Известны источники ионов с новерхеостной ионизаЩией, в которых ионизатор выполнен в виде цилиндрической пробки из тугоплавкого металла, имеется ионно-оптическая система для вытяги1вания ионов и испаритель пробы Из пористой вольфрамовой губки-тигель с независимым подо превом. При массспе.ктрометришеском анализе важио иметь высокий коэффициент использования вещества про.бы. В известных устроЙ1ствах нерегулируемое тепловое воздействие ионизатора на испаритель не позволяет эффекти(вно ионизовать летучие вещества и затрудняет регулирование скорости испарения пробы.
Цель изо1бретения - улучшение регулирования подачи вещества в ионный источник.
Для этого в предлагаемом источнике ионов испаритель, закрепленный на механизме перемещения посредством вольфрамового стержня, расположен внутри нрямоканального конусного ионизатора. Механизм перемещения выполнен в виде биметаллической пластины.
Поскольку нагрев ионизатора в нредлагаемо м 1ИСточнике неравномерный, то, вдвигая IB него испаритель, удается сравнительно просто регулировать скорость испарения и увеличить эффективность использования вещества пробы.
На чертеже изображен предлагаемый источник.
Он состоит из ионизатора, выполненного из тугоплавкой металлической фольги в форме конуса / с крышкой 2. Испаритель представляет собой вольфрамовый стержень 3 с ограничивающей щайбой 4 и с напеченной на конце стержня вольфрамовой губкой 5, пропитанной веществом пробы. Испаритель крепится на механизме перемещения 6. Ионно-оптическая система 7 служит для вытягивания ионов.
iB процессе работы ионизатор нагревается электрическим током. Вдоль него устанавливается градиент температуры: температура увеличивается к узкому концу. При перемещении испарителя в этом направлении возрастает скорость испарения вещества пробы. Часть испаривщихся атомов ионизуется за счет многокфатны-х соударений с внутренней поверхностью раскаленного ионизатора и вытягивается в сторону ионйо-оптической системы. Дополнительный подогрев испарителя обеспечивается электронной эмиссией при нэдаче на него положительного потенциала по отношению к ионизатору. Перемещение испарителя осуществляют механическим путем, либо регулируя ток, нагревающий биметаллическую пластину, «а которой укреплён испаритель.
Потери нейтральных ,атомов в предлагае;мо 1 источнике происходят лишь через открытый конец ионизатора. Нагрев испарителя за очет ионизатора позволяет экономить элокироэиергию, упрощает эксплуатацию устройства, а удобство регулирования скорости испарения в широком диа1па13.оне позволяет использовать источник ионов для аиализа широкого J лacca ве|Щ.еств.
Предмет из о,б р е тени я
. РГСТОЧ.НИК ионов ПОВер:ХНОСТНОЙ ИОНИзациеи, содержащий ионизатор, испарительпробы из пористой воль(фрамо,вой губки, ионно-оптиЧескую систему и механизм перемещения пробы, отличающийся тем, что, с целью улучшения регулирования лодачи вещества пробы, .ионизатор IB нем выполнен «оничеоким, а испаритель вытолнен из вольфрамового стержля и закреплен на мехаиизме перемещения внутри ионизатора.
2. Источ1ни,к по л. 1, отличающийся тем,. что механизм перемещения испарителя выполнен в виде биметаллической пластины.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Источник радиоактивных ионов | 1982 |
|
SU1091748A1 |
ИСТОЧНИК ИОНОВ с ПОВЕРХНОСТНОЙ ИОНИЗАЦИЕЙ | 1969 |
|
SU243251A1 |
СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВА И УСТРОЙСТВО, ЕГО РЕАЛИЗУЮЩЕЕ | 2007 |
|
RU2370755C2 |
Устройство для облучения радиоактивными ионами | 1982 |
|
SU1086969A1 |
СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗОТОПНОГО АНАЛИЗА | 1991 |
|
RU2047245C1 |
УСТАНОВКА ВАКУУМНОГО НАПЫЛЕНИЯ | 2011 |
|
RU2473147C1 |
Ионный источник масс-спектрометра | 1981 |
|
SU965225A1 |
СОРБЦИОННО-ИОННЫЙ ВАКУУМНЫЙ НАСОС | 1968 |
|
SU206795A1 |
ПОВЕРХНОСТНОЙ ИОНИЗАЦИЕЙ | 1971 |
|
SU321879A1 |
Источник оинов | 1976 |
|
SU619049A1 |
Авторы
Даты
1972-01-01—Публикация