СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК Советский патент 1965 года по МПК G01N21/55 

Известные способы определения оптических характеристик микрообъектов в отраженном и проходящем монохроматическом и поляризованном свете, согласно которым на предметный столик микроскопа устанавливают эталонный нрепарат и регистрируют значение величины тока на выходе фотоэлектронного умножителя с последуюш,им сравнением его со значением подобного сигнала, полученного при отражении от исследуемого объекта, требуют перемещения исследуемого объекта в нроцессе измерений.

Предложенный способ отличается от известных тем, что значения, обусловленные отражением от эталонного образца и непосредственно от лампы осветителя в необходимых областях спектра, сигналов сводят в таблицу, устанавливают на место эталонного образца измеряемый объект, а о величине измеряемого параметра последнего судят по соотнощению сигналов, обусловленных отражением от исследуемого образца и соответствующим табличным значениям. Указанные отличия позволяют исключить перемещения объекта в процессе измерения.

При определении оптических характеристик предложенным способом используют микроскоп с двумя фотоэлектрическими насадками, размещеннымн над и под микроскопом. Кроме того, в тубусе микроскопа устанавливают отражательную поворотную пластину, предназначенную для излома пучка лучей от лампы осветителя. На предметный столик микроскопа устанавливают эталонный препарат, например призму полного внутреннего отражения, и регистрируют величину полученного на выходе фотоэлектронного умножения (ФЭУ), затем составляют таблицы соответствия подающего и отраженного или прошедщего световых потоков при заданной длине волны.

После этого заменяют эталонный препарат измеряемым образцом, устанавливают табличное значение светового потока, падающего на объект нрн заданной длине волны, и по величине сигнала на выходе ФЭУ судят об отражательной способности измеряемого образца.

Таким образом однал ды произведенная градуировка ФЭУ и составленная таблица соответствия передающего и отраженного световых потоков при заданных значениях длин волн позволяет исследовать образец в необходимом диапазоне длин волн и освещенностей без замены его эталонным препаратом.

Предмет нзобретения 3 лик микроскопа устанавливают эталонный препарат и регистрируют значения величины тока на выходе фотоэлектронного умножителя с последующим сравнением его со значением подобного сигнала, полученного при отражении от исследуемого объекта, отличающийся тем, что, с целью исключения перемещения исследуемого объекта в процессе измерений, значения, обусловленные отражением 4 от эталонного образца и непосредственно от лампы осветителя в необходимых областях спектра, сигналов сводят в таблицу; устанавливают на место эталонного образца измеряемый объект, а о величине измеряемого параметра последнего судят по соотношению сигналов, обусловленных отражением от исследуемого образца, и соответствующим табличным значениям.