ИНТЕРФЕРОМЕТР Для КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Советский патент 1966 года по МПК G01B11/30 G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU180376A1

Известны интерферометры для контроля качества плоских оптических поверхностей по измерению искривлений полос равной толщины посредством двухлучевой интерференции, содержащие осветительную и наблюдательную системы.

Предлагаемый интерферометр отличается от известных тем, что между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена призма Дове, главное сечение и отражающая грань которой нараллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.

Призма Дове установлена на направляющие, которые обеспечивают ее прямолинейное перемещение в двух взаимно перпендикулярных направлениях, параллельных плоскости контролируемой поверхности.

Направляющие снабжены отсчетным устройством для измерения величины перемещения.

Контроль качества поверхности производят по измерению стрелок искривления полос равной толщины, которые ориентируют таким образом, чтобы их направление совпало с направлением перемещения призмы Дове, перпендикулярным ее главному сечению.

мещением двух взаимно повернутых частей изображения полосы. Кроме того, точность наводки удваивается благодаря тому, что при перемещении призмы Дове в направлении плоскости ее главного сечения наблюдаемая через призму часть изобран ения полосы перемещается на величину, вдвое большую величины перемещения призмы.

Предлагаемый интерферометр позволяет измерять стрелки искривления полос равной толщины с точностью до 0,005 полосы в любой части проверяемой поверхности. Схема предлагаемого интерферометра нредставлена на чертеже.

Свет от источника / монохроматического излучения конденсором 2 проектируется в полость диафрагмы 3, которая располон ена в фокальной плоскости объектива 4. Параллельный пучок лучей, вышедщий из объектива, проходит через контролируемую 5 и эталонную 6 поверхности. Отраженные от этих поверхностей лучи интерферируют между собой, образуя полосы равной толщины, которые наблюдаются через окуляр, помещенный за диафрагмой 7, расположенной в фокальной плоскости объектива 4. Светоделительная пластина 8 направляет лучи в окуляр. Между объективом 4 и контролируемой поверхплоскость и отражающая грань которой параллельны оптической оси объектива 4.

Предмет изобретения

Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей, содержащий осветительную и н а блюдательную системы, огличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, между объективом наблюдательной системы и контролируемой поверхностью, наложенной на эталонную поверхность, введена призма Дове, главное сечение н отражающая грань которой параллельны оптической оси объектива наблюдательной системы.

Похожие патенты SU180376A1

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1967
SU200227A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛИ 1973
  • Ю. П. Контиевский, О. А. Клочкова, Ю. Г. Кожевников, А. Я. Пережогин Ю. В. Елисеев
SU380946A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 1970
SU269527A1
Интерферометр для контроля формы плоских полированных поверхностей 1974
  • Зубаков Вадим Гаврилович
  • Манукян Жорик Бегларович
SU518622A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ И АБЕРРАЦИЙ 1973
  • Ю. П. Контиевский
SU396543A1
ФУНДУС-КАМЕРА 1992
  • Беленкович В.Ф.
  • Веснин В.Н.
  • Овчинников Б.В.
  • Левинтова Т.Я.
  • Товбин Б.С.
  • Черкасова Д.Н.
RU2063165C1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2237865C2
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ОБРАТНО-КРУГОВЫМ ХОДОМ ЛУЧЕЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ И АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ 1979
  • Губель Н.Н.
  • Духопел И.И.
  • Ефимов В.К.
  • Федина Л.Г.
SU786471A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2

Иллюстрации к изобретению SU 180 376 A1

Реферат патента 1966 года ИНТЕРФЕРОМЕТР Для КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПЛОСКИХ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

Формула изобретения SU 180 376 A1

SU 180 376 A1

Даты

1966-01-01Публикация