Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при получении одно- и многослойных покрытий с заданным распределением показателя преломления по толщине.
Цель изобретения - расширение технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине.
На чертеже изображено устройство для контроля толщины пленки в процессе ее получения.
Устройство содержит лазер 1, светоделители 2-6, зеркала 7 и 8, фотоприемники 9-11 и модулятор 12.
Способ осуществляют следующим образом .
Монохроматический свет от лазера 1 с помощью светоделителя 4 и зеркала 7 направляют на поверхность П2 участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней, а на поверхность П1 участка контрольного образца, предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, по нормали к ней. Производят напыление на контрольный образец, в процессе которого осуществляют монотонно ступенчато меняющуюся во времени модуляцию потока вещества. Модуляцию начинают осуществлять при коэффициенте модуляции, близком (или равном) к единице, В процессе напыления этот коэффициент ступенчато уменьшают
ел с со
XI
со о
через равные интервалы времени на постоянную величину, Определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков контрольного образца. Для этого пучок, отраженный от участка П1, с помощью светоделителя 15 направляют на фотоприемник 10, туда же направляют и пучок, отраженный от участка П2, с помощью зеркала 8 через светоделитель 5. При нулевой разности фаз напыление прекращают, по параметрам осуществленной модуляции определяют показатель преломления пленки и соответствующую этому показателю оптическую толщину пленки. По расчетным формулам определяют коэффициент модуляции при напылении на контрольный образец и подложку, Осуществляют напыление вещества на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, С помощью светоделителей 2 и 3 светоделители 2, 4, 5 и 6 освещают контрольный образец монохроматическим светом, по нормали к поверхности, осуществляют модуляции потока вещества, напыляемого на участок ГИ контрольного образца, с определенным по расчетным формулам коэффициентом модуляции. Фотоприемниками 9 и 11 измеряют параметры пучков, полученных при отражении от участков П2 и П1 и прошедших по пути к фотопоиемникам 9 и 11 соответственно через светоделители 3 и 8. По соотношению параметров судят о достижении заданной толщины.
Формула изобретения Способ получения пленки заданной толщины, заключающийся в том, что производят напыление вещества на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, освещают контрольный образец монохроматическим светом по нормали к поверхности, модулируют поток вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца, измеряют параметры пучков, полученных при отражении или пропускании света через оба участка, и по соотноше- нию параметров судят о достижении заданной толщины, отличающийся
тем, что, с целью расширения технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине, перед напылением на подложку и контрольный образец направляют монохроматический свет на поверхность участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней,а-на поверхность участка контрольного
образца, предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, по нормали к ней, производят напыление на контрольный образец и в процессе напыления осуществляют монотонно ступенчато
меняющуюся во времени модуляцию потока вещества, определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков, и при нулевой разности прекращают напыление, по параметрам осуществленной модуляции определяют показатель преломления пленки и соответствующую этому показателю оптическую толщину пленки, а модуляцию потока вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца при напылении на контрольный образец и подложку, осуществляют с коэффициентом модуляции, выбираемым в зависимости от оптической толщины.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ получения пленки заданной толщины | 1988 |
|
SU1583737A1 |
Способ контроля толщины пленки | 1986 |
|
SU1388709A1 |
Интерференционный способ измерения показателей преломления монокристаллов | 1989 |
|
SU1702259A1 |
Устройство для измерения толщины и показателя преломления пленки | 1987 |
|
SU1397722A1 |
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛЕНОЧНОГО ПОКРЫТИЯ В ПРОЦЕССЕ ИЗМЕНЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ НА ПОДЛОЖКЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 1995 |
|
RU2087861C1 |
Способ определения показателя преломления конденсированного газа | 1990 |
|
SU1721477A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК МНОГОСЛОЙНОГО ОПТИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ В ПРОЦЕССЕ ЕГО НАНЕСЕНИЯ ОСАЖДЕНИЕМ В ВАКУУМНОЙ КАМЕРЕ | 1991 |
|
RU2025657C1 |
Способ бесконтактного определения толщины эпитаксиальных полупроводниковых слоев | 1990 |
|
SU1737261A1 |
Способ нанесения покрытий в вакууме | 2017 |
|
RU2654991C1 |
Устройство для измерения толщины и показателя преломления пленки | 1987 |
|
SU1497453A1 |
Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине. Для этого предварительно направляют монохроматический свет на поверхность участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней, а на оставшуюся поверхность - по нормали, и производят напыление, в процессе которого осуществляют монотонно ступенчато меняющуюся во времени модуляцию потока вещества, определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков, и при нулевой разности напыление прекращают, по параметрам осуществленной модуляции рассчитывают коэффициент модуляции, напыляют вещество на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, освещают контрольный образец монохроматическим светом по нормали к поверхности, модулируют поток вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца, с рассчитанным коэффициентом модуляции, измеряют параметры пучков, полученных при отражении от участков контрольного образца, и по соотношению параметров судят о достижении заданной толщины. 1 ил.
Способ контроля толщины пленки | 1986 |
|
SU1388709A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1990-08-07—Публикация
1987-12-17—Подача