СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЕ Советский патент 1970 года по МПК G01R27/02 

Описание патента на изобретение SU265986A1

Известен способ измерения удельного cortротивлеиия материалов ino изменению добротности объемиого колебатель-ного контура при выполнении этого контура из исследуемого материала или введении внутрь его исследуемого материала.

Особенность предлагаемого способа состоит в том, что испытуемый материал вводят в зазор сердечника тороидальной катушки колебательного контура. Это дает возможность упростить процесс измерения.

На фиг. 1 изображен датчик с испытуемым полупроводниковым образцом; на фиг. 2 - блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Исследуемый образец 1 полупроводникозого материала вводят в зазор 2 тороидального сердечника, на котором укреплена обмотка 3, являющаяся индуктивностью высокочастотного колебательного контура. Из-за возникающих в образце вихр.евых токов изменяется добротность контура. Сравнивая добротность контура до и после .введения кристалла или пластины материала в зазор 2 сердечника, находят величину удельного сопротивления материала.

Изменение добротности, определяемое датчиком 4 (тороидальным сердечником с обмоткой), фиксируется индикатором 5 и может оцениваться по отклонению стрелки измерительного прибора 6. Датчик предварительно калибруют с по1Мощью образцов, имеющих известное удельное сопротивление. Измерение производится бесконтактным методом, обеспечивающим измерение кристаллов малых размеров (площадью до 2,25 мм) с удельным сопротивлением 0,022 - 0,036 ом/см. Погрещность не превышает 5 - 7%.

Предмет изобретения

Способ измерения удельного сопротивления, основанный на определении добротности резонансного колебательного контура, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения величины удельного сопротивления

полупроводниковых кристаллов и тонких пластин из полупроводникового материала, кристалл или пластину вводят в зазор сердечника тороидальной катущки колебательного контура и по изменению величины добротности контура определяют удельное сопротивление испытуемого образца.

Похожие патенты SU265986A1

название год авторы номер документа
ДАТЧИК-ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДЛЯ УСТРОЙСТВА 1970
SU270075A1
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН 1996
  • Итальянцев А.Г.
RU2121732C1
АТЕНТКО- ..., ТЕХНИЧЕСКАЯ '" SHBJI00TE[fA 1970
SU268542A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ 2010
  • Алексеев Алексей Валентинович
  • Белоусов Виктор Сергеевич
  • Беляков Михаил Михайлович
  • Горский Геннадий Леонидович
RU2420749C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОДЫ И ЕЕ РАСТВОРОВ В НИЗКОЧАСТОТНОЙ ОБЛАСТИ С ПОМОЩЬЮ L-ЯЧЕЙКИ 2002
  • Семихина Л.П.
RU2234102C2
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок 1991
  • Ануфриев Александр Николаевич
  • Гасанов Адольф Александрович
  • Титов Михаил Николаевич
  • Филимонов Аркадий Семенович
  • Ходос Юрий Адольфович
  • Чурин Сергей Сергеевич
SU1835522A1
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок 1990
  • Ануфриев Александр Николаевич
  • Гасанов Адольф Александрович
  • Титов Михаил Николаевич
  • Филимонов Аркадий Семенович
SU1774283A2
УСТРОЙСТВО для БЕСКОНТАКТНОГО 1973
  • А. С. Кукуй В. В. Кущ
SU398893A1
Температурный пермеаметр 1981
  • Кугаевский Александр Федорович
  • Лукашенок Анатолий Бертусович
SU1019384A1
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ РАЗМЕРОВ И КОРОБЛЕНИЯ ПЛАСТИН 1996
  • Итальянцев А.Г.
RU2097746C1

Иллюстрации к изобретению SU 265 986 A1

Реферат патента 1970 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЕ

Формула изобретения SU 265 986 A1

SU 265 986 A1

Даты

1970-01-01Публикация