Изобретение относится к материалам радиоэлектронной техники и может быть использовано в производстве многослойных монолитных керамических конденсаторов.
Цель изобретения - снижение диэлектрических потерь и повышение темпет ратурной стабильности диэлектрической проницаемости материала.
Материал приготавливается по обычной керамической технологии: сухой помол в вибромельнице с резиновой футеровкой и стальными шарами в течение 2-4 ч до удельной поверхности не менее 5500 см /г, Загрузку компонентов проводят согласно указанному соотношению компонентов. В полученную массу вводят связку (поливиниловый спирт в количестве 8%) и методом прессования изготавливают образцы в виде дисков
для испытаний. Образцы обжигают в интервале температур 1320-1380 С, затем наносят электрод методом вжигания серебряной пасты при 800 С и измеряют электрические характеристики.
Составы шихты приведены в табл. 1} характеристики материала, полученного из указанных составов, - в табл. 2.
Формула изобретения
Шихта сегнетокерамического материала для конденсаторов, включающая BaTi03 , CaZr03, ZnO, Nd703, и МпСОз, отличающаяся тем, что, с целью снижения диэлектрических потерь и повышения температурной стабильности диэлектрической проницаемости материала, она содержит дополнительно YaO з при следующем соотношении компонентов, мас.%:
сд
00 ОЭ
00
со оэ
88,00-89,90 7,50-7,90 1,40-1,65 0,80-1,40
0,30-0,60 0,05-0,15 0,05-0,30
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Шихта сегнетокерамического конденсаторного материала | 1989 |
|
SU1631056A1 |
Шихта для изготовления керамического материала | 1982 |
|
SU1035015A1 |
Шихта для изготовления сегнетокерамического материала | 1982 |
|
SU1028644A1 |
ШИХТА КЕРАМИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА ДЛЯ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ С ТЕМПЕРАТУРНЫМ КОЭФФИЦИЕНТОМ ЕМКОСТИ ОТ -30·10град. ДО +30·10град. | 1992 |
|
RU2035778C1 |
ШИХТА СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА | 1992 |
|
RU2047584C1 |
Шихта для сегнетоэлектрического керамического материала | 1981 |
|
SU948973A1 |
Сегнетоэлектрический керамический материал | 1982 |
|
SU1077867A1 |
СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ КОНДЕНСАТОРОВ С ЭЛЕКТРОДАМИ ИЗ НЕБЛАГОРОДНЫХ МЕТАЛЛОВ | 1992 |
|
RU2047233C1 |
СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКИЙ КОНДЕНСАТОРНЫЙ ДИЭЛЕКТРИК ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КЕРАМИЧЕСКИХ КОНДЕНСАТОРОВ ТЕМПЕРАТУРНО-СТАБИЛЬНОЙ ГРУППЫ | 2009 |
|
RU2413325C1 |
СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОНДЕНСАТОРОВ | 1989 |
|
RU1632254C |
Изобретение относится к материалам радиоэлектронной техники и может быть использовано в производстве многослойных монолитных керамических конденсаторов. Для снижения диэлектрических потерь и повышения температурной стабильности диэлектрической проницаемости материала шихта сегнетокерамического материала для конденсаторов содержит дополнительно Y 2O 3 при следующем соотношении компонентов, мас.%: BATIO 3 88,00-89,90
CAZRO 3 7,50-7,90
ZNO 1,40-1,65
ND 2O 3 0,80-1,40
NB 2O 5 0,30-0,60
MNCO 3 0,05-0,15 и Y 2O 3 0,05-0,30. Полученный из указанной шихты материал имеет следующие характеристики: ε 20 9000-14000
Δε/ε в интервале температур (-60...+85)°С - 48...-84%
TGδ 0,0021-0,0048. 2 табл.
Компоненты Содержание, мае.%, в составе шихты :-г
1 3
BaTiC-з89,98888,9
CaZr037,57,97,8
Nd203 0,81,41,2
NbjO.r0,30,60, 4
ZnO1,41,651,5
МпО)э0,050,150,1
Y2030,050,3 0,1
Таблица 2
ХарактеристикиПоказатели для состава
123 I известного
Диэлектрическая проницаемость Е при 20°С 13100-14000 9000-9500 12000-13400 10000-14000 Относительное изменение диэлектрической проницаемости /эЈ/Ј в интервале температур (-60)-(+85)°С, % -74-84 -48-71 -68-80 -95-75 Тангенс угла диэлектрических потерь Ю1 . 0,35-0,48 0,21-0,26 0,30-0,45 0,50-0,75
Таблица 1
Шихта для изготовления сегнетокерамического конденсаторного материала | 1984 |
|
SU1244129A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Состав шихты для изготовления ке-РАМичЕСКОгО МАТЕРиАлА C ВыСОКОй диэлЕКТРичЕСКОй пРОНицАЕМОСТью | 1979 |
|
SU810643A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Авторы
Даты
1990-08-07—Публикация
1988-09-05—Подача