Способ термоэлектрического контроля поверхностных слоев материалов Советский патент 1989 года по МПК G01N25/32 

Описание патента на изобретение SU1529092A1

1

(21)425898А/27-25

(22)25.06.87

(46) 15.12.89. Бюл.№ 46

(71)Минский филиал Всесоюзного научно -исследоватепьско го конструкторско- технологического института подшипниковой промышленности

(72)И.В.Мельников, Е.Н.Семенов, Р.К.Трушкевич, В.Ю.Кузнецов, М.А.Трояновский и А.Н.Филиппович

(53)537.32(088.8)

(56)Денель А.К. Метод и средства термоэлектрического контроля. М.: Машиностроение, 1979, с.19-29.

Авторское свидетельство СССР № 335589, кл. G 01 Ы 25/32, 1972.

(54)СПОСОБ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ МАТЕРИАЛОВ

(57)Изобретение относится к тепло- физическим измерениям, в частности

к термоэлектрическому контролю при оценке качества и свойств поверхностных слоев материалов. Цель изобретения - повьш1ение производительности и достоверности контроля. Контролируемое изделие устанавливают на механизм сканирования, на контролируемую поверхность помещают горячий и холодный электроды, разность температур между которыми поддерживают постоянной. Перемещают с постоянной относительной скоростью электроды и изделие, непрерывно регистрируя возникшую термоЭДС опреде ляют ее среднее значение, по которому судят о качестве структурно измененного слоя. При оценке глубины слоя дискретно изменяют скорость сканирования, определяют зависимость термоЭДС от скорости сканирования, по которой судят о глубине структурных изменений слоя. 2 з.п. ф-лы.

сл

Похожие патенты SU1529092A1

название год авторы номер документа
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ЛОПАТОК ТУРБОМАШИН ИЗ НИКЕЛЕВЫХ СПЛАВОВ С УЧЕТОМ МЕХАНИЧЕСКИХ НАГРУЗОК 2007
  • Смыслов Анатолий Михайлович
  • Смыслова Марина Константиновна
  • Годовский Дмитрий Александрович
  • Мингажев Аскар Джамилевич
  • Наумкин Евгений Анатольевич
RU2377550C2
Способ импульсного термоэлектрического неразрушающего контроля теплофизических свойств металлов и полупроводников 2017
  • Судьенков Юрий Васильевич
  • Смирнов Иван Валерьевич
RU2665590C1
Способ контроля стальных изделий 1989
  • Шерман Давид Григорьевич
  • Шифрин Александр Моисеевич
  • Яворович Светлана Ивановна
SU1672330A1
ТЕРМОЭЛЕКТРОИМПУЛЬСНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕОДНОРОДНОСТИ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ 2006
  • Ногачева Татьяна Ивановна
  • Кузнецова Елена Владимировна
  • Калюк Антон Валерьевич
RU2306553C1
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕОДНОРОДНОСТИ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ 2006
  • Ногачева Татьяна Ивановна
  • Кузнецова Елена Владимировна
  • Калюк Антон Валерьевич
RU2307345C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ РЕЖУЩЕЙ КРОМКИ МЕТАЛЛОРЕЖУЩЕГО ИНСТРУМЕНТА 2003
  • Корндорф С.Ф.
  • Ногачева Т.И.
  • Мельник Е.Е.
RU2247972C2
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 2003
  • Тупикин Д.А.
RU2229117C1
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ МЕТАЛЛА 2012
  • Солдатов Алексей Иванович
  • Солдатов Андрей Алексеевич
  • Селезнев Антон Иванович
  • Кренинг Ханс-Михаэль Вильхельм Адольф
RU2498281C1
СПОСОБ КОМПЛЕКСНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ЛОПАТОК ТУРБОМАШИН ИЗ НИКЕЛЕВЫХ СПЛАВОВ 2007
  • Смыслов Анатолий Михайлович
  • Смыслова Марина Константиновна
  • Годовский Дмитрий Александрович
  • Мингажев Аскар Джамилевич
  • Селиванов Константин Сергеевич
  • Гордеев Вячеслав Юрьевич
  • Новиков Антон Владимирович
RU2380696C2
СПОСОБ КОМПЛЕКСНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ ЛОПАТОК ТУРБОМАШИН ИЗ КОБАЛЬТОВЫХ СПЛАВОВ 2007
  • Смыслов Анатолий Михайлович
  • Смыслова Марина Константиновна
  • Годовский Дмитрий Александрович
  • Мингажев Аскар Джамилевич
  • Селиванов Константин Сергеевич
  • Гордеев Вячеслав Юрьевич
  • Новиков Антон Владимирович
RU2386125C2

