СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПО КАРТИНЕ МУАРОВЫХ ПОЛОС Советский патент 1971 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть применено при исследовании напряженно-деформированного состояния элементов конструкций и деталей машин.

Известен способ определения деформаций по картине муаровых полос, согласно которому на поверхность конструкции или ее модели наносится мелкая сетка (растр), деформируемая вместе с изделием при нагружении. В результате наложения деформированной и недеформированной (эталонной) сеток друг на друга образуется картина муаровых полос, по которой можно получить все компоненты деформации.

Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций по картине муаровых полос.

Это достигается тем, что определяют отношение скоростей взаимного перемещения деформированной и эталонной сеток к скорости перемещения муаровой полосы и по величине этого отношения судят о величине деформации.

Согласно способу на эталонную сетку с шагом Кэ накладывается деформированная сетка с шагом Яд или ее копия. Деформированная

сетка сдвигается с фиксированной скоростью Кд относительно неподвижной эталонной сетки в направлении, перпендикулярном линиям последней. Скорость перемещения муаровых полос при этом, определяемая выражением

УД.ХЭ

V -

существенно зависит от деформированного состояния конструкции.

Отношение мгновенных скоростей перемещения деформированной сетки и муаровой полосы является относительной линейной деформацией в точке, где муаровая полоса имеет данную мгновенную скорость.

Предмет изобретения

Способ определения деформаций по картине муаровых полос, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения деформаций, определяют отношение скоростей взаимного перемещения деформированной и эталонной сеток к скорости перемещения муаровой полосы и по величине этого отношения судят о величине деформаций.