СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НА СВЧ В СВОБОДНОМ ПРОСТРАНСТВЕ Советский патент 1970 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU281569A1

Изобретение относится к радиоэлектронной промышленности и может быть использовано в измерительных лабораториях «аучно-исследозательских институтов, на производстве для контроля параметров изготовляемых диэлектрических материалов и устройств из них (диэлектрических нокрытий, антенных обтекателей и л.р.).

Известные способы измерения комплектной диэлектрической нроницаемости на СВЧ в свободном пространстве обладают тем недостатком, что не позволяют точно определить угол Брюстера из-за наличия потерь в реальных диэлектрических материалах, а иоэтому рассчитанная величина диэлектрической пронинаемости является приближенной, или не позволяют определить угловое положение ма ксимумов отраженных от двух поверхностей образца сигналов и, следовательно, не позволяют определить расстояние Между ними.

С целью повышения точности и быстрого измерения комплексной диэлектрической проницаемости, в предлагаемом устройстве образен диэлектрика облучают нри угле падения 45° волной, ноляризованной под углом 45° к плоскости падения, и онределяют эллиптичность и угол наклона большой оси эллипса поляризации поля отраженной волны.

щее предлагаемый способ; на фиг. 2 приведены параметры эллипса.

Процесс измерения заключается в следующем.

Приемную антенну / {см. фиг. 1) устанавливают на одной линии с передающей а-нтенной 2. Генератор 3 подключают к передающей антенне 2 и измерительный прибор 4 - к приемной антенне /. Затем ориентируют передающую антенну 2 под углом 45° к плоскости надения. Вращая приемную антенну 1 вокруг своей оси, фиксируют по шкале 5 те углы, при которых будет равенство ортогональных составляющих ли.нейно поляризованного под углом 45° сигнала, тем самым выбирают паправление -системы координат и делят по ее осям линейно поляризованный сигнал на две ортогональные .и равные составляющие. Затем поворачивают приемную антенну / вокруг общей оси О на угол, удобный для вычислений (например 45°), вставляют образец 6 диэлектрика в держатель, помещенный на общей оси, и измеряют, вращая вокруг своей оси приемную антенну /, максимальную а и мини aльнyю b амплитуды отраженного сигнала

и берут их отношение -г (см. фиг. 2).

Похожие патенты SU281569A1

название год авторы номер документа
Способ определения сверхвысокочастотных параметров материала в полосе частот и устройство для его осуществления 2018
  • Крылов Виталий Петрович
  • Чирков Роман Александрович
  • Забежайлов Максим Олегович
RU2688588C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОБРАЗЦА МАТЕРИАЛА ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ 2011
  • Крылов Виталий Петрович
  • Ромашин Владимир Гаврилович
  • Кулаковский Михаил Владимирович
RU2453856C1
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛОСКОСЛОИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ ЕСТЕСТВЕННОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ 2022
  • Линец Геннадий Иванович
  • Баженов Анатолий Вячеславович
  • Мельников Сергей Владимирович
  • Гривенная Наталья Владимировна
  • Малыгин Сергей Владимирович
  • Гончаров Владислав Дмитриевич
RU2790085C1
Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления 2017
  • Крылов Виталий Петрович
  • Подольхов Иван Васильевич
  • Минкин Виктор Александрович
RU2665593C1
Сверхвысокочастотное устройство для измерения свойств диэлектрических материалов в свободном пространстве 1977
  • Павленко Юрий Александрович
  • Пасечник Василий Федорович
  • Удовенко Владимир Федорович
SU687379A1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПРЕДМЕТОВ В ЗЕМЛЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1996
  • Валеев Георгий Галиуллович
RU2092874C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ 1970
SU266875A1
Устройство дистанционного измерения диэлектрической проницаемости плоскослоистых диэлектриков естественного происхождения с суммарно-разностной обработкой интерференционных сигналов 2024
  • Линец Геннадий Иванович
  • Баженов Анатолий Вячеславович
  • Гривенная Наталья Владимировна
  • Малыгин Сергей Владимирович
  • Мельников Сергей Владимирович
  • Гончаров Владислав Дмитриевич
  • Димитренко Вячеслав Юрьевич
RU2821440C1
Способ определения диэлектрической проницаемости материала 2019
  • Крылов Виталий Петрович
  • Подольхов Иван Васильевич
  • Чирков Роман Александрович
  • Миронов Роман Александрович
RU2713162C1
УСТРОЙСТВО ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ ПЛОСКОСЛОИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ С ПОТЕРЯМИ 2023
  • Линец Геннадий Иванович
  • Баженов Анатолий Вячеславович
  • Гривенная Наталья Владимировна
  • Малыгин Сергей Владимирович
  • Мельников Сергей Владимирович
  • Гончаров Владислав Дмитриевич
RU2804381C1

Иллюстрации к изобретению SU 281 569 A1

Реферат патента 1970 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НА СВЧ В СВОБОДНОМ ПРОСТРАНСТВЕ

Формула изобретения SU 281 569 A1

SU 281 569 A1

Даты

1970-01-01Публикация