УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ толщины ПОКРЫТИЯИЗДЕЛИЯ Советский патент 1969 года по МПК G01B15/02 

Известны устройства для измерения толщины покрытия изделия, содержащие источник ионизирующего излучения с коллиматором и детектор. Однако эти устройства не учитывают изменения в конфигурации контролируемых изделий, разницу в их обработке, а также неидентичность установки изделий при контроле, в результате чего появляется значительная погрешность измерения толщины.

С целью повышения точности измерения, в предложенном устройстве коллиматор выполнен с утолщением по периметру в виде буртика, диаметр и расположение которого выбирают с соотношением

-1/А

; л

-у дг

расстояние от буртика коллиматора

/ до контролируемого изделия; расстояние от детектора до контролируемого изделия;

Дб- диаметр буртика;

Дд- диаметр рабочей части детектора.

На чертеже схематично изображено описываемое устройство.

Устройство содержит корпус 1, посредством резьбового соединения связанный с держателем 2 коллиматора 3; фиксатор 4, жестко скрепляющий корпус и держатель после настройки прибора; детектор, состоящий из сцинтиллятора 5 и фотоэлектронного умножителя 6; окно 7 в корпусе для прохождения прямого и отраженного излучения; одно 8 в держателе для прохождения отраженного излучения от контролируемого изделия 9; источник ионизирующего излучения 10; буртик коллиматора // и окно /2 в коллиматоре.

Устройство работает следующим образом.

Поток бета-излучения от источника W, проходя через окно 12 в коллиматоре 3, облучает участок поверхности изделия, подлежащего контролю. Отраженные от контролируемого изделия 9 бета-частицы через окна 7 и S попадают на сцинтиллятор 5, причем на сцинтиллятор падают бета-частицы лишь в угле С02-coi. Возникающие на выходе фотоумножителя 6 импульсы тока, пропорциональные амплитуде сцинтилляций, регистрируются пересчетной схемой. Количество зарегистрированных бета-частиц является функцией толщины покрытия.

При приближении изделия к источнику происходят два процесса, приводящие к противоположным результатам.

С одной стороны, увеличивается число бетячастиц, падающих в угле со2 за счет приближения изделия к детектору и источнику, а с другой стороны, увеличивается угол coi, что ведет к уменьшению числа регистрируемых бета-частиц.

Имеется некоторое оптимальное расетояние от изделия до коллиматора и детектора, при котором екороСть счета не зависит от положения изделия, кривизны и обработки его.

Оптимальные значения величин h и / характеризуются следующим выражением:

/ „-./ж

т-|/ :ж

где Дв- диаметр буртика коллиматора; Дд-.диаметр рабочей части детектора. / - расстояние между контролируемым изделием и буртиком коллиматора; h - расстояние между контролируемым

изделием и сцинтиллятором. При первоначальной настройке прибора расстояния h и / могут уточняться на максимум скорости счета движением корпуса / относительно держателя 2.

5.

Предмет изобретения

Устройство для измерения толщины покрытия изделия, содержащее источник ионизирующего излучения с коллиматором и детектор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, коллиматор выполнен с утолщением по периметру в виде буртика, диаметр и расположение которого выбирают с соотношением

/ -. / Д1

т-1/ Ж

расстояние от буртика коллиматора до контролируемого изделия;

h Дб расстояние от детектора до контролируемого изделия;

-диаметр буртика;

-диаметр рабочей части детектора.

Дд

КонтраjlUpyEMoe покрыти

/7