СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ Советский патент 1973 года по МПК G01B11/16 

1

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть применено для исследования напряженео-деформированного состояния элементов конструкций и деталей машин.

Известен способ определения, деформаций, заключающийся в том, что на исследуемую деталь и эталон наносят сетки в виде нерегулярного растра, фотографируют эталонную сетку и сетку детали после приложения к детали нагрузки, накладывают один: негатив на другой и по образующейся муаровой картине, т. е. по изменению геометрии муаровых .полос, определяют деформацию.

Недостатком известного способа является невысокая точность при определении деформаций в анизатропном материале.

С целью повышения точности измерения по предложенному способу после наложения негативов перемещают их один1 относительно другого и по образующейся муаровой картине определяют деформацию по отношению величин перемещений (скоростей) негатива сетки деформированной детали и муарового пятна.

Способ реализуется следующим образом.

На исследуемую деталь и эталон наносят сетки в виде нерегулярного растра, фотографируют эталонную сетку и сетку детали после приложения к детали вагрузки, совмещают негативы деформированной сетки детали и эталонной недеформированной сетки, перемещают их один относительно другого, причем перемещение этих сеток вызывает перемещение муарового пятна. Изучив перемещение деформированного растра и перемещение муарового пятна, определяют деформацию по следующим зависимостям:

алглг

- УУ

ух

ху

-f

8„ :

Тту

где Sx, Sy - перемещение муарового пятна вдоль осей X « у, соответствен но;

ахх, dyy-проекции перемещения деформированного растра, где , Оху

первый индекс отмечает ось, ва

которую проектируется перемещение, а второй - указывает на направление, в котором перемещалось при этом муаровое пятно.

Деформация может быть определена, если вместо измерений перемещений деформированного растра и муарового пятна измерять их скорости:

+

г уу

ух

Y -

&у

ixy - ..

Xу

где Vx, Vy - скорости перемещения муарового пятеа вдоль осей X к у, соответственно;3. Vxx, Vyy, Vyx, Vxy - скорости перемещения деформированного растра, где первый индекс указывает на направление, в котором они определялись,5 а второй - направление перемещения муарового лятна. Предмет изобретения Ю Способ определения деформаций, заключающийся в том, что на исследуемую деталь 4 и эталон наносят сетки в виде нерегулярного растра, фотографируют эталонную сетку и сетку детали после приложения к детали нагрузки, накладывают один негатив ва другой и по образующейся муаровой картине определяют деформацию, отличающийся тем, что, с целью повышен-ия точности измерения, после наложения негативов перемещают их ОДИН1 относительно другого и по образующейся муаровой картине определяют деформацию по отношению величин перемещений (скоростей) негатива сетки деформированной детали и муарового пятнл.