1
Известен способ onf.гделения адгезии электропроводяп1еп пленки к диэлектрическоГ; под,1ожке, путем размещения с нротицоположной стороны диэлектрической подложки электрода и пропускания электрического тока.
Цель изобретения - получение количественной п объективной информапии о качестве адгезии покрытия.
Достигается это тем, что между электропроводящим покрытием п электродом прикладывают переменное электрическое напряжение, повышая его амплитуду от нуля до напряжения начала ионизании, по величине которого судят о степени адгезии.
Супхность изобретения заключается в том. что между проводящим покрытием, нанесенным на подложку и используемым в данном случае в качестве электрода, и контрольным электродом, размещаемым с противоположной стороны диэлектрической подложки, прикладывается переменное напряжение. Амплитуда этого напряжения повыщается от нуля до значения, при котором в образце возникает ионизация. Регистрируемое значение напряжения начала ионизации сопоставляется со значениями этого напряжения, полученными в аналогичных условиях измерения для образцов с известной величиной адгезии. Необходимым условием осуществлеиия метода является гарантия отсутствия 1юнизацип между подложкой и контрольным электродом.
2
Способ основывается на различии электрических свойств диэлектрической подложки и переходного слоя, образующегося между подложкой и проводящим покрытием. Низкая адгезия наблюдается вследствие неоднородности переходного слоя за счет присутствия в нем остаточных газов, окислов и других загрязнений. Это приводит к неоднородности электрического поля, еслп к переходному слою будет приложено напряжение.
Исследования, проведенные на образцах ситалла с напыленными на них металлическими покрытиями показалп. что при прикладыванпп соответствующего переменного напряжения в переходном слое возн1п ают ионизационные процессы. При этом величина напряжения начала ионизации зависит от степени неоднородности переходного слоя и, следовательно. от качества адгезии.
Способ реализуется с помощью зстройства, в основу которого положена обычная схема измерения ионнзации (например ГОСТ 6580-63).
Супдность изобретенпя поясняется чертежом.
По схеме испытуемая система (ИС) и последовательно соединенный с ней измеритель ионизации (ИИ) подключается к источнпку
питания (ИП). Испытуемая система состоит из проводяп1его покрытия /, иереходного слоя
2, подложки 3 п контрольного электрода 4. В качестве последнего можно использовать электролит, смачивающий нодложку (например, раствор NaCl в воде) аквадаг или амольгаму (например, 1пС02).
Способ осуществляется следующим образом.
На испытуемую систему от источника питания подается напряжение, величина которого в течение 3-5 сек изменяется от нуля до значения, при котором в системе возникает ионизация, регистрируемая измерителем ионизации. Величина напряжения начала ионизации характеризует качество адгезии.
Предмет изобретения Способ определения адгезии электропроводящей пленки к диэлектрической подложке, путем размещения с противоположной стороны диэлектрической подложки электрода и пропускания электрического тока, отличающийся тем, что, с целью получения количественной и объективной информации о качестве адгезии покрытия, между электропроводящим покрытием и электродом прикладывают переменное электрическое напряжение, повышая его амплитуду от нуля до напряжения начала ионизации, по величине которого судят о степени адгезии.

| название | год | авторы | номер документа | 
|---|---|---|---|
| Устройство для определения реологических свойств материалов | 1983 | 
 | SU1229646A1 | 
| ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИЙ АДГЕЗИВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОХРОМНЫХ УСТРОЙСТВ | 2013 | 
 | RU2524963C1 | 
| СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПРОВОДЯЩЕЙ ЛЕГИРОВАННОЙ АЛМАЗОПОДОБНОЙ НАНОКОМПОЗИТНОЙ ПЛЕНКИ И ПРОВОДЯЩАЯ ЛЕГИРОВАННАЯ АЛМАЗОПОДОБНАЯ НАНОКОМПОЗИТНАЯ ПЛЕНКА | 2000 | 
 | RU2186152C2 | 
| СОСТАВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ И СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТВЕРДЫХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ | 2011 | 
 | RU2460750C1 | 
| СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ ПОКРЫТИЙ В ВАКУУМЕ НА ИЗДЕЛИЯ ИЗ ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ И ДИЭЛЕКТРИКОВ | 2009 | 
 | RU2409703C1 | 
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ СИНТЕЗА НАНОСТРУКТУРНЫХ ПОКРЫТИЙ | 2014 | 
 | RU2583378C1 | 
| ПРОВОДЯЩИЕ СТРУКТУРЫ | 2000 | 
 | RU2251754C2 | 
| СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ОКИСНЫХ ПЛЕНОК | 1991 | 
 | RU2110604C1 | 
| ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ПРИБОР | 1991 | 
 | RU2103762C1 | 
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ЛЕГКОВОСПЛАМЕНЯЮЩИХСЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ К РАЗРЯДАМ СТАТИЧЕСКОГО ЭЛЕКТРИЧЕСТВА | 1992 | 
 | RU2038587C1 | 
 
		
         
         
             
            
МП
J
Даты
1973-01-01—Публикация