(54) СПОСОБ ОЦЕНКИ НЕСТАБИЛЬНОСТИ ХАРАКТЕРИСТИК ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ
Изобретение относится к области измерения неэлектрических величин электрическими способами. Известен способ оценки нестабильности характеристик тензорезисторов заключающийся в .том, что тёнзорезисторы устанавливают на упругий элемент, который помещают в термокамеру подключают тензорезисторы к источнику питания, нагревают термокамеру до заданной температуры и оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов IJ. Однако этот способ требует большого количества времени для проведения испытаний, так как нагревание термокамеры - продолжительная опера,ция. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является спо соб оценки нестабильности характеристик тензорезисторов, заключающийся в том, что устанавливают тензорезисторы на упругом элементе, нагружают его, подключают их к источнику питания переменного напряжения, измеряют нелинейные искажений на выходе и входе тензорезисторов/ по разности которых оценивают нестабильность их характеристик 2. Недостатком этого способа является невысокая точность из-за отсутствия необходимой информации о знаке температурной нестабильности, по которой можно было бы определить в какое плечо мостовой схемы необходимо установить сопротивление температурной компенсации. Цель изобретения - повышение точности оценки нестабильности характеристик тензорезисторов. Поставленная цель достигается тем, что измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелинейных искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания ±30° от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов. Сущность способа заключается в том, .что при питании тензорезисторов переменным напряжением с изменением мгновенной амплитуды меняется мгновенная мощность и количество тепла, выделя.емого тензорезистором, а Значит и его темпратура. Вследствие незначительной массы тензорезистора его температура пропорциональна выделяемой мощности и квадрату напряжения питания. Следовательно температура нагревания тензорезисторов и температурный разбаланс мостовой схемы изменяются нелинейно от напряжения питания. В тот момент, когда напряжени питания достигает максимума, разност температурных коэффициентов тензорезисторов проявляется нгдаболее сильно- что приводит к максимальному и закономерному мгновенному разбалансу мостовой схемы. При этом, если в мостовой схеме тензорезисторы имеют равные температурные коэффициенты сопротивления, то нелинейные искажения на выходе измерителя нелинейных искажений равны нулю..Так как практически достигнуть этого невозможно какой-то один из резисторов характеризуется максимальным температурным коэффициентом сопротивления, который при настройке мостовой схемы обычно компенсируется введением в смежное плечо температурно-зависимого сопротивления (медного или никелевого). Оценку нестабильности характеристик тензорезисторов производят сле дующим образом. Тензорезисторы устанавливают на упругий элемент, нагружают его, под ключают тензорезисторл к источнику питания переменного напряжения. Измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелинейных искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания от его максимальной величины, по которым о нивают нестабильность характеристик тензорезисторов. Процесс оценки нестабильности арактеристик тензорезисторов по npe;ci; агаемому способу занимает несколько минут и повышает точность оценки по сравнению с известными способами. Формула изобретения Способ оценки нестабильности характеристик тенэорезисторов, заключающийся в том, что устанавливают; тензорезисторы на упругом элементе, нагружают его, подключают тензорезисторы к источнику питания переменного напряжения и оценивают нестабильность хара ктеристик тензорезисторов, о тлич аю щи йс я тем, что, с целью повышения точности, измеряют знаки напряжения питания и напряжения нелиней1шх искажений на выходе тензорезисторов в диапазоне фазы напряжения питания +30 от его максимальной величины, по которым оценивают нестабильность характеристик тензорезисторов. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Исследование температурных напряжений. М./Наука, 1972, с. 133-140. : 2. Авторское свидетельство СССР по заявке 2594489/25-28, кл. G 01 В 7/18, 1978.
