Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов Советский патент 1991 года по МПК G01B7/16 

Описание патента на изобретение SU1551033A1

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезисторов.

Цель -изобретения - снижение трудоемкости за счет возможности оценки нестабильности характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент.

На фиг.1 представлена структурная схема тензореэистора; на фиг. 2 - график изменения сопротивления тензо- речистора при оценке его нестабильности.

Способ осуществляют следующим образом.

Исследуемый тензорезистор 1 подключают к мостовой измерительной схеме, состоящей из резисторов 2-4. Измерительная тензометрическая Система 5, например СИИТ-3, служит для подачи напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой и измерения напряжения на выходе мостовой схемы Мостовая схема содержит также -магазин 6 сопротивлений.

До подачи напряжения на тензорезистор (до момента t, ) его сопротивление изменяется медленно под влиянием окружающей среды (фиг.2). После подачи на него напряжения с постоянной мгновенной амплитудой его температура начинает возрастать по закону

6(t) Во+ -/Г (1 (1)

§

(

С

где Р

е„

-мощность, выделяемая на тенэорезисторе;

T m-c/ei-F- постоянная времени

его нагрева; Jo начальная температура;

-масса тензорезистора;

-удельная теплоемкость тензорезистора;

-коэффициент теплопередачи;

-приведенная поверхность теплоотдачи.

m с

oi

СП СП

СО

со

При t 4; Т имеем:

(.) - 8, ft- . t

(2)

В случае ненаклеенного тензореэис- тора его температурный коэффициент сопротивления

(3)

где ft - температурный коэффициент ( сопротивления тензорезис- тора;

AR - изменение его сопротивления. Для мостовой схемы с напряжением питания U изменение сопротивления текзорезистора на величину Д R вызывает изменение выходного напряжения не величину

Аи

Јтогда из (3) с учето

А , 2SLSL. Ли. Р Fu (t

при малом t

Ау ft du t dt

A dU

А -ЗГ

(6)

const:

dU

dt скорость изменения напряжения на выходе измерительной схемы,

Таким образом, нестабильность характеристик тензорезисторов, характеризуемая коэффициентом ft, пропор- циональна величине скорости изменения напряжения на выходе иэмеритель- .яой схемы.

После подачн напряжения питания возрастает с температурой и сопротив ление тензорезистора (фиг,2), причем до некоторого момента времени t2 сопротивление возрастает практически линейно. Соответственно здесь постоянна и скорость изменения выходно- |Го сигнала измерительной схемы.Промежуток времени (t3- t) - есть

постоянная времени нагрева тенэоре- зистора. После момента t3 сопротивление тенэорезистора практически изменяется лишь под действием внеюних условий.

Определив в одинаковых условиях скорость изменения выходного сигнала данным способом для каждого тен- зореэистора из проверяемой партии

можно произвести их подборку в группы с близкой нестабильностью характеристик. Таким образом, оценка нестабильности тензорезисторов до их наклейки на упругий элемент позволяет также избежать их последующей выбраковки в изделиях.

Формула изобретения

Способ оценки нестабильности ха-

рактеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что тензорезиоЖоры подключают к измерительной схеме, подают Иа них напряжение питания и контролируют один из параметров сигнала на выходе измерительной схемы, по которому и оценивают нестабильность характеристик теизорезисторов, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости, на

тензорезисторы подают напряжение питания с постоянной мгновенной амплитудой, а в качестве контролируемого параметра используют скорость изменения напряжения на выходе иэмерительной схемы.

Похожие патенты SU1551033A1

название год авторы номер документа
Способ оценки нестабильности характе-РиСТиК ТЕНзОРЕзиСТОРОВ 1979
  • Парфенов Михаил Михайлович
SU823836A1
Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов 1987
  • Рогаткин В.Е.
SU1549273A1
СПОСОБ НАСТРОЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫХ ДАТЧИКОВ С МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЦЕПЬЮ ПО МУЛЬТИПЛИКАТИВНОЙ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ПОГРЕШНОСТИ С УЧЕТОМ НЕЛИНЕЙНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА ДАТЧИКА 2010
  • Тихоненков Владимир Андреевич
  • Винокуров Лев Николаевич
RU2443973C1
СПОСОБ НАСТРОЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫХ ДАТЧИКОВ С МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЦЕПЬЮ ПО МУЛЬТИПЛИКАТИВНОЙ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ПОГРЕШНОСТИ С УЧЕТОМ НЕЛИНЕЙНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА ДАТЧИКА 2009
  • Тихоненков Владимир Андреевич
  • Винокуров Лев Николаевич
RU2408839C1
Устройство для измерения давления 1975
  • Выгода Юрий Алексеевич
  • Тихонова Тамара Валентиновна
  • Фильчиков Валерий Андреевич
  • Дубовая Людмила Александровна
SU547661A1
СПОСОБ ТЕМПЕРАТУРНОЙ НАСТРОЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНОГО ДАТЧИКА ДАВЛЕНИЯ С МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЦЕПЬЮ 2004
  • Тихоненков В.А.
  • Тихоненков Е.В.
RU2259537C1
СПОСОБ НАСТРОЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫХ ДАТЧИКОВ С МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЦЕПЬЮ ПО МУЛЬТИПЛИКАТИВНОЙ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ПОГРЕШНОСТИ С УЧЕТОМ НЕЛИНЕЙНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА ДАТЧИКА 2010
  • Тихоненков Владимир Андреевич
  • Винокуров Лев Николаевич
RU2450244C1
СПОСОБ НАСТРОЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНЫХ ДАТЧИКОВ С МОСТОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ЦЕПЬЮ ПО МУЛЬТИПЛИКАТИВНОЙ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ПОГРЕШНОСТИ С УЧЕТОМ НЕЛИНЕЙНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫХОДНОГО СИГНАЛА ДАТЧИКА 2010
  • Тихоненков Владимир Андреевич
  • Винокуров Лев Николаевич
RU2444700C1
СПОСОБ СТАБИЛИЗАЦИИ УПРУГОГО ЭЛЕМЕНТА ДАТЧИКА ДАВЛЕНИЯ С ТЕНЗОРЕЗИСТОРАМИ 2005
  • Волохов Игорь Валерьянович
  • Песков Евгений Владимирович
  • Попчёнков Дмитрий Валентинович
RU2301977C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРНОГО ДАТЧИКА ДАВЛЕНИЯ НА ОСНОВЕ ТОНКОПЛЕНОЧНОЙ НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ 2012
  • Белозубов Евгений Михайлович
  • Белозубова Нина Евгеньевна
  • Козлова Наталья Анатольевна
RU2498249C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 551 033 A1

Реферат патента 1991 года Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезисторов, в частности оценки температурной нестабильности характеристик. Цель изобретения - снижение трудоемкости - достигается путем оценки нестабильности по скорости изменения напряжения на выходе измерительной схемы после подачи на тензорезисторы напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой. Данный способ позволяет оценивать нестабильность характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент.2 ил.

Формула изобретения SU 1 551 033 A1

фиёЛ

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1551033A1

Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов 1978
  • Парфенов Михаил Михайлович
SU684294A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 551 033 A1

Авторы

Рогаткин В.Е.

Сергеев Ю.М.

Даты

1991-05-07Публикация

1988-06-23Подача