ЭТАЛОН ДЛЯ НАСТРОЙКИ ПРИБОРА ПРИ ЛИНЕЙНЫХИЗМЕРЕНИЯХ Советский патент 1970 года по МПК G01B9/02 

Известен эталон для настройки прибора при линейных измерениях, аттестуемый абсолютным интерференционным методом и содержащий нижнюю и верхнюю стеклянные пластинки и проставок, выполненный в форме полого цилиндра и имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности, размер между которыми равен номинальному ра змеру эталона.

Предлагаемый эталон отличается от известного тем, что, с целью настройки прибора на измерение внутренних размеров, проставок выполнен в виде тела П-образной формы.

На чертеже изображен предлагаемый эталон, общий вид.

Он содержит нижнюю стеклянную пластинку/с доведенной верхней плоскостью, верхнюю стеклянную пластинку 2 с доведенной нижней плоскостью, ироставок 3, имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности и выполненный в виде тела П-образной формы.

Край нижней пластинки выступает за проекцию на нее края верхней пластинки.

Поверка эталона производится следующим образом.

Помещают эталон на интерферометр для

абсолютных измерений, при этом получают от выступающего края нижней пластинки и от нижней плоскости верхней пластинки интерференционную картину в виде полос равного наклона, что обеспечивает возможность поверки эталона абсолютным интерференционным методом.

При лселании поверка может быть произведена относительным интерференционным методом. В этом случае к выступающей части нижней пластинки притирается концевая мера, соответствующая размеру эталона.

Предмет изобретения

Эталон для настройки прибора при линейных измерениях, аттестуемый абсолютным интерференционным методом и содержащий нижнюю и верхнюю стеклянные пластинки и троставок, расположенный пласткнками и имеющий плоскопараллельные рабочие поверхности, размер между которыми равен номинальному размеру эталона, отличающийся тем, что, с целью.настройки прибора на измерение внутренних размеров, проставок выполней Б виде тела П-образной формы.