Реферат патента 1989 года Способ термоэлектрического контроля поверхностных слоев материалов

Изобретение относится к теплофизическим измерениям, в частности к термоэлектрическому контролю при оценке качества и свойств поверхностных слоев материалов. Цель изобретения - повышение производительности и достоверности контроля. Контролируемое изделие устанавливают на механизм сканирования, на контролируемую поверхность помещают горячий и холодный электроды, разность температур между которыми поддерживают постоянной. Перемещают с постоянной относительной скоростью электроды и изделие, непрерывно регистрируя возникшую термоЭДС, определяют ее среднее значение, по которому судят о качестве структурно измененного слоя. При оценке глубины слоя дискретно изменяют скорость сканирования, определяют зависимость термоЭДС от скорости сканирования, по которой судят о глубине структурных изменений слоя. 2 з.п. ф-лы.

Формула изобретения SU 1 529 092 A1

Изобретение относится к теплофизи- ческим измерениям и может быть использовано для оценки качества и свойств поверхностных слоев материалов

Цель изобретения - повьппение производительности и достоверности измерений.

Способ осуществляют следующим образом.

Контролируемое изделие устанавливают на механизм сканирования, который сообщает ему непрерывное перемещение с постоянной скоростью. Значение

скорости задают исходя из глубины проникновения теплового потока, равной толщине контролируемого поверхностного слоя. На контролируемую

поверхность устанавливают преобразователь с горячим и холодным электродами, разность температур между которыми поддерживают постоянной. Непрерывно регистрируют возникшую термоЭДС в процессе перемещения. Определяют как мгновенные значения термоЭДС, так и ее среднее значение за цикл перемещения, соответствующее размеру контролируемой поверхности в

направлении сканирования. При необходимости контроля поверхностного слоя большей или меньшей глубины с помощью механизма сканирования соответственно уменьшают или увеличивают скорость относительного перемещения изделия и электродов. При этом пользуются заранее полученными теоретическими или экспериментальными зависимостями глу- бины проникновения теплового потока от скорости перемещения электродов и контролируемого изделия при заданных материале изделия, площади контакта электродов с изделием и разности температур горячего и холодного электродов .

Для оценки глубины структурно измененного слоя с помощью механизма сканирования последовательно дискретно изменяют, например, увеличивают скорость изделия электродов. Дпя каждого цикла перемещения с постоянной скоростью регистрируют среднее зна- чение термоЭДС и сравнивают его с предыдущим значением, полученным при другой скорости. Находят два последовательно зарегистрированных значения термоЭДС, отличающихся на заранее заданную величину. Фиксируют значение скорости и по указанной зависимости определяют глубину структурно измененного слоя.

Редактор С.Лисина

Составитель -Ю,Петренко Техред Л.Сердюкова

Заказ 7633/38

Тираж 789

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раущская наб,, д, 4/5

Формула изобретения

1.Способ термоэлектрического контроля поверхностных слоев материалов, заключающийся в том, что на поверхностный слой изделия устанавливают электроды с различными температурами нагрева, задают временной промежуток взаимодействия электродов с поверхностным слоем и измеряют в течение этого промежутка возникщую термоЭДС, отличающийся тем, что, с целью повыпения производительности и достоверности контроля, электроды и изделие перемещают с постоянной скоростью друг относительно друга,дополнительно измеряют среднее значение термоЭДС за цикл перемещения, по которому судят о качестве поверхностного слоя материала,

2,Способ поп,1, отличаю- щ и и с я тем, что, с целью контроля слоя различной глубины, изменяют скорость относительного перемещения,

3„ Способ по ПП.1 и 2, о т л и ч а ю щ и и с я тем, что последовательно и дискретно изменяют скорость относительного перемещения, дпя каждой скорости фиксируют среднее значение термоЭДС, сравнивают эти значения и глубину структурно измененного слоя определяют как функцию скорости, при которой достигается различие двух последовательных значений термоЭДС,

Корректор С. Черни

Подписное

SU 1 529 092 A1

Авторы

Мельников Игорь Викторович

Семенов Евгений Николаевич

Трушкевич Рута Клямасовна

Кузнецов Виктор Юрьевич

Трояновский Михаил Антонович

Филиппович Александр Никитович

Даты

1989-12-15Публикация

1987-06-25Подача