Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения Советский патент 1988 года по МПК G01B7/16 

(Л

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам градуировки тензорезисторов.

Цель изобретения - повышение точ- ности измерения деформаций консольной тензобалки равного сечения в зоне наклейки градуируемого тензорезистора.

На чертеже представлена схема реализации предлагаемого способа.

На чертеже обозначено: 1 - градуи- ровочная консольная тензобалка равного сечения; 2 - градуируемый тензоре- Зистор; Р - воздействующая нагрузка; JL и h - длина и толщина тензобал- ки; f - прогиб тензобалки в точке d при нагружении I и в точке с при на- Гружении II; а-координата фиксированной точки с.

Способ осуществляют следующим об- разом.

Измеряют длину 1 и толщину h ненагруженной балки с наклеенным тензо- резистором 2. 5чтем балку 1 дважды (нагружают: первый раз - до получе- :ния прогиба f, который измеряют, в точке d, а второй раз - до получения такого же прогиба f в фиксированной точке с, отстоящей от конечной точки

d на расстоянии а. При первом и втором нагружениях фиксируют соответственно изменения сопротивления градуируемого тензорезистора uR, и uR. Градуировочную деформацию 6, балки в зоне наклейки тензорезистора при первом нагружении определяют по формуле

Р - ID S f

( 1-а )

где

m

u,Rj R Точность определения ,повьшается примерно в 2 раза благодаря исключению из, расчетной формулы значения координаты X места наклейки тензорезистора, которая при изгибе балки изменяется и не может быть надежно измерена.

Формула изобретения

Способ определения деформации градуировочной консольной тензобалки равного сечения, заключающийся в том, что измеряют длину и толщину балки, изгиба1от балку нагружением ее- свободного конца и измеряют ее максимальный прогиб в конечной точке, а по результатам вьтолненньгх измерений определяют деформацию балки в месте наклейки градуируемого тензорезистора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, дополнительно нагружают балку до получения измеренного прогиба в точке, отстоящей от конечной на фиксированную величину, ив каждом случае нагру- жения измеряют изменение сопротивления тензорезистора.

Изобретение относится к способам градуировки тензорезисторов. Цель изобретения - повьшение точности измерения деформаций консольной тензо- балки равного сечения в зоне,наклейки тензорезистора. Для этого нагружают тензобалку до получения одного и того же прогиба f сначала в конечной точке d, а потом в другой фиксированной точке с, регистрируя каждый раз изменения в показаниях тензорезистора. 1 ил.