СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЧКИ КЮРИ ФЕРРИТОВ Советский патент 1971 года по МПК G01K7/38 

Настоящее изобретение относится к области температурных исследований и может быть использовано для определения точки Кюри на микрообъемах монокристаллических и поликристаллических ферритов одновременно с измерением параметра кристаллической решетки.

Известно несколько способов определения точки Кюри: по максимуму температурного коэффициента сопротивления, по максимуму отрицательного гальвано-магнитного эффекта, по исчез«овению самопроизвольной намагниченности или путем экстраполяции температурных кривых истинной намагниченности к нулевому их значению, по обращению в нуль начальной проницаемости и т. д.

Основным недостатком всех перечисленных способов следует считать зависимость точности измерений от массы образца (в случае малых образцов). Некоторые из методов измерений не пригодны для определения точки Кюри на образцах произвольной формы.

Для повышения точности определения точки Кюри ферритов на микрообъемах вещества ( сжз) произвольной формы, в том числе и на-пленках, одновременно с измерением параметра кристаллической решетки. Это достигается тем, что снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномальному спаду этой интенсивности определяют искомую точку.

Сущность способа заключается в том, что температурная зависимость интенсивностей дифракционных рентгеновских линий аномально уменьшается вблизи температуры точки Кюри, что обусловлено переходом из ферромагнитного состояния в парамагнитное. Для практических целей определения точки Кюри более приемлемым является построение логарифма относительных интенсивностей

,

рентгеновских линии от температуры /п

/(Г), где /о - интегральная интенсивность рентгеновской дифракционной линии при некоторой температуре Го (например, Го - комнатная температура, 300°К), /т - текущее значение интенсивности. Измерение интегральной интенсивности дифракционной линии с углами Вуньера-Брега в пределах V 45° может быть проведено с помощью стандартных приборов.

Точность определения точки Кюри не хуже ± Р.

На чертеже приведена температурная зависимость логарифма относительной интегральной интенсивности дифракционной линии монокристаллического феррограната Y3Fe4,5Gao,5Oi2. Измерения проводились на

установке УРС-50ИМ в монохроматическом СиКг-излучении с применением в качестве монохроматора кристалла LiF.

Предмет изобретения

Способ определения точки Кюри ферритов, отличающийся тем, что, с целью повышения

точности определения на микрообъемах ферритов произвольной формы, снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномальному опаду этой интенсивности определяют искомую точку.

«,( .ff5.05,1S,2 5,35.f

т°кш

,. 0.50,2