Известен способ измерения удельного cortротивлеиия материалов ino изменению добротности объемиого колебатель-ного контура при выполнении этого контура из исследуемого материала или введении внутрь его исследуемого материала.
Особенность предлагаемого способа состоит в том, что испытуемый материал вводят в зазор сердечника тороидальной катушки колебательного контура. Это дает возможность упростить процесс измерения.
На фиг. 1 изображен датчик с испытуемым полупроводниковым образцом; на фиг. 2 - блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа.
Исследуемый образец 1 полупроводникозого материала вводят в зазор 2 тороидального сердечника, на котором укреплена обмотка 3, являющаяся индуктивностью высокочастотного колебательного контура. Из-за возникающих в образце вихр.евых токов изменяется добротность контура. Сравнивая добротность контура до и после .введения кристалла или пластины материала в зазор 2 сердечника, находят величину удельного сопротивления материала.
Изменение добротности, определяемое датчиком 4 (тороидальным сердечником с обмоткой), фиксируется индикатором 5 и может оцениваться по отклонению стрелки измерительного прибора 6. Датчик предварительно калибруют с по1Мощью образцов, имеющих известное удельное сопротивление. Измерение производится бесконтактным методом, обеспечивающим измерение кристаллов малых размеров (площадью до 2,25 мм) с удельным сопротивлением 0,022 - 0,036 ом/см. Погрещность не превышает 5 - 7%.
Предмет изобретения
Способ измерения удельного сопротивления, основанный на определении добротности резонансного колебательного контура, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения величины удельного сопротивления
полупроводниковых кристаллов и тонких пластин из полупроводникового материала, кристалл или пластину вводят в зазор сердечника тороидальной катущки колебательного контура и по изменению величины добротности контура определяют удельное сопротивление испытуемого образца.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ДАТЧИК-ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДЛЯ УСТРОЙСТВА | 1970 |
|
SU270075A1 |
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН | 1996 |
|
RU2121732C1 |
АТЕНТКО- ..., ТЕХНИЧЕСКАЯ '" SHBJI00TE[fA | 1970 |
|
SU268542A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ | 2010 |
|
RU2420749C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОДЫ И ЕЕ РАСТВОРОВ В НИЗКОЧАСТОТНОЙ ОБЛАСТИ С ПОМОЩЬЮ L-ЯЧЕЙКИ | 2002 |
|
RU2234102C2 |
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок | 1991 |
|
SU1835522A1 |
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок | 1990 |
|
SU1774283A2 |
УСТРОЙСТВО для БЕСКОНТАКТНОГО | 1973 |
|
SU398893A1 |
Температурный пермеаметр | 1981 |
|
SU1019384A1 |
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ РАЗМЕРОВ И КОРОБЛЕНИЯ ПЛАСТИН | 1996 |
|
RU2097746C1 |
Даты
1970-01-01—Публикация