Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки Советский патент 1991 года по МПК G01M11/00 

Изобретение относится к оптическому приборостроению.

Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленной на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой и контролируемой асферической линзой 3. Линза обращена к гильзе предварительно обработанной сферической поверхностью, по которой осуществлено ее базирование. В полой части патрона установлены источник А излучения, точечная диафрагма 5 и линзы 6 компенсатора так, чтобы в полученной оптической системе, состоящей из компенсатора и асферической линзы 3, была исправлены сферическая аберрация. Устройство содержит также анализатор- микроскоп 7.

Устройство работает следующим образом.

Устройство устанавливается на обрабатывающем станке и производится обработка заготовки, после окончания которой от заготовки отводится инструмент и со стороны обработанной поверхности линзы 3 к устройству подводится микроскоп, сфокусированный на точку А. и на источник 4 излучения подается питание. При соответствии формы поверхности расчетному значению размер изображения точечной

О

о

о о

SCO

диафрагмы 5 должен иметь Минимальную величину. По увеличению размера изображения или по изменению его формы судят об отклонении формы асферической повер- ности от расчетной. Применение кольцевых диафрагм, которые устанавливают между анализатором 7 и линзой 3, позволяет судить о местных ошибках формы поверхности и линзы в целом. При обнаружении погрешностей анализатор отводят из зоны (обработки и производят доводку асферической поверхности линзы 3. Вместо микроскопа в качестве анализатора может использоваться решетка Ронки с экраном или подвижные решетки с экраном, О каче- ртве линзы судят по анализу ронкиграмм Или муаровой картины,

0

5

Формула изобретения Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки, включающее точечный источник излучения, компенсатор, установленные перед контролируемой асферической линзой, и анализатор качества изображения за ней, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности контроля, контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, закрепленным на шпинделе обрабатываемого станка, причем компаратор и точечный источник установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона.

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля асферических линз в процессе их обработки. Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит источник 4 излучения, точечную диафрагму 5, компенсатор 6, контролируемую линзу 3 и анализатор 7 оптического изображения. Контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор, диафрагма и источник излучения установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль асферической линзы заключается в анализе изображения точечной диафрагмы после прохождения излучения от источника через оптическую систему, состоящую из компенсатора и контролируемой линзы. В качестве анализатора может быть использован микроскоп. 1 ил.