СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ Советский патент 1969 года по МПК G01B17/02 

Известны способы измерения толщины изделий, основанные на исиользовании импульсного возбуждения и приема ультразвуковых колебаний с последующим анализом принятого сигнала. Толщину изделия определяют по вре.менному интервалу между эхо-сигналами. Указанные способы имеют тот недостаток, что из-за наличия «мертвой зоны минимально измеряемая толщина составляет несколько миллиметров.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых толщин в сторону малых толщин, в изделии возбуждают коротким ультразвуковым импульсом с широким спёктром частот продольные колебания по толщине изделия, анализируют частотный спектр прошедших или отраженных сигналов и определяют толщину изделия по интервалу между максимумами дискретного спектра, возникающими на частотах, кратных резонансной частоте изделия.

Сущность предлагаемого способа заключается в следующем. Генератором коротких импульсов в пьезопластине возбуждают ультразвуковой импульс с широким частотным спектром, который через звукопроводящий слой подается нормально к контролируемому изделию. После прохождения через изделие ультразвуковые колебания принимаются той же или другой пьезопластиной и преобразуются в электрический сигнал, который иосле его усиления широкополосным усилителем подается на анализатор спектра, где производится частотный анализ сигнала. Толщина изделия определяется по измерению частотного интервала между максимумами дискретного спектра.

Предмет 3обретения

Способ измерения толщины изделий, основанный на использовании импульсного возбуждения и приема ультразвуковых .колебаний с последующим анализом принятого сигнала, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых толщин в сторону малых толщин, в изделии возбуждают коротким ультразвуковым импульсом с широким спектром частот продольные колебания по толщине изделия, анализируют частотный спектр прошедшпх или отраженных сигналов и определяют толщину изделия по интервалу между максимумами дискретного спектра, возникающими на частотах, кратных резонансной частоте изделия.