральная линия определяемого элемента. Показания гальванометра микрофотометра будут близки к максимальному почернению спектральной линии. Затем проводят микроперемещения и берут максимальный отсчет гальванометра. Если при максимальном отсчете репер323,90; 324,20i 325,.19; Мп 324,38; 324,85; Zr 324,10; Ni 324,31; Си 324,75; La 324,24 и т.д.-реперных линий 1 в спектре вблизи аналитиче

30 кой линии La 324,51 нм, обычно при сутствующих в спектрах проб и стан дартных образцов, показано на шаб лоне 2 (фиг. 1). Шаблон 2 располаг в плоскости экрана 3 у щели 4 микр

35 фотометра. Затем на экран 3 проект руе.тся участок спектра рабочего ст дартного образца 5, в котором хоро видна аналитическая линия La 324,5 (это делается обычно по максималь40 ному показанию гальванометра), ее выводят на щель 4 микрофотометра.В J apтины в этом случае на экране 3 микрофотометра показан на фиг. 2, После этого необходимо тщательно с

45 местить, перемещая шаблон 2, наибо шее число реперных линий 1 шаблона 2 со спектральными линиями спектра стандартного образца 5, при этом отмеченная на шаблоне 2 стрелкой

50 аналитическая линия исследуемого э мента La 324,51 оказывается напрот щели 4 микрофотометра (фиг. 3). Вы ранное таким образом положение шаб лона 2 должно сохраняться во всех

55 последующих измерениях почернений аналитической линии La 324,51 нм в спектрах исследуемых проб. Убрав п ремещением стола микрофотометра спектр рабочего стандартного образ

ные линии шаблона не совмещаются со спектральными линиями спектра исследуемой пробы, то на щель микрофотометра выведена не спектральная линия определяемого элемента.

На фиг, 1 схематично показано положение шаблона относительно щели микрофотометра; на фиг. 2 - спектр рабочего стандартного образца с выведенной на щель микрофотометра аналитической линией , на фиг. 3 - репер- ные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями рабочего стандартного образца (аналитическая линия расположена напротив щели (как ее продолжение); на фиг. 4 - репер- ные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями спектра проб. Пример , Для эмиссионного

(La) обычно используется аналитическая спектральная линия Д 324,51 нм. Расположение наиболее характерных спектральных линий,нм: Fe 323,93;

324,42; 324,60; 324,74; 324,82;,. Ti

323,90; 324,20i 325,.19; Мп 324,38; 324,85; Zr 324,10; Ni 324,31; Си 324,75; La 324,24 и т.д.-реперных линий 1 в спектре вблизи аналитической линии La 324,51 нм, обычно присутствующих в спектрах проб и стандартных образцов, показано на шаблоне 2 (фиг. 1). Шаблон 2 располагают в плоскости экрана 3 у щели 4 микрофотометра. Затем на экран 3 проекти- руе.тся участок спектра рабочего стандартного образца 5, в котором хорошо видна аналитическая линия La 324,51 нм (это делается обычно по максимальному показанию гальванометра), ее выводят на щель 4 микрофотометра.Вид apтины в этом случае на экране 3 микрофотометра показан на фиг. 2, После этого необходимо тщательно совместить, перемещая шаблон 2, наиболь-. шее число реперных линий 1 шаблона 2 со спектральными линиями спектра стандартного образца 5, при этом отмеченная на шаблоне 2 стрелкой

аналитическая линия исследуемого элемента La 324,51 оказывается напротив щели 4 микрофотометра (фиг. 3). Выбранное таким образом положение шабона 2 должно сохраняться во всех

последующих измерениях почернений аналитической линии La 324,51 нм в спектрах исследуемых проб. Убрав перемещением стола микрофотометра спектр рабочего стандартного образца 5, на экран 3 проектируют спектр исследуемой пробы 6 и совмещают наиболее характерные спектральные линии спектра пробы 6 с реперными линиями 1 шаблона 2 (фиг г 4). При этом аналитическая линия La 324,51 нм (или место, где она должна быть) будет выведена на щель 4 микрофотометра. Значение почернения ее бурет по максимальному показанию гальванометра. Если при нахождении максимума, спектральные линии спектра пробы не совпадают с реперными линиями 1 шаблона 2, то на щели 4 находится не искомая аналитическая линия La 324,51 нм. При этом делается заключение о том, что линия La 324,51 нм отсутствует в спектре пробы.

Формула изобретения

Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра, заключающийся в установке на его предметном столе фотопластинки со спектрами

исследуемых проб и последующей ориентации спектральных линий спектра сравнения и спектра исследуемых проб относительно щели микрофотометра по максимальному показанию его гальванометра при выведении не щель аналитической спектральной линии, отличающийся тем, что, с целью повьппения скорости вьтедения спектральных линий, спектр сравнения изготавливают в виде щаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями, проекти- .руют на экран микрофотометра участок спектра рабочего стандартного образца и вьшодят аналитическую линию на щель микрофотометра, устанавливают шаблон в плоскости экрана параллельно спектру рабочего образца и совмещают реперные линии шаблона с лини ями рабочего образца, затем заменяют спектр рабочего стандартного образца спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона.

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу. Цель изобретения - повысить производительность анализа за счет повышения скорости выведения линий на щель микрофотометра (МФ). Спектр сравнения изготавливают в виде шаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями.На щель МФ проецируют анйлитическую линию со спектра рабочего стандартного образца (РСО). Шаблон устанавливают в плоскости экрана МФ так, чтобы его , реперные линии совместились с линиями РСО. Заменяют спектр РСО.спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона. При этом на щель МФ будет выведена длина волны, соответ- ствзтощая аналитической линии. Использование шаблона, установленного непосредственно у щели МФ, повьштает скорость выведения аналитической линии на щель МФ. 4 ил. i сл 00 00

Фие.1

Фиг. 2

Фиг.З

Фи$.