Изобретение относится к контрольно- .измерительной технике.
Цель изобретения - расширение области измеряемых температур.
На чертеже изображена структура датчика температуры, поперечный разрез.
Датчик содержит анизотропный кристалл
1. например СаСОз, с базовой поверхностью
2. на которой закреплены электроды 3. Между электродами перпендикулярно базовой поверхности проходит плоскость двойникования 4, в которой выполнен паз 5. Туннельный зазор создается между электродами 3.
При изменении температуры изменяется угол двойникования и зазор между электродами, в результате чего изменяется туннельный ток, экспоненциально зависящий от зазора и, следовательно, от температуры. Использование анизотропного кристалла в качестве термочувствительного элемента датчика позволяет .повысить стабильность и воспроизводимость измерений температуры в широком диапазоне.
При подборе материала электродов с коэффициентом теплового расширения
Р (aisin0) + (azcosff)
(1)
И
где 0- угол наклона главной кристаллографической оси к плоскости двойникования;
«1 и ой - коэффициенты теплового рас- ширения кристалла вдоль и поперек главной кристаллографической оси соответственно (для одноосного кристалла), при нагревании и охлаждении датчика будут отсутствовать термические напряжения, связанные с разностью коэффициентов теплового расширения.
Датчик малочувствителен к действию проникающего излучения.
При использовании кристалла СаСОз область рабочих температур датчика составляет - 4,2 - 800 К.
Датчик может быть выполнен средствами технологии микроэлектроники, при этом кристалл выращивается эпитаксиально, паз вытравливается ионно-лучевым травлен и00
о ю
СО
ем, затем распылением наносятся электроды. Датчик может быть выполнен в корпусе интегральной микросхемы, в том числе неполупроводниковой (например, содержащей квантовые логические элементы). В последнем случае датчик может применяться для стабилизации режимов работы одно- электронных или туннельных вентилей.
Датчик работает следующим образом.
Сначала производится калибровка. Датчик градуируют, производя несколько измерений при известных температурах Т|. При известных TI измеряют туннельный ток li:
li с ехр( - 1,025УЩ),
(2)
где Ф - работа выхода электрона из отрицательного электрода, эВ;
d c(Ti - То) + do - зазор между электродами, А;
с - константа для данного датчика;
То - известная температура;
do - зазор между электродами при Т0.
Из выражения (2) получают
Т То + kin..
где Т0 и К определяются из калибровочных измерений.
Затем измеряют туннельный ток Л при искомой температуре Т и по току определяют температуру Т.
Чувствительность устройства по току зависит от разности коэффициентов теплового расширения материалов, геометрии датчика и работы выхода электрона:
0
5
0
5
0
г,.
dT
где Н - глубина паза, А;
а - угловая чувствительность датчика,- рад.
Для СаСОз а равна 0,00.004 рад на граДУСПри глубине паза 2,5 мкм . 25000 А чувствительность датчика составит 200% на градус, или при изменении температуры на 0,01° туннельный ток изменится на 2%.
Изменение ширины паза и, следовательно, начального зазора между электродами изменяет диапазон температур, в котором зазор находится в пределах 1-5 нм, и возможно туннелирование электронов.
Ф о рчи ула изобретения Датчик температуры, содержащий чувствительный элемент, включающий два электрода, образующие туннельный переход, отличающийся тем, что, с целью расширения области измеряемых температур, чувствительный элемент выполнен в виде кристалла с плоскостью двойникования, перпендикулярной базовой поверхности элемента, при этом в плоскости двойникования выполнен паз, по обе стороны которого на базовой поверхности расположены электроды.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ЙС!--СОЮЗНАЯ | 1973 |
|
SU376669A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАНОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ И НАНОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ С АВТОЭЛЕКТРОННОЙ ЭМИССИЕЙ | 2011 |
|
RU2484483C1 |
МУЛЬТИПЛИКАТИВНЫЙ МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) | 2003 |
|
RU2247342C1 |
ЭЛЕКТРОИСКРОВОЙ СПОСОБ РЕЗКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН | 2005 |
|
RU2288522C1 |
ТЕРМОСТИМУЛИРОВАННЫЙ СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ АНИЗОТРОПИИ ОПТИЧЕСКИХ ОСЕЙ КРИСТАЛЛОВ | 2014 |
|
RU2566389C1 |
ТУННЕЛЬНЫЙ НАНОДАТЧИК МЕХАНИЧЕСКИХ КОЛЕБАНИЙ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2001 |
|
RU2212671C1 |
ТУННЕЛЬНЫЙ НАНОСЕНСОР МЕХАНИЧЕСКИХ КОЛЕБАНИЙ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2007 |
|
RU2362221C1 |
ЭМИССИОННЫЙ ДАТЧИК МЕХАНИЧЕСКИХ И ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН | 2005 |
|
RU2291449C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИХ УПРУГИХ ЭЛЕМЕНТОВ | 2015 |
|
RU2601219C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ С ЦИКЛИЧЕСКОЙ ДВОЙНИКОВОЙ СТРУКТУРОЙ | 2002 |
|
RU2208068C1 |
Использование: контрольно-измерительная, техника. Сущность изобретения: датчик температуры содержит чувствительный элемент, выполненный в виде анизотропного кристалла с плоскостью двойникования, перпендикулярной базовой области кристалла. При этом в плоскости двойникования выполнен паз, по обе стороны которого на базовой поверхности расположены электроды, образующие туннельный переход. Чувствительность датчика задана глубиной паза, а область измеряемых температур - шириной пазы. 1 ил.
Патент США № 4566023, кл | |||
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторское свидетельство СССР № 277310, кл.С 01 К 7/22, 1969 | |||
- |
Авторы
Даты
1993-04-23—Публикация
1990-07-26—Подача