Устройство для контроля профиля поверхности оптического волокна Советский патент 1992 года по МПК G01B11/27 

Фиг

Изобретение относится к измерительной технике и может быть испльзовано для койтроля профиля поверхности оптического волокна. Целью изобретения является расширение технологических возможностей при измерении оптического волокна. При измерении контролируемую деталь 5 прижимают торцом к планке 10 и поворачивают на угол, кратный 360° с помощью планки 9 деталь 5 занимает фиксированное положение в V-образной канавке призмы. При этом с помощью объектива 2 и окуляра микроинтерферометра наблюдают интерференционную картину в процессе дискретного вращения детали 5, по которой судят о величине торцового биения. 2 ил.