Способ контроля криволинейных поверхностей объектов Советский патент 1991 года по МПК G01B9/00 

Изобретение относится к контрольно- измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля формы криволинейных поверхностей и размеров крупногабаритных объектов.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет контроля неотражающих поверхностей.

На чертеже изображена схема проведения измерений, поясняющая предлагаемый способ.

С измеряемой поверхностью 1 объекта 2 в измеряемых точках А - К последовательно касается шар 3. Светодальномер 4 измеряет расстояние до объекта относительно начала координат 0 системы OXVZ. Лазерный луч п светодальномера 4 отражается

шаровой поверхностью 5 и возвращается в приемопередатчик светодальномера 4, при этом измеряют координаты луча . При отражении лазерного луча Г2 от шара, касающегося с объектом в точке К, измеряют координаты в in рг. Поворот приемопередатчика светодальномера 4, а вместе с ним лазерного луча, осуществляют относительно начала координат 0. Светодальноме- ром 4 определяют величину луча п от начала координат 0 до поверхности шара,пои совме- щении лазерного луча с нормалью к поверхности шара. Центр 6 шара 3 при обкатывании измеряемой поверхности 1 описывает, в общем случае, поверхность Q , эквидистантную измеряемой поверхности 1 и отстоящую от нее на расстоянии, равном

О О О

Ю

ю

радиусу R шара 3. Определяют полярный радиус центра шара при касании шара в измеряемой точке А с поверхностью 1 из соотношения г R + п. Сферические координаты центра шара луча п1 при этом будут 0i .

Размещают шар на поверхности 1 в контролируемой точке К. Наводят лазерный луч светодальномера на шаровую поверхность 5 до совмещения луча с нормалью к этой поверхности. Находят координаты центра 6 шара при касании его в точке К с поверхностью 1. Для этого измеряют светодальноме- ром величину луча Г2 и координаты &i и р2. Вычисляют полярный радиус центра шара из соотношения гз R + rj. Сферические координаты центра шара луча гз , т.е. точки, отстоящей от измеряемой точки К и поверхности 1 на расстоянии радиус R, будут ft иде.

Аналогично определяют координаты других точек поверхности Q . При известных номинальных значениях координат точек поверхности 1, находят номинальные значения координат точек поверхности Q и сравнивают с ними измеренные значения координат точек поверхности И .

Формула изобретения

Способ контроля криволинейных поверхностей объектов, заключающийся в

том, что в сторону поверхности направляют световой пучок, регистрируют отраженный пучок и определяют координаты поверхности, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей

за счет контроля неотражающих поверхностей, исследуемую поверхность обкатывают шаром с отражающей поверхностью, световой поток направляют на поверхность шара и определяют координаты центра шара по

угловому положению источника в момент совпадения траекторий излученного и отраженного потоков, при этом определение координат точек поверхности производят по координатам центра шара.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля формы криволинейных поверхностей и размеров крупногабаритных объектов. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет контроля неотражающих поверхностей. Способ заключается в определении сферических координат точек поверхности, эквидистантной измеряемой поверхности, на расстоянии, равном радиусу шара с отражающей поверхностью, контактирующего с поверхностью объекта в измеряемых точках. С помощью светодальномера измеряют полярный радиус, равный расстоянию от светодальномера до поверхности шара, при совмещении лазерного луча светодальномера с нормалью к шаровой поверхности. Определяют полярный радиус до центра шара с учетом радиуса шара, при этом измеряются сферические координаты (широта и долгота) положения лазерного луча. Из известных номинальных значений координат поверхности объекта определяют номинальные сферические координаты поверхности, эквидистантной поверхности объекта, и сравнивают их с измеренными координатами. 1 ил.