1
Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в установках, предназначенных для сборки полупроводниковых приборов.
Цель изобретения - повьш1ение производительности оборудования и качества пайки за счет увеличения достоверности регистрации момента завершения пайки.
На фиг. 1 Представлена блок-схема устройства; на фиг. 2 - эпюры, поясняющие принцип действия устройства.
Устройство содержит генератор 1 тока, контактное устройство 2, аналоговый дифференциатор 3, устройство 4 выборзки-хранения, пиковьп1 детектор
10
5
5, делитель 6, компаратор 7 и блок 8 управления. Блок 8 управления состоит из задающего генератора 9, генератора 10 сдвинутых импульсов, ключа 11, RS-триггера 12 и индикаторного узла 13.
Устройство работает следующим образом.
При переключении триггера 12 в состояние 1, происходящем при подаче на его S - вход сигнала Пуск, ключ 11 замыкается и на вход генератора 1 тока поступают импульсы управления, генерируемые генератором 9 (диаграмма 14, фиг. 2). С выхода генератора 1 тока через контактное устройство 2 импульсы: нагревающего тока поступают
F
01
qD
Од
10
t5
20
25
на припаиваемый кристалл. В промежутках между импульсами нагревающего тока на припаиваемый кристалл подается- с выхода генератора 1 тока измеритель с ный ток (15, фиг. 2). Под воздействием импульсов нагревающего тока температура припаиваемого кристалла увеличивается, что приводит к уменьшению прямого падения напряжения на . контактном устройстве 2 (р-п-перехо- де, 16 на фиг. 2). В интервалах между импульсами нагревающего тока припаиваемый кристалл охлажр,ается, причем скорость его охлаждения определяется тепловой постоянной системы кристалл- припрй-основание и тепловой постоянной системы основание - окружающая среда. Напряжение на выходе аналогового дифференциатора 3 пропорционально скорости изменения прямого падения напряжения на р-п-переходе припаиваемого кристалла и, следовательно, скорости изменения его темпе- I
ратуры (17, фиг. 2). В процессе нагрева кристалла, при достижении температуры плавления припоя и под действием сжатия, тепловое сопротивление системы кристалл-припой-основание уменьшается. Это приводит к уменьшению разности температур между кристаллом и прилегаЕощим местом основания и уменьшению тепловой постоянной системы кристалл-припой-основание. По этим причинам скорость охлаждения кристалла в промежутках между импульсами нагревающего тока снижается. В свою очередь, это приводит к уменьшению напряжения на выходе аналогового дифференциатора 3 и устройства 4 вы- борки-хранения. На j)Hr. 2 приведены графики управляющего напряжения, подаваемого на управл яющий вход устройства 4 хранения-выборки (диаграмма 18) и напряжения на его выходе (диаграмма 19). Позицией 20 на фиг. 2 показано напряжение на выходе пикового детектора 5. При снижении напряжения на выходе устройства 4 выборки- хранения на величину, определяемую коэффициентом передачи делителя 6, срабатывает компаратор 7. Сигнал с его выхода поступает уа R-вход триггера 12 и переводит его в состояние О, соответствующее завершению про-
цесса пайки. -При этом отключение ключа 11 прекращает подачу управляющих импульсов 14 на вход генератора 1
30
35
40
45
50
тока, а индикаторный узел 13 фиксирует завершение процесса пайки.
Устройство может быть использовано совместно с дополнительным источником нагрева зоны пайки (горячим газом, нагретым инструментом и т.д.)
Длительность паузы между импульсами нагревающего тока и задержку импульса управления устройством выборки-хранения целесообразно выбирать в пределах, определяемых диапазоном изменения тепловой постоянной времени кристалл-основание в процессе припайки кристалла.
Длительность импульсов нагревающего тока целесообразно выбирать большей, чем максимальное значение тепловой постоянной кристалл-основание, но меньшей, чем тепловая постоянная основание - окружающая среда.
Выбор амплитуды импульсов нагревающего тока определяется максимально допустимым для данной полупроводниковой структуры значением тока и помехозащищенностью устройства.
