Способ получения пленки заданной толщины Советский патент 1990 года по МПК G01B11/06 

Описание патента на изобретение SU1583736A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при получении одно- и многослойных покрытий с заданным распределением показателя преломления по толщине.

Цель изобретения - расширение технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине.

На чертеже изображено устройство для контроля толщины пленки в процессе ее получения.

Устройство содержит лазер 1, светоделители 2-6, зеркала 7 и 8, фотоприемники 9-11 и модулятор 12.

Способ осуществляют следующим образом .

Монохроматический свет от лазера 1 с помощью светоделителя 4 и зеркала 7 направляют на поверхность П2 участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней, а на поверхность П1 участка контрольного образца, предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, по нормали к ней. Производят напыление на контрольный образец, в процессе которого осуществляют монотонно ступенчато меняющуюся во времени модуляцию потока вещества. Модуляцию начинают осуществлять при коэффициенте модуляции, близком (или равном) к единице, В процессе напыления этот коэффициент ступенчато уменьшают

ел с со

XI

со о

через равные интервалы времени на постоянную величину, Определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков контрольного образца. Для этого пучок, отраженный от участка П1, с помощью светоделителя 15 направляют на фотоприемник 10, туда же направляют и пучок, отраженный от участка П2, с помощью зеркала 8 через светоделитель 5. При нулевой разности фаз напыление прекращают, по параметрам осуществленной модуляции определяют показатель преломления пленки и соответствующую этому показателю оптическую толщину пленки. По расчетным формулам определяют коэффициент модуляции при напылении на контрольный образец и подложку, Осуществляют напыление вещества на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, С помощью светоделителей 2 и 3 светоделители 2, 4, 5 и 6 освещают контрольный образец монохроматическим светом, по нормали к поверхности, осуществляют модуляции потока вещества, напыляемого на участок ГИ контрольного образца, с определенным по расчетным формулам коэффициентом модуляции. Фотоприемниками 9 и 11 измеряют параметры пучков, полученных при отражении от участков П2 и П1 и прошедших по пути к фотопоиемникам 9 и 11 соответственно через светоделители 3 и 8. По соотношению параметров судят о достижении заданной толщины.

Формула изобретения Способ получения пленки заданной толщины, заключающийся в том, что производят напыление вещества на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, освещают контрольный образец монохроматическим светом по нормали к поверхности, модулируют поток вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца, измеряют параметры пучков, полученных при отражении или пропускании света через оба участка, и по соотноше- нию параметров судят о достижении заданной толщины, отличающийся

тем, что, с целью расширения технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине, перед напылением на подложку и контрольный образец направляют монохроматический свет на поверхность участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней,а-на поверхность участка контрольного

образца, предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, по нормали к ней, производят напыление на контрольный образец и в процессе напыления осуществляют монотонно ступенчато

меняющуюся во времени модуляцию потока вещества, определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков, и при нулевой разности прекращают напыление, по параметрам осуществленной модуляции определяют показатель преломления пленки и соответствующую этому показателю оптическую толщину пленки, а модуляцию потока вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца при напылении на контрольный образец и подложку, осуществляют с коэффициентом модуляции, выбираемым в зависимости от оптической толщины.

Похожие патенты SU1583736A1

название год авторы номер документа
Способ получения пленки заданной толщины 1988
  • Трунов Михаил Леонтьевич
SU1583737A1
Способ контроля толщины пленки 1986
  • Трунов Михаил Леонтьевич
SU1388709A1
Интерференционный способ измерения показателей преломления монокристаллов 1989
  • Алексеев Александр Николаевич
  • Филимонова Людмила Алексеевна
SU1702259A1
Устройство для измерения толщины и показателя преломления пленки 1987
  • Трунов Михаил Леонтьевич
  • Гвардионов Юрий Борисович
SU1397722A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛЕНОЧНОГО ПОКРЫТИЯ В ПРОЦЕССЕ ИЗМЕНЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНКИ НА ПОДЛОЖКЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1995
  • Михайлов И.Ф.
  • Пинегин В.И.
  • Бабенко И.Н.
  • Слепцов В.В.
  • Баранов А.М.
RU2087861C1
Способ определения показателя преломления конденсированного газа 1990
  • Подкорытов Алексей Федорович
  • Шнырев Анатолий Дмитриевич
  • Яровиков Олег Евгеньевич
  • Желтобрюх Марина Борисовна
SU1721477A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК МНОГОСЛОЙНОГО ОПТИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ В ПРОЦЕССЕ ЕГО НАНЕСЕНИЯ ОСАЖДЕНИЕМ В ВАКУУМНОЙ КАМЕРЕ 1991
  • Александров О.В.
  • Кацнельсон Л.Б.
RU2025657C1
Способ бесконтактного определения толщины эпитаксиальных полупроводниковых слоев 1990
  • Арешкин Алексей Георгиевич
  • Иванов Алексей Сергеевич
  • Федорцов Александр Борисович
  • Федотова Ксения Юрьевна
SU1737261A1
Устройство для измерения толщины и показателя преломления пленки 1987
  • Трунов Михаил Леонтьевич
  • Гвардионов Юрий Борисович
SU1497453A1
Способ нанесения покрытий в вакууме 2017
  • Скоморовский Валерий Иосифович
  • Прошин Владимир Александрович
  • Кушталь Галина Ивановна
RU2654991C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 583 736 A1

Реферат патента 1990 года Способ получения пленки заданной толщины

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является расширение технологических возможностей путем получения пленок с заданным распределением показателя преломления по толщине. Для этого предварительно направляют монохроматический свет на поверхность участка контрольного образца, не предназначенную для напыления модулированным потоком вещества, под углом к ней, а на оставшуюся поверхность - по нормали, и производят напыление, в процессе которого осуществляют монотонно ступенчато меняющуюся во времени модуляцию потока вещества, определяют разность фаз пучков излучения, отраженного от обоих участков, и при нулевой разности напыление прекращают, по параметрам осуществленной модуляции рассчитывают коэффициент модуляции, напыляют вещество на подложку и контрольный образец, имеющий два участка, освещают контрольный образец монохроматическим светом по нормали к поверхности, модулируют поток вещества, напыляемого на один из участков контрольного образца, с рассчитанным коэффициентом модуляции, измеряют параметры пучков, полученных при отражении от участков контрольного образца, и по соотношению параметров судят о достижении заданной толщины. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 583 736 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1583736A1

Способ контроля толщины пленки 1986
  • Трунов Михаил Леонтьевич
SU1388709A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 583 736 A1

Авторы

Трунов Михаил Леонтьевич

Даты

1990-08-07Публикация

1987-12-17Подача