Способ определения типа фазового превращения в кристаллах Советский патент 1989 года по МПК G01N25/02 

1

Изобретение относится к физико- химическому анализу фазовых превращений (ФП) в кристаллических твердых телах и может быть использовано при создании новых материалов в изучении их свойств в окрестности ФП, в частности, в ферроиках: сегнетоэлектри- ках, сегнетоэластиках, ферромагнетиках.

Целью изобретения является повышение информативности способа и уменьшение его трудоемкости

Способ осуществляют следующим образом.

Исследуемый образец закрепляют в цанговых зажимах и помещают в центре герметичности измерительной каметы Один из цанговых зажимов закреплен неподвижно, а другой через скручивающий стержень соединен с инерционной системой маятника. С помощью электромагнитных датчиков создают внешнее механическое напряжение, приложенное к подвижной части крутильного маятника, и возбуждают низкочастотные крутильные колебания маятника. Затем возбуждающее напряжение отключают от датчиков и образец вместе с маятниковой системой совершает свободные затухающие колебания частотой СО, логарифмический декремент которых измеряется электромеханическим счетчиком колебаний, а период колебаний Q вычисляют по формуле

Јь

00

о ел

-U

1

1 , А,

-ты 1птг

где А, и А2 - уровни дискриминации; N - число колебаний, соответствующее изменению амплитуды от А до А4.

Уровни дискриминации А, и Аг выбирают такими, чтобы ln(A,/Aj)T, тогда (f el/N,, .

Далее включают программное регулирующее устройство, обеспечивающее требуемую скорость нагрева, и при амплитуде деформации хм регистрирую температурную зависимость , про- ходящую через максимум вблизи точки ФП. Затем образец охлаждают, после чего вновь нагревают с той же скоростью нагрева, но при другой амплитуде деформации х«2, и регистрируют зависимость (Т). Для определения типа структурного «Ml в исследуемом образце сравнивают величины пиков на кривых (Т) , снятых при разных xw которые увеличиваются с ростом при собственном ФП и уменьшаются с ростом несобственном ФП.

Таким образгэм, ряд последовательных измерений Q (Т) в исследуемом

0

5

кристалле .позволяет определить тип структурного ФП„

Формула изобретения

Способ определения типа фазового превращения в кристаллах, заключающийся в равномерном нагреве исследуемого образца в области температур вблизи точки фазового превращения и измерении температурной зависимости низкочастотного внутреннего трения, отличающий ся тем, что, с целью повышения информативности способа и уменьшения его трудоемкости, проводят несколько последовательных измерений температурной зависимости внутреннего трения при постоянной скорости нагрева и разных амплитудах деформации образца, тип фазового превращения определяют по зависимости высоты пика внутреннего трения от амплитуды деформации.

Изобретение относится к физико-химическому анализу ,в частности, к способу определения типа фазового превращения в кристаллах. Цель изобретения - повышение информативности способа и уменьшение его трудоемкости. Измеряют температурную зависимость низкочастотного внутреннего трения при постоянной скорости нагрева и разных амплитудах деформации образца. Тип фазового превращения определяют по зависимости и высоты пика внутреннего трения от амплитуды деформации.

Редактор А. Шандор

Составитель С. Велов одченко

Техред М.Дидык Корректор М. Васильева

Заказ 2680/44

Тираж 790

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент, г.Ужгород, ул. Гагарина,101

Подписное