МАГНИТНЫЙ ИНДУКЦИОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП Советский патент 1971 года по МПК G01N27/87 

Из1вест,ны магнитные индукционные дефектоскопы, .содерн ащие корпус, несущий магнит и датчик, передвИгающийся вдоль конт1ролируемого изделия. Предлагаемый дефектоскоп отличается or известных тем, что его магнит укреплен на оси перпендикулярной к плоскости движения корпуса € возможностью поворота относительно нее. Это создает возможность регулировки чувствительности и упрощения настройки дефектоскопа. На фиг. 1 изображен описываемый дефектоскоп, в пла:не; на фиг. 2 - разрез по Л-А на фиг. 1. Дефектоскоп содержит кррпус Л несущий магн.ит 2 и датчик. Последний выполнен в виде ферритового кольца 3 с тороидальной обмоткой 4. МагБит 2 укреплен яа оси 5, перпендикулярной к плоскости движения корпуса с возможностью поворота относительно нее. Работает дефектоскоп следующим образом; Контроль производится, например, в процессе вращения нзме1ряемой детали с дефектоскопом, устанавливаемым на небольщом расстоянии от контролируемой поверхности. Намагничивание детали 6 и настройку дефектоскопа «а максимальную чувствительность производят поворотом магнита 2. При прохождении дефекта под датчиком в последнем naiBOдится импзльс электродвижущей силы, который ф1жсируется осциллографом, подключенным к дефектоскопу. Предмет изобретения Магнитный индукциоиный дефектоскоп, содержащий корпус, несущий магнит и датчик, пе;редвигающийся вдоль конт1ролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью регулировки чувствительности и упрощения настройки дефектоскопа, его MarHiHT укреплен на оси, пер пендикулярной к плоскости движения корпуса с возможностью поворота относительно нее.