ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Советский патент 1967 года по МПК G01B11/30 G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU200227A1

По основному авт. св. N° 180376 известен интерферометр для контроля качества плоских онтических поверхностей, в котором между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена нризма Дове. Главное сечение и отражающая грань призмы параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.

Предложенный интерферометр отличается от интерферометра по основному авт. св. № 180376 тем, что между объективом наблЕОдателыюй системы и эталонной поверхностью, наложенной на контролируемую поверхность, введен блок, состоящий из нескольких призм Дове, отражающие грани которых лежат в одной плоскости и параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы. Это позволяет повысить точность измерения и ускорить процесс контроля.

На фиг. 1 изображена схема предложенного интерферометра; на фиг. 2 - поле зрения интерферометра.

Световой поток от источника / проходит диафрагму 2, находящуюся в фокальной плоскостн объектива 3. Параллельный пучок лучей, выйдя из объектива, нормально падает на эталонную поверхность 4 пробного стекла 5. Отраженные от поверхности 4 и от поверхности 6 контролируемой детали 7 лучи.

интерферируя собой, образуют интерференционную картину, локализованную в промежутке между поверхностями 4 и 6. Интерференционная картина, представляющая

собой полосы равной толщины, наблюдается визуально за диафрагмой 8, находящейся в фокальной плоскости объектива 3. Лучи направляются в наблюдательную систему с помощью светоделительной пластины 9.

Между объективом 5 и пробным стеклом 5 введен блок, состоящий из нескольких призм Дове 10. Отражающие грани и главные сечения призм параллельны выходящему из объектива пучку лучей, причем отражающие грани всех призм Дове лежат в одной плоскости, что достигается установкой призм на плоскопараллельиую стеклянную пластину 11.

Если в наблюдаемой интерференционной картине полосы равной толщины иаправлены

параллельно плоскости, в которой лежат отражающие гранн призм Дове, а изображения полосы, наблюдаемые в крайних призмах Дове, совмещены с самой полосой, то изображепия, наблюдаемые в средних призмах Дове,

оказываются смещепными по отношению к полосам на величину, вдвое большую стрелки искривления полосы в дайной точке. Высокая точность контроля достигается за счет повышения чувствительности |Глаза к нoниaльJt

изображения, наблюдаемого через призму Дове, на двойную величину.

Введение блока из нескольких призм Дозе позволяет производить оценку стрелок искривления полосы равной толщины одновременно во многих ее точках (число точек, в которых оцениваются стрелки искривления, равно удвоенному числу призм Дове).

Благодаря одновременности оценки стрелок искривления отпадает необходимость в прижиме контролируемой детали к пробному стеклу, тем самым устраняются причины, которые могут вызвать повреждение поверхности и искажение ее формы. Контролируемую деталь можно помещать на подъемный столик, снабженный механизмами для регулировки

его наклона, сохраняя воздушный зазор между пробным стеклом 5 и контролируемой деталью 7.

Предмет изобретения

Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей по авт. св. № 180376, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, между объективом наблюдательной системы и эталонной поверхностью, наложенной на контролируемую деталь, введено еще несколько подобных призм Дове, отражающие грани которых лежат Б одной плоскости и параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.

Похожие патенты SU200227A1

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1970
SU269527A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛИ 1973
  • Ю. П. Контиевский, О. А. Клочкова, Ю. Г. Кожевников, А. Я. Пережогин Ю. В. Елисеев
SU380946A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР Для КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1966
SU180376A1
Интерферометр для контроля формы плоских полированных поверхностей 1974
  • Зубаков Вадим Гаврилович
  • Манукян Жорик Бегларович
SU518622A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 1996
  • Скоморовский В.И.
RU2107903C1
НЕРАВНОПЛЕЧИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2001
  • Иванов Ю.М.
  • Скоробогатов В.В.
  • Нестеров С.Ю.
  • Чунин Б.А.
RU2215988C2
Интерференционный способ контроля асферических поверхностей 1983
  • Феоктистов Владимир Андреевич
  • Контиевский Юрий Петрович
SU1185071A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2527316C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
Интерферометр для контроля формы поверхности 1990
  • Бакеркин Александр Владимирович
  • Контиевский Юрий Петрович
SU1755042A1

Иллюстрации к изобретению SU 200 227 A1

Реферат патента 1967 года ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Формула изобретения SU 200 227 A1

ППИЙ,,,.

;; i.s,fx.

I

ff7

Фиг.Ч

Фиг. 2

SU 200 227 A1

Даты

1967-01-01Публикация