Способ определения деформаций образца Советский патент 1980 года по МПК G01B11/16 

Описание патента на изобретение SU711351A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть испол зовано для определения деформаций образца. Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что образец разрезают, на плоскость разреза .наносят эталонны растр, образец соединяют, дефо1 1ируют и снова разъединяют, затем на деформированный растр накладывают эталонный растр и по полученной муаровой картине полос определяют деформации 1 . Однако применение способа весьм трудоемко, так как необходима разрезка образца и нанесение растра. Известен способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что изготавливают микрошлиф образца, получают фотоизображения микроструктуры до и после деформирования образца, на фотоизображени ях микроструктуры отмечают характе ные точки (обычно точки резкого из менения контура зерна, выступы, вп дины и др.) и измеряют расстояния между ними, по которым определяют деформации 2. Целью изобретения является снижение трудоемкости. Это достигается тем, что на негативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение микроструктуры до и после деформирования образца, совмещают эти фотоизображения и поворачивают негативное изображение .относительно позитивного до появления муарового пятна, по диаметру которого взаимному углу поворота фотоизображений микроструктуры до и после деформирования образца определяют его деформации. Сущность способа заключается в том, что изготавливают на фотопластинках негативное и позитивное изображения недеформированной микроструктуры. Затем на негативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение, совмещают эти фотоизображения так, чтобы темные места зерен микрострук- туры совпали со свет.пьми, и поворачивают негативное изображение относительно позитивного до появления муарового пятна. Измеряют угол поворота, размер муарового пятна и по его размеру определяют диаметр верна микроструктуры до деформации как произведение размера пятна на угол поворота.

После деформации образца фотографируют и изготавливают негативное .и позитивное изображения деформированной микроструктуры, которые совмещают одно с другим, поворачивают одно фотоизображение относительно другого так, чтобы при этом образовалось муаровое пятно, затем указанным способом вычисляют диаметр зерна микроструктуры после деформации. Зная диаметр зерен микроструктуры до и после деформации, определяют значения деформации в точке как отношение разности исходного и деформированного зерен микроструктуры к диаметру зерна исходной микрострутуры .

Применение предлагаемого способа позволит определить величину пластической деформации в узких труднодоступных зонах исследуемой детали, а также снизит трудоемкость способа за счет уменьшения количества измерений.

Формула изобретения Способ определения деформаций образца, заключающийся в том, что изготавливают микрошлиф образца, получают фотоизображения микроструктуры до и после деформирования образца, по которым определяют деформации, отличающийс я тем, что, с целью снижения трудоемкости, на негативное изображение микроструктуры накладывают соответствующее позитивное изображение микроструктуры до и после деформирования образца, совмщают эти фотоизображения и поворачивают негативное изображение относительно позитивного до появления муарового -пятна, по диаметру которого и взаимному углу поворота фотоизображений микроструктуры до и после деформирования образца определяют его деформации.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Сборник трудов Магнитогорского горно-металлургического института. Выпуск 340, 1974, с, 98.

2.Губкин С.И, Пластическая деформация-металлов, М., Металлургиэдат, т. 1, 1961, с, 157 (прототип)

Похожие патенты SU711351A1

название год авторы номер документа
Способ определения деформаций образца грунта 1986
  • Алпысова Вера Алексеевна
SU1355864A1
Способ определения деформаций 1977
  • Сегал Владимир Миронович
  • Резников Вульф Израйлевич
SU637703A1
Способ определения деформаций объекта 1978
  • Лисицын Владимир Николаевич
  • Лукьянова Светлана Андреевна
  • Сагов Магомет Салиханович
  • Свиденко Владимир Николаевич
  • Тулеушев Адил Жианшакович
SU769317A1
Способ определения деформаций и образец для его осуществления 1990
  • Бахтин Вячеслав Геннадьевич
  • Казеннов Михаил Борисович
  • Коновалова Наталья Ивановна
  • Перк Ольга Николаевна
  • Шарафутдинов Риф Габдрауфович
  • Шубин Михаил Викторович
SU1711000A1
РАСТРОВО-МУАРОВАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА 2014
  • Давыдов Григорий Владимирович
RU2596948C2
Способ получения и фиксирования картины муаровых полос 1989
  • Колмогоров Герман Леонидович
  • Конников Герман Германович
  • Скиба Константин Викторович
  • Ширинкин Сергей Николаевич
  • Макарова Луиза Евгеньевна
SU1716323A1
МЕТОД ПОЛУЧЕНИЯ ПОЛУФАБРИКАТОВ ИЗ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ПСЕВДОПОРОШКОВОЙ МЕТАЛЛУРГИЕЙ 2001
  • Кайбышев О.А.
  • Бердин В.К.
RU2208063C2
Способ измерения скоростей пластического течения образца 1978
  • Сегал Владимир Миронович
  • Резников Вульф Израйлевич
SU702242A1
Способ определения деформаций образца 1976
  • Ларин Геннадий Васильевич
  • Буйновский Анатолий Михайлович
SU669183A1
Способ испытания грунта и устройство для его осуществления 1984
  • Алпысова Вера Алексеевна
  • Трощенков Эдуард Дмитриевич
SU1239591A1

Реферат патента 1980 года Способ определения деформаций образца

Формула изобретения SU 711 351 A1

SU 711 351 A1

Авторы

Ларин Геннадий Васильевич

Даты

1980-01-25Публикация

1978-06-28Подача