СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МИКРОПРОБЫ ПОВЕРХНОСТНОГО Советский патент 1967 года по МПК G01N1/02 

Известен способ получения микропробы поверхностного слоя материала с помощью оптического квантового генератора (ОКГ), излучение которого используется для возбуждения в микрообъемах эмиссионного спектра исследуемых элементов на поверхности изучаемых материалов. Практически эмиттирующее облако выбиваемого материала приходится довозбуждать искровым разрядом. Локальность известного способа не превышает 30-50 мк.

Предложенный способ заключается в том, что под микроскопом выбирают участок шлифа исследуемого материала (стали или чугуна), покрывают выбранный участок прозрачной для излучения ОКГ пластиной или пленкой, фокусируют излучение ОКГ на выбранный участок псверхностного слоя исследуемого материала и лучом ОКГ напыляюг микропробу на прозрачную пленку. Проба может быть получена в любых условиях, в том числе в полевых, герметизирована и nepL дана на анализ в стационарную лаоораторию. Анализ может проводиться различными известными способами: спектральным, активационным и др.

Предложенный способ увеличивает локальность до 10 мк и повышает точность последующих измерений.

Предмет изобретения

Способ получения микропробы поверхностного слоя материала, отличающийся тем, что, с целью повышения локальности и точности измерения содержания компонентов, выбирают подлежащий анализу участок на шлифе под микроскопом, покрывают этот участок прозрачной для излучения оптического квантового генератора (ОКГ) иленкой или пластиной, фиксируют излучение ОКГ на выбранный участок поверхности исследуемого материала п напыляют микропробу на пленку или пластину путем испарения исследуемого материала лучом ОКГ.