Для припайки кристаллов на трэвер- зы в диодных мостах 2Д 906 оптимальная длительность импульсов нагревающего тока составляет 20 мс,длительность паузы 5 мс, амплитуда импульсов нагревающего тока 2А, измерительный ток 10-50 мА. Выбор коэффициента деления делителя определяется диапазоном изменения теплового сопротивления кристалл-основание в процессе припайки.
Использование устройства в составе установки для пайки диодных кристаллов на основании (траверзы) с контролем сопротивления контактного перехода обеспечивает надежную регистрацию момента завершения пайки, повьш1ения производительности процесса пайки, надежности паяных соединений и увеличение процента выхода годных напаянных кристаллов за счет исключения риска их перегрева в процессе пайки.
Формула изо б
Р е т е н и я
Устройство для управления процессом пайки полупроводниковьк кристаллов, содержащее генератор тока, выход которого соединен с контактирующим узлом, и блок управления с индикаторным узлом, отличающееся
тем, что, с целью повышения производительности оборудования и качества пайки за счет увеличения достоверности регистрации момента завершения пайки, оно дополнительно содержит аналоговый дифференциатор, устройство выборки-хранения, пиковый детектор, компаратор и делитель, при этом блок управления состоит из задающего генератора, генератора сдвинутых импульсов, RS-триггера, ключа и индикаторного узла, вход которого соединен с выходом RS-триггера и управ- ляклцим входом ключа, кроме того, установочный вход RS-триггера является входом Пуск блока управления, а
сбросовый вход RS-триггера соединен с выходом компаратора, первый вход которого соединен с выходом устройства выборки-хранения и входом пикового детектора, а второй вход через делитель - с выходом последнего, управляющий вход устройства выборки-хранения через генератор сдвинутых импульсов соединен с первым выходом задающего генератора, второй выход которого через ключ соединен с входом генератора тока, вход устройства выборки-хранения через аналоговый дифференциатор подключен к выходу .генератора тока.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ контроля и управления процессом пайки | 1987 |
|
SU1505697A1 |
Цифровой синтезатор частоты с частотной модуляцией | 1989 |
|
SU1771068A1 |
Устройство для измерения параметров электротермической нелинейности резисторов | 1982 |
|
SU1046706A2 |
Фотоимпульсный измеритель размеров объектов | 1990 |
|
SU1744464A1 |
Способ определения положения общего центра масс тела человека и устройство для его осуществления | 1984 |
|
SU1289454A1 |
Измеритель энергии искры | 1989 |
|
SU1651222A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КЛАССИФИКАЦИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ ПО ФОРМЕ КРИВОЙ РАЗМАГНИЧИВАНИЯ | 2000 |
|
RU2185635C1 |
Устройство аналого-цифрового преобразования узкополосных сигналов | 1984 |
|
SU1225014A1 |
Устройство для измерения собственной частоты резонансной системы | 1987 |
|
SU1583875A1 |
Устройство для регулирования величины деформации проводника при сварке давлением | 1988 |
|
SU1574405A1 |
Изобретение относится к полупроводниковой электронике, в частности к устройствам сборки полупроводниковых приборов. Цель изобретения - повьпиение производительности оборудования и качества пайки. Устройство содержит генератор тока и аналоговый дифференциатор, подключенные к паяемому контактирующему узлу, а также устройство выборки- хранения, пиковьп детектор, делитель, компаратор и блок управления. При достижении момента расплавления припоя, который определяется по отсутствию дальнейшего изменения тепловой X постоянной системы кристалл-припой- основание и уменьшению падения напряжения на контактирующем узле,процесс нагревания контактирующего узла импульсами тока прекращается. Качество пайки повышается за счет увеличения достоверности регистрации момента завершения пайки. 2 ил. (Л
цзиг.1
16
LnnJ
18
19
Ц)и г. 2
LJ
-Г1
Алехин В.П | |||
и др | |||
Исследование распределения температуры при ультразвуковой сварке полупроводников с металлами.-Физическая и химическая обработка материалов, 1971, № 4. |
Авторы
Даты
1989-01-30—Публикация
1987-07-13—Подача