Изобретение относится к радиоэлектронной промышленности и может быть использовано в измерительных лабораториях «аучно-исследозательских институтов, на производстве для контроля параметров изготовляемых диэлектрических материалов и устройств из них (диэлектрических нокрытий, антенных обтекателей и л.р.).
Известные способы измерения комплектной диэлектрической нроницаемости на СВЧ в свободном пространстве обладают тем недостатком, что не позволяют точно определить угол Брюстера из-за наличия потерь в реальных диэлектрических материалах, а иоэтому рассчитанная величина диэлектрической пронинаемости является приближенной, или не позволяют определить угловое положение ма ксимумов отраженных от двух поверхностей образца сигналов и, следовательно, не позволяют определить расстояние Между ними.
С целью повышения точности и быстрого измерения комплексной диэлектрической проницаемости, в предлагаемом устройстве образен диэлектрика облучают нри угле падения 45° волной, ноляризованной под углом 45° к плоскости падения, и онределяют эллиптичность и угол наклона большой оси эллипса поляризации поля отраженной волны.
щее предлагаемый способ; на фиг. 2 приведены параметры эллипса.
Процесс измерения заключается в следующем.
Приемную антенну / {см. фиг. 1) устанавливают на одной линии с передающей а-нтенной 2. Генератор 3 подключают к передающей антенне 2 и измерительный прибор 4 - к приемной антенне /. Затем ориентируют передающую антенну 2 под углом 45° к плоскости надения. Вращая приемную антенну 1 вокруг своей оси, фиксируют по шкале 5 те углы, при которых будет равенство ортогональных составляющих ли.нейно поляризованного под углом 45° сигнала, тем самым выбирают паправление -системы координат и делят по ее осям линейно поляризованный сигнал на две ортогональные .и равные составляющие. Затем поворачивают приемную антенну / вокруг общей оси О на угол, удобный для вычислений (например 45°), вставляют образец 6 диэлектрика в держатель, помещенный на общей оси, и измеряют, вращая вокруг своей оси приемную антенну /, максимальную а и мини aльнyю b амплитуды отраженного сигнала
и берут их отношение -г (см. фиг. 2).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения сверхвысокочастотных параметров материала в полосе частот и устройство для его осуществления | 2018 |
|
RU2688588C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОБРАЗЦА МАТЕРИАЛА ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ | 2011 |
|
RU2453856C1 |
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛОСКОСЛОИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ ЕСТЕСТВЕННОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ | 2022 |
|
RU2790085C1 |
Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления | 2017 |
|
RU2665593C1 |
Сверхвысокочастотное устройство для измерения свойств диэлектрических материалов в свободном пространстве | 1977 |
|
SU687379A1 |
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПРЕДМЕТОВ В ЗЕМЛЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) | 1996 |
|
RU2092874C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ | 1970 |
|
SU266875A1 |
Устройство дистанционного измерения диэлектрической проницаемости плоскослоистых диэлектриков естественного происхождения с суммарно-разностной обработкой интерференционных сигналов | 2024 |
|
RU2821440C1 |
Способ определения диэлектрической проницаемости материала | 2019 |
|
RU2713162C1 |
УСТРОЙСТВО ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ ПЛОСКОСЛОИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ С ПОТЕРЯМИ | 2023 |
|
RU2804381C1 |
Даты
1970-01-01—Публикация