Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезисторов.
Цель -изобретения - снижение трудоемкости за счет возможности оценки нестабильности характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент.
На фиг.1 представлена структурная схема тензореэистора; на фиг. 2 - график изменения сопротивления тензо- речистора при оценке его нестабильности.
Способ осуществляют следующим образом.
Исследуемый тензорезистор 1 подключают к мостовой измерительной схеме, состоящей из резисторов 2-4. Измерительная тензометрическая Система 5, например СИИТ-3, служит для подачи напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой и измерения напряжения на выходе мостовой схемы Мостовая схема содержит также -магазин 6 сопротивлений.
До подачи напряжения на тензорезистор (до момента t, ) его сопротивление изменяется медленно под влиянием окружающей среды (фиг.2). После подачи на него напряжения с постоянной мгновенной амплитудой его температура начинает возрастать по закону
6(t) Во+ -/Г (1 (1)
§
(
С
где Р
е„
-мощность, выделяемая на тенэорезисторе;
T m-c/ei-F- постоянная времени
его нагрева; Jo начальная температура;
-масса тензорезистора;
-удельная теплоемкость тензорезистора;
-коэффициент теплопередачи;
-приведенная поверхность теплоотдачи.
m с
oi
СП СП
СО
со
При t 4; Т имеем:
(.) - 8, ft- . t
(2)
В случае ненаклеенного тензореэис- тора его температурный коэффициент сопротивления
(3)
где ft - температурный коэффициент ( сопротивления тензорезис- тора;
AR - изменение его сопротивления. Для мостовой схемы с напряжением питания U изменение сопротивления текзорезистора на величину Д R вызывает изменение выходного напряжения не величину
Аи
Јтогда из (3) с учето
А , 2SLSL. Ли. Р Fu (t
при малом t
Ау ft du t dt
A dU
А -ЗГ
(6)
const:
dU
dt скорость изменения напряжения на выходе измерительной схемы,
Таким образом, нестабильность характеристик тензорезисторов, характеризуемая коэффициентом ft, пропор- циональна величине скорости изменения напряжения на выходе иэмеритель- .яой схемы.
После подачн напряжения питания возрастает с температурой и сопротив ление тензорезистора (фиг,2), причем до некоторого момента времени t2 сопротивление возрастает практически линейно. Соответственно здесь постоянна и скорость изменения выходно- |Го сигнала измерительной схемы.Промежуток времени (t3- t) - есть
постоянная времени нагрева тенэоре- зистора. После момента t3 сопротивление тенэорезистора практически изменяется лишь под действием внеюних условий.
Определив в одинаковых условиях скорость изменения выходного сигнала данным способом для каждого тен- зореэистора из проверяемой партии
можно произвести их подборку в группы с близкой нестабильностью характеристик. Таким образом, оценка нестабильности тензорезисторов до их наклейки на упругий элемент позволяет также избежать их последующей выбраковки в изделиях.
Формула изобретения
Способ оценки нестабильности ха-
рактеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что тензорезиоЖоры подключают к измерительной схеме, подают Иа них напряжение питания и контролируют один из параметров сигнала на выходе измерительной схемы, по которому и оценивают нестабильность характеристик теизорезисторов, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости, на
тензорезисторы подают напряжение питания с постоянной мгновенной амплитудой, а в качестве контролируемого параметра используют скорость изменения напряжения на выходе иэмерительной схемы.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам контроля характеристик тензорезисторов, в частности оценки температурной нестабильности характеристик. Цель изобретения - снижение трудоемкости - достигается путем оценки нестабильности по скорости изменения напряжения на выходе измерительной схемы после подачи на тензорезисторы напряжения питания с постоянной мгновенной амплитудой. Данный способ позволяет оценивать нестабильность характеристик тензорезисторов без их установки на упругий элемент.2 ил.
фиёЛ
Способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов | 1978 |
|
SU684294A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1991-05-07—Публикация
1988-06-23—Подача