ле температур от -60 до 125°С по группе Н20,т.е. ДЈ/Ј20°с не превышает+20%.
Однако такая шихта характеризуется недостаточно высокой температурной стабильностью диэлектрической проницаемости.
Цель изобретения - повышение температурной стабильности материала при сохранении высокой диэлектрической проницаемости, а также обеспечение высокой эластической прочности и малого изменения диэлектрической проницаемости при воздействии постоянного электрического поля.
Поставленная цель достигается тем, что шихта сегнетокерамического материала, включающая термически разложенный титанил-оксалат бария, (V) оксид ниобия и добавку, содержит в качестве добавки оксид кобальта при следующем соотношении компонентов, мас.%:
Титанил-оксалат бария
ВаТЮ(С2СМ)2.4Н2099,11-99,35
Оксид ниобия (V) Nb20s 0,57-0,73
Оксид кобальта СозО 0,08-0,16
Предлагаемый материал готовят по обычной керамической технологии как путем сухого помола и смешения в вибромельнице в течение 4 ч, так и мокрым помолом в шаровой мельнице в течение 24 ч. Рекомендуемая удельная поверхность готовой шихты материала 2 м /ч.
Предварительно перед смешением компонентов проводят прокалку титанил-окса- лата бария при 1100°С, в результате чего образуется титанат бария ВаТЮз, к которому добавляются оксиды ниобия и кобальта в количествах, обеспечивающих заявляемое отношение. Свойства материала проверяют на дисках, оформленных методом прессования, обжиг заготовок проводят в электропечах при 1360-1460°С, в качестве электродов используют серебро.
Электрические свойства предлагаемого материала и материала-прототипа представлены в таблице. Относительное изменение диэлектрической проницаемости в интервале температур от - 60 до 125°CAf/ Ј20°с определяют следующим образом: измеряют температурную зависимостью и вычисляют относительное ее изменение по формулам:
Де -бо°с
Ј20°С ДЈ.+125°С
. Ј -60°С - Ј 20°С .
Ј 20°С Ј +125°С - Ј 20°С
Ј20°СЈ20°С
Аналогично определяют Де /Ј20°с в других точках температурного интервала.
Расчет относительного изменения диэлектрической проницаемости при воздействии постоянного электрического поля Де/е о проводится следующим образом: измеряют диэлектрическую проницаемость образцов без приложения постоянного напряжения (Ј ) и с приложением постоянного электрического поля Ео ( 8 о). Изменение диэлектрической проницаемости вычисляют по формуле Ае Ј о - Ј Ј оКо
Формула изобретения
Шихта сегнетокерамического материала для термостабильных конденсаторов, включающая термически разложенный ти- танил-оксалат бария (V) оксид ниобия и добавку, отличающаяся тем, что, с целью повышения температурной стабильности материала при сохранении высокой диэлектрической проницаемости, она содержит в качестве добавки оксид кобальта при следующем соотношении компонентов, мас.%: Термически разложенный титанил-оксалат бария99,11-99,35
(V) оксид ниобия0,57-0,73
Оксид кобальта0,08-0,16
Диэлектрическая проницаемость при 20°С, tjtfc 29
Относительное изменение диэлектрической проницаемости в интервале температур от-60 до 125 С, дЈ/его«с (не более)Ю
Относительное изменение диэлектрической проницаемости при воздействии постоянного электрического поля напряженностью
3100-3600 3200-3700 1900-2500 2700-11500 3000
+ 10 -12
+ 10 -АО
+10 -50
20
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКИЙ КОНДЕНСАТОРНЫЙ ДИЭЛЕКТРИК ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КЕРАМИЧЕСКИХ КОНДЕНСАТОРОВ ТЕМПЕРАТУРНО-СТАБИЛЬНОЙ ГРУППЫ | 2009 |
|
RU2413325C1 |
Шихта для сегнетоэлектрического керамического материала | 1981 |
|
SU948973A1 |
НИЗКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ КЕРАМИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ТЕРМОСТАБИЛЬНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ | 1992 |
|
RU2035780C1 |
Сегнетоэлектрический керамический материал | 1981 |
|
SU975680A1 |
ШИХТА СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКОГО МАТЕРИАЛА | 1992 |
|
RU2047584C1 |
Сегнетоэлектрический керамический материал | 1982 |
|
SU1077867A1 |
Шихта для изготовления сегнетокерамического материала | 1982 |
|
SU1028644A1 |
Сегнетоэлектический керамический материал | 1977 |
|
SU697462A1 |
СЕГНЕТОКЕРАМИЧЕСКИЙ КОНДЕНСАТОРНЫЙ МАТЕРИАЛ | 1992 |
|
RU2035435C1 |
Сегнетоэлектрический керамический материал | 1982 |
|
SU1085964A1 |
Сущность изобретения: шихта включает (мае. %) термически разложенный титанил- оксалат бария 99,11-99,35; пентоксид ниобия 0,57-0,73; оксид кобальта 0,08-0,16. Материал готовят по обычной керамической технологии, перед смешиванием компонентов шихты проводят прокалку титанил-окса- лата бария при температуре 1100°С. Материал, полученный из предложенной шихты, имеет следующие характеристики: епри 20°С 2900-3700, Де /Ј20°с ± 10% в интервале - 60 + 125°С. 1 табл, сл и диэлектрической проницаемостью 1500- 2000. Известен керамический материал, содержащий титанат бария, (V) оксид ниобия и другие добавки, диэлектрическая проницаемость которого составляет 2960-3100 при ее изменении в интервале температур от-60 до 125°С, равном ±14%. Наиболее близкой по технической сущности к предлагаемому изобретению является шихта сегнетокерамического материала, включающая термически разложенный титанил-оксалат бария, (V) оксид ниобия и добавки оксидов редкоземельных элементов. Материал имеет следующие электрические свойства: диэлектрическая проницаемость 3000, относительное изменение диэлектрической проницаемости в интерваVI го CS сл ю
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба | 1920 |
|
SU11A1 |
Материалы керамические для изделий электронной техники | |||
Пневматический водоподъемный аппарат-двигатель | 1917 |
|
SU1986A1 |
Шихта для изготовления сегнетокерамического материала | 1985 |
|
SU1258825A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Пневматический водоподъемный аппарат-двигатель | 1917 |
|
SU1986A1 |
Балакишиева Т.А | |||
и др | |||
II Всесоюзная конференция по физико-химическим основам технологии сегнетоэлектрических и родственных материалов | |||
Звенигород, 24- 28 окт., 1988 | |||
- Тезисы доклада, М., 1988, с.98 | |||
Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве керамических конденсаторов низкого и высокого напряжения | |||
Известны сегнетокерамические материалы диэлектриков на основе соединений бария и титана (ВаТЮз), для которых характерны высокие значения диэлектрической проницаемости, ее высокая температурная стабильность и относительно слабая зависимость от напряженности постоянного поля, а также высокая электрическая прочность | |||
Так, керамические материалы Т-1000 и Т-2000 характеризуются величиной относительного изменения диэлектрической проницаемости в интервале температур от -60 до 125°С Ае /Ј20°с не более ±15 и ±20% |
Авторы
Даты
1992-04-15—Публикация
1989-12-26—Подача