Способ определения деформаций объекта Советский патент 1980 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к механике деформируемых сред и-может быть использо вано для определения деформированного состояния тел.

Известен способ определения деформаций, заключающийся в том, что на исследуемый объект наносят нерегулярный растр, фотографируют растр до и после деформации объекта, совмещают изображения растра, перемещают их один относительно другого и определяют деформацию по отношению величин перемещений изображений растра деформируемого объекта ,и муарового пятна 1.

Недостатком известного способа является невысокая точность измерения деформаций, вызванная дискретностью перемещений изображений растра одного относительно другого.

Известен также спо.соб определения деформаций объекта, за.ключающийся в том, что на поверхность исследуемого объекта ,нанОСят эталонную сетку в виде регулярного растра, фиксируют изображение сетки до и после деформации объекта, совмещают их, поворачлваютодно изображение относительно другого и по полученной картине определяют деформации 2.

Недостатком известного способа является то, что он не позволяет определить все

компоненты дефррмированного состояния, так как полученная в результате наложения изображений сетки муаровая, картина характериз ет деформацию сдвига (картину изогир). Это приводит к снижению точности определения деформаций.

Целью изобретения является повыщение точности.

Для этого .в качестве эталонной сетки

10 1спользуют нерегулярный растр, совмещают изображения растра до получения муарового пятна ri поворач -иваютих вокруг центра муарового пятна до появления муаровой полосы.

Способ осуществляется следующими об15разом.

На объект наносят эталонную сетку в виде нерегулярного растра. Фотографируют изображение сетки до и после деформации 20 объекта в одинаковом масштабе. Для усиления муарового эффекта негатив одной из сеток превращают в позитив того же масштаба И совмещают негатив одной сетки с позитивом другой. Сдвигая растровые сет25 ки одна относительно другой, помещают муаровое пятно в исследуемую точку поверхности. Поворачивая одну из растровых сеток вокруг центра муарового пятна, переводят пятно в муаровую полосу. Затем 30 осуществляют дальнейший поворот до получения второй муаровой полосы. Помещая исходное муаровое пятно поочередно в разные точки поверхности, получают се,тку муаровых полос, являющихся линиями скольжения. Линии скольжения имеют свойство сохранения длины выделенного на ней отрезка при деформировании тела. С другой стороны, вдоль муаровой полосы сохраняется постоянными расстояния между точками, образующими растр. Одинаковость свойств, которыми обладают линии скольжения и муаровые полосы, позволяет заключ.ить, что наблюдаемые муаровые полосы и есть линии скольжения в деформируемом теле. Затем с использованием известных зависимостей по картине линий скольжения определяют деформации.

Предлагаемый способ определения деформаций позволяет получить опытным путем сетку линий скольжения в любых деформируемых телах. Эта сетка характеризует непрерывнее по всем направлениям распределение деформаций в теле и дает возможность определить не усредненные, а точные, величины любых деформаций во всех точках тела. Причем для этого не требуется измерять перемещение муарового

пятна, тем самы,м повышается точность определения деформаций.

Формула изобретения

Способ определения деформаций объекта, заключающийся в том, что на поверхность исследуемого объекта наносят эталонную сетку, фиксируют изображение сетки до « после деформации объекта, совмещают их, поворачивают одно изображение относительно другого и по. полученной картине определяют деформации, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности, в качестве эталонной сетки используют нерегулярный растр, совмещают изображения растра до получения муарового пятна и поворачивают их вокруг центра .муарового пятна до появления .муаровой

полосы.

Источники информации,

принятые во внимание при экспер изе:

1.Авторское свидетельство

СССР № 373522, кл. G 01 В 11/16, 1970. .

2.Дюрелли А., Парке В. Анализ деформаций с использованием муара. М,. «Мир, 1974, с. 223 (прототип).