Способ определения деформаций образца грунта Советский патент 1987 года по МПК G01B11/16 

1

Изобретение относится к способу определения деформированного состояния грунта оптическими методами.

Цель изобретения - повышение точности за счет применения регулярного растра, нанесенного на резиновую оболочку, в которую помещен образец,

Способ осуществляют следующим образом.

На поверхность прозрачной дилинд- рической резиновой оболочки, контактирующую с образцом, наносят сеточный растр, представляющий собой пересечение окружностей и вертикалей под прямым углом. В эластичную (резиновую) оболочку помещают образед в виде цилиндра. Концы резиновой оболочки жестко закрепляют в верхнем и нижнем поршнях нагрузочного приспособления, осуществляющего осевое сжатие образца. Натягом резиновой оболоч,ки на образец и закреплением ее концов в нижнем и верхнем поршнях обеспечивают

совместную деформацию образца и рези- 25 гидростатическом сжатии изготавливановой оболочки. Для устранения погрешности, вызванной деформацией резиновой оболочки, имеющей конечную толщину, растр наносят на внутреннюю

поверхность оболочки, контактирующую зо деформации по предлагаемому спос образцом. Образец с надетой на него резиновой оболочкой фотографируют одновременно с двух противоположных сторон до и после деформирования. Затем накладывают негативное изображение недеформированного образца на позитивное изображение деформированного образца и изменяют масштаб одного из изображений образца до величины, при которой муаровые полосы располагаются только в одном направлении, и продолжают изменять масштаб изображения до величины, при которой муаровые полосы располагаются только перпендикулярно первому направлению, Например, для определения деформации ,j вдоль оси образца изменяют масштаб позитивного изображения до величины, при которой муаровые полосы располагаются только вдоль оси образца,тогда

. i;

Де-Р

Ь;

- ь;

де Ь;

Ь;

длина линии вдоль оси образца на позитивном изображении с измененным масштабом;

ВНИППИ Заказ 5767/37

Произв.-полигр, пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Ь| - длина линии вдоль оси образца на позитивном изображении с исходным мас- . штабом.

Для определения поперечной деформации цилиндрической поверхности образца продолжают изменять масштаб изображения до величины, при которой муаровые полосы располагаются только перпендикулярно первому направлению,

ЛСФ

а 1

тогда

с

(г; - -а.

Aftp

где а; - длина линии, перпендикулярной оси образца на позитивном изображении, с измененным масштабом; а; - длина линии, перпендикулярной оси образца на позитивном изображении, с исходным масштабом. Для определения деформаций образца относительно состояния образца пр

ют негативное изображение образца при гидростатическом сжатии и принимают его за негативное изображение кеде- формированного образца при определеобу,

ормула изобретения

Способ определения деформаций образца грунта, заключающийся в том,

что фотографируют образец до и после его деформации, накладывают,негативное изображение недеформированного образца на позитивное изображение деформированного образца и по картине

муаровых полос определяют деформации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, на образец надевают прозрачную эластичную оболочку, на поверхность которой,

контактирующую с образцом, нанесен сеточный растр, а после наложения изображений изменяют масштаб одного из изображений образца до величины, при которой муаровые полосы будут

расположены только в одном направлении, и продолжают изменять масштаб изображения до величины, при которой муаровые полосы будут расположены только перпендикулярно первому направлению, а при определении деформации учитывают величины изменения масштаба изображения, раж 677 Подписное

Изобретение относится к определению деформированного состояния грунта оптическими-методами. Цель изобретения - повышение точности определения деформации. Для этого на внутреннюю поверхность прозрачной резиновой оболочки наносят сеточный растр. В резиновую оболочку помещают образец в виде.цилиндра. Образец с надетой на него резиновой оболочкой фотографируют одновременно с двух противоположных сторон до и после деформирования . Затем накладывают негативное изображение недеформированного образца на позитивное изображение деформированного образца и изменяют масштаб одного из изображений образца, а при определении деформации учитывают величины изменения масштаба изображения. (Л 00 ел ел оо а